Некоторое содержание этого приложения в настоящий момент недоступно.
Если эта ситуация сохраняется, свяжитесь с нами по адресуОтзывы и контакты
1. (WO2019061815) ARRAY SUBSTRATE AND TEST STRUCTURE FOR THE ARRAY SUBSTRATE
Новейшие библиограф. данные, касающиеся досье в Международном бюроОтправить комментарий

№ публикации: WO/2019/061815 № международной заявки: PCT/CN2017/114601
Дата публикации: 04.04.2019 Дата международной подачи: 05.12.2017
МПК:
G02F 1/13 (2006.01)
G ФИЗИКА
02
Оптика
F
Приборы или устройства для управления интенсивностью, цветом, фазой, поляризацией или направлением света, оптические функции которых изменяются при изменении оптических свойств среды в этих приборах или устройствах например для переключения, стробирования, модуляции или демодуляции; оборудование или технологические процессы для этих целей; преобразование частоты; нелинейная оптика; оптические логические элементы; оптические аналого-цифровые преобразователи
1
Устройства или приспособления для управления интенсивностью, цветом, фазой, поляризацией или направлением света, исходящего от независимого источника, например для переключения, стробирования или модуляции; нелинейная оптика
01
для регулирования интенсивности, фазы, поляризации или цвета
13
основанные на жидких кристаллах, например элементы индикации на жидких монокристаллах
Заявители:
武汉华星光电技术有限公司 WUHAN CHINA STAR OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD [CN/CN]; 中国湖北省武汉市 武汉东湖开发区高新大道666号生物城C5栋 Building C5, Biolake of Optics Valley No. 666 Gaoxin Avenue Wuhan East Lake High-tech Development Zone Wuhan, Hubei 430070, CN
Изобретатели:
黄耀立 HUANG, Yao-Li; CN
贺兴龙 HE, Xinglong; CN
Агент:
广州三环专利商标代理有限公司 SCIHEAD IP LAW FIRM; 中国广东省广州市 越秀区先烈中路80号汇华商贸大厦1508室 Room 1508, Huihua Commercial & Trade Building No. 80, XianLie Zhong Road, Yuexiu District Guangzhou, Guangdong 510070, CN
Дата приоритета:
201710879966.026.09.2017CN
Название (EN) ARRAY SUBSTRATE AND TEST STRUCTURE FOR THE ARRAY SUBSTRATE
(FR) SUBSTRAT MATRICIEL ET STRUCTURE D'ESSAI POUR LE SUBSTRAT MATRICIEL
(ZH) 阵列基板及阵列基板测试结构
Реферат:
(EN) An array substrate (10). The array substrate (10) comprises a display area (100), and a non-display area (200). A plurality of test signal receiving pins (230), a plurality of press-fitting pins (240) and a plurality of transmission lines (220) are provided in the non-display area (200); and the test signal receiving pins (230) and the press-fitting pins (240) are arranged into one row. The array substrate reduces the width of the non-display area (200) of an electronic device and the design of a narrow frame of the electronic device is facilitated.
(FR) L'invention concerne un substrat matriciel (10). Le substrat matriciel (10) comprend une zone d'affichage (100) et une zone de non-affichage (200). Une pluralité de broches de réception de signal d'essai (230), une pluralité de broches d'ajustement par pression (240) et une pluralité de lignes de transmission (220) sont disposées dans la zone de non-affichage (200); et les broches de réception de signal d'essai (230) et les broches d'ajustement par pression (240) sont agencées en une rangée. Le substrat matriciel réduit la largeur de la zone de non-affichage (200) d'un dispositif électronique et la conception d'un cadre étroit du dispositif électronique est facilitée.
(ZH) 一种阵列基板(10),所述阵列基板(10)包括显示区(100)及非显示区(200),非显示区(200)设置有多个测试信号接收引脚(230)、多个压合引脚(240)以及多个传输线(220),测试信号接收引脚(230)与压合引脚(240)排列成一排。该阵列基板降低了电子装置非显示区(200)的宽度,便于电子装置的窄边框设计。
front page image
Указанные государства: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Африканская региональная организация промышленной собственности (АРОПС) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Евразийское патентное ведомство (ЕАПВ) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Европейское патентное ведомство (ЕПВ) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Африканская организация интеллектуальной собственности (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Язык публикации: Китайский (ZH)
Язык подачи: Китайский (ZH)