Некоторое содержание этого приложения в настоящий момент недоступно.
Если эта ситуация сохраняется, свяжитесь с нами по адресуОтзывы и контакты
1. (WO2019031125) X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS MEASUREMENT METHOD AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS MEASUREMENT DEVICE
Новейшие библиограф. данные, касающиеся досье в Международном бюроОтправить комментарий

№ публикации: WO/2019/031125 № международной заявки: PCT/JP2018/025552
Дата публикации: 14.02.2019 Дата международной подачи: 05.07.2018
МПК:
G01N 23/223 (2006.01)
G ФИЗИКА
01
Измерение; испытание
N
Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств
23
Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе или , например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения
22
измерением вторичной эмиссии
223
облучением образца рентгеновскими лучами и измерением рентгенофлуоресценции
Заявители:
上村工業株式会社 C. UYEMURA & CO., LTD. [JP/JP]; 大阪府大阪市中央区道修町三丁目2番6号 2-6, Dosho-machi 3-chome, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5410045, JP
Изобретатели:
石丸 真次 ISHIMARU Shinji; JP
Агент:
小池 晃 KOIKE Akira; JP
河野 貴明 KONO Takaaki; JP
村上 浩之 MURAKAMI Hiroyuki; JP
北原 明彦 KITAHARA Akihiko; JP
Дата приоритета:
2017-15251707.08.2017JP
Название (EN) X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS MEASUREMENT METHOD AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS MEASUREMENT DEVICE
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE D'ANALYSE PAR FLUORESCENCE X ET DISPOSITIF DE MESURE D'ANALYSE PAR FLUORESCENCE X
(JA) 蛍光X線分析の測定方法及び蛍光X線分析の測定装置
Реферат:
(EN) The purpose of the present invention is to provide a measurement method and measurement device that make it possible to accurately measure the concentrations of various metals included in a liquid to be measured that includes a plurality of additives and metals. This X-ray fluorescence analysis measurement method employs measured X-ray fluorescence intensity values to measure the metal concentration of each metal to be measured included in a liquid to be measured that includes one or more types of additives and metals. This X-ray fluorescence analysis measurement method comprises: a calibration-curve-polynomial determination step S11 for determining polynomial approximations of calibration curves for the metals to be measured, a liquid-type-correction-polynomial determination step S12 for determining polynomial approximations for correcting error in the measured X-ray fluorescence intensity values for the metals to be measured resulting from additive inclusion, a specific-gravity-correction-polynomial determination step S13 for determining polynomial approximations for correcting error in the measured X-ray fluorescence intensity values for the metals to be measured resulting from differences in specific gravity of the liquid to be measured, and a metal concentration measurement step S14 for using the polynomial approximations determined in the calibration-curve-polynomial determination step, liquid-type-correction-polynomial determination step, and specific-gravity-correction-polynomial determination step to measure the metal concentrations of the metals to be measured.
(FR) La présente invention vise à fournir un procédé de mesure et un dispositif de mesure qui permettent de mesurer précisément les concentrations de divers métaux inclus dans un liquide à mesurer qui comprend une pluralité d'additifs et de métaux. Ce procédé de mesure d'analyse de fluorescence X utilise des valeurs d'intensité de fluorescence X mesurées pour mesurer la concentration métallique de chaque métal à mesurer inclus dans un liquide à mesurer qui comprend un ou plusieurs types d'additifs et de métaux. Ce procédé de mesure d'analyse de fluorescence X comprend : une étape de détermination polynomiale de courbe d'étalonnage S11 pour déterminer des approximations polynomiales de courbes d'étalonnage pour les métaux à mesurer, une étape de détermination polynomiale de correction de type de liquide S12 pour déterminer des approximations polynomiales pour corriger une erreur dans les valeurs d'intensité de fluorescence X mesurées pour les métaux à mesurer résultant d'une inclusion d'additif, une étape de détermination polynomiale de correction de gravité spécifique S13 pour déterminer des approximations polynomiales pour corriger une erreur dans les valeurs d'intensité de fluorescence X mesurées pour les métaux à mesurer résultant de différences de gravité spécifique du liquide à mesurer, et une étape de mesure de concentration de métal S14 pour utiliser les approximations polynomiales déterminées dans l'étape de détermination polynomiale de courbe d'étalonnage, l'étape de détermination polynomiale de correction de type de liquide, et l'étape de détermination polynomiale de correction de gravité spécifique pour mesurer les concentrations de métal des métaux à mesurer.
(JA) 複数の添加剤と金属を含有する被測定液に含まれる各種金属濃度を精度良く測定できる測定方法及び測定装置を提供することを目的とする。 1種類以上の添加剤と金属を含有する被測定液に含まれる測定対象金属の各種金属濃度を蛍光X線強度測定値に基づいて測定する蛍光X線分析の測定方法であって、測定対象金属の検量線の多項式近似式を決定する検量線多項式決定工程S11と、測定対象金属の蛍光X線強度測定値に対して、添加剤を含有することによる測定値の誤差を補正するための多項式近似式を決定する液種補正多項式決定工程S12と、測定対象金属の蛍光X線強度測定値に対して、被測定液の比重の違いによる測定値の誤差を補正するための多項式近似式を決定する比重補正多項式決定工程S13と、検量線多項式決定工程、液種補正多項式決定工程及び比重補正多項式決定工程により決定した多項式近似式を用いて測定対象金属の各種金属濃度を測定する金属濃度測定工程S14を有する。
front page image
Указанные государства: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Африканская региональная организация промышленной собственности (АРОПС) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Евразийское патентное ведомство (ЕАПВ) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Европейское патентное ведомство (ЕПВ) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Африканская организация интеллектуальной собственности (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Язык публикации: Японский (JA)
Язык подачи: Японский (JA)