Некоторое содержание этого приложения в настоящий момент недоступно.
Если эта ситуация сохраняется, свяжитесь с нами по адресуОтзывы и контакты
1. (WO2019045027) NONDESTRUCTIVE TEST METHOD AND NONDESTRUCTIVE TEST INSTRUMENT
Новейшие библиограф. данные, касающиеся досье в Международном бюро    Отправить комментарий

№ публикации: WO/2019/045027 № международной заявки: PCT/JP2018/032282
Дата публикации: 07.03.2019 Дата международной подачи: 31.08.2018
МПК:
G01N 27/82 (2006.01) ,G01R 33/02 (2006.01) ,G01R 33/10 (2006.01) ,H01M 10/42 (2006.01) ,H01M 10/48 (2006.01)
G ФИЗИКА
01
Измерение; испытание
N
Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств
27
Исследование или анализ материалов с помощью электрических, электрохимических или магнитных средств
72
путем исследования магнитных параметров
82
обнаружение локальных дефектов
G ФИЗИКА
01
Измерение; испытание
R
Измерение электрических и магнитных величин
33
Устройства для измерения переменных магнитных величин
02
измерение направления или напряженности магнитных полей или магнитных потоков
G ФИЗИКА
01
Измерение; испытание
R
Измерение электрических и магнитных величин
33
Устройства для измерения переменных магнитных величин
02
измерение направления или напряженности магнитных полей или магнитных потоков
10
путем построения диаграммы распределения поля
H ЭЛЕКТРИЧЕСТВО
01
Основные элементы электрического оборудования
M
Способы и устройства, например батареи, для непосредственного преобразования химической энергии в электрическую
10
Вторичные элементы; их изготовление
42
способы и устройства для обслуживания и поддержания в рабочем состоянии вторичных элементов или вторичных полуэлементов
H ЭЛЕКТРИЧЕСТВО
01
Основные элементы электрического оборудования
M
Способы и устройства, например батареи, для непосредственного преобразования химической энергии в электрическую
10
Вторичные элементы; их изготовление
42
способы и устройства для обслуживания и поддержания в рабочем состоянии вторичных элементов или вторичных полуэлементов
48
аккумуляторы, комбинированные с устройствами для измерения, испытания или индикации, например для индикации уровня или плотности электролита
Заявители:
コニカミノルタ株式会社 KONICA MINOLTA, INC. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内二丁目7番2号 2-7-2, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo 1007015, JP
Изобретатели:
関根 孝二郎 SEKINE, Koujirou; JP
今田 昌宏 IMADA, Masahiro; JP
八木 司 YAGI, Tsukasa; JP
土田 匡章 TSUCHIDA, Masaaki; JP
波多野 卓史 HATANO, Takuji; JP
Агент:
特許業務法人光陽国際特許事務所 KOYO INTERNATIONAL PATENT FIRM; 東京都千代田区有楽町一丁目1番3号 東京宝塚ビル17階 17F., Tokyo Takarazuka Bldg., 1-1-3, Yurakucho, Chiyoda-ku, Tokyo 1000006, JP
Дата приоритета:
2017-16816801.09.2017JP
Название (EN) NONDESTRUCTIVE TEST METHOD AND NONDESTRUCTIVE TEST INSTRUMENT
(FR) PROCÉDÉ DE TEST NON DESTRUCTIF ET INSTRUMENT DE TEST NON DESTRUCTIF
(JA) 非破壊検査方法及び非破壊検査装置
Реферат:
(EN) According to the present invention, when the site of an abnormality in a sample is detected by measuring a magnetic field distribution generated by the flow of a current through the sample, even when there is movement of the same sample between one measurement of the sample and another measurement performed after time has passed, the positions of the magnetic field distribution respectively obtained through the two measurements are adjusted. In this nondestructive test method: magnetic marks 15a, 15b, 15c are formed on one sample 1; one measurement, and another measurement performed after time has passed, are subsequently performed on the one sample; a magnetic field distribution for the one sample that includes a magnetic field generated by the magnetic marks in the one measurement is measured; a magnetic field distribution for the one sample that includes a magnetic field generated by the magnetic marks in the other measurement is measured; and the coordinates of the magnetic field distribution for the one sample acquired in the one measurement and the coordinates of the magnetic field distribution for the one sample acquired in the other measurement are caused to conform to magnetic field detection coordinates of the magnetic marks.
(FR) Selon la présente invention, lorsque le site d'une anomalie dans un échantillon est détecté par mesure d'une distribution de champ magnétique générée par la circulation d'un courant à travers l'échantillon, même lorsqu'il y a un mouvement de cet échantillon entre une mesure de l'échantillon et une autre mesure effectuée après écoulement d'un laps de temps, les positions de la distribution de champ magnétique obtenues respectivement par les deux mesures sont ajustées. L'invention concerne un procédé de test non destructif dans lequel des marques magnétiques 15a, 15b, 15c sont formées sur un échantillon 1 ; une mesure, et une autre mesure effectuée après écoulement d'un laps de temps, sont ensuite effectuées sur l'échantillon ; une distribution de champ magnétique pour l'échantillon qui comprend un champ magnétique généré par les marques magnétiques dans la première mesure est mesurée ; une distribution de champ magnétique pour l'échantillon qui comprend un champ magnétique généré par les marques magnétiques dans l'autre mesure est mesurée ; et les coordonnées de la distribution de champ magnétique pour l'échantillon acquises dans la première mesure et les coordonnées de la distribution de champ magnétique pour l'échantillon acquises dans l'autre mesure sont amenées à se conformer aux coordonnées de détection de champ magnétique des marques magnétiques.
(JA) 試料に電流を流して発生する磁場分布を測定して試料の異常箇所を検出するにあたり、同一試料についての一の測定と時間経過した後の他の測定との間に同試料の移動があっても、両測定によりそれぞれ得られた磁場分布の位置を整合させる。一の試料1に磁性マーク15a,15b,15cを形成した後、前記一の試料について一の測定と時間経過した後の他の測定とを行い、前記一の測定において前記磁性マークから発生する磁場を含む前記一の試料の磁場分布を測定し、前記他の測定において前記磁性マークから発生する磁場を含む前記一の試料の磁場分布を測定し、前記一の測定により取得した前記一の試料の磁場分布の座標と、前記他の測定により取得した前記一の試料の磁場分布の座標とを、前記磁性マークの磁場検出座標を一致させることにより対応させる。
front page image
Указанные государства: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Африканская региональная организация промышленной собственности (АРОПС) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Евразийская патентная организация (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Европейское патентное ведомство (ЕПВ) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Африканская организация интеллектуальной собственности (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Язык публикации: Японский (JA)
Язык подачи: Японский (JA)