Поиск по международным и национальным патентным фондам
Некоторое содержание этого приложения в настоящий момент недоступно.
Если эта ситуация сохраняется, свяжитесь с нами по адресуОтзывы и контакты
1. (WO2018193572) SPECTROPHOTOMETER
Новейшие библиограф. данные, касающиеся досье в Международном бюро

№ публикации: WO/2018/193572 № международной заявки: PCT/JP2017/015859
Дата публикации: 25.10.2018 Дата международной подачи: 20.04.2017
МПК:
G01J 3/36 (2006.01) ,G01N 21/17 (2006.01) ,G01N 21/27 (2006.01)
G ФИЗИКА
01
Измерение; испытание
J
Измерение интенсивности, скорости или спектрального состава, поляризации, фазы или импульсных характеристик инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей; колориметрия; радиационная пирометрия
3
Спектрометрия; спектрофотометрия; монохроматоры; измерение цвета
28
исследование спектра
30
путем измерения интенсивности спектральных линий непосредственно в самом спектре
36
исследование двух и более спектральных полос с помощью отдельных детекторов излучений
G ФИЗИКА
01
Измерение; испытание
N
Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств
21
Исследование или анализ материалов с помощью оптических средств, т.е. с использованием инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей
17
системы, в которых на падающий свет влияют свойства исследуемого материала
G ФИЗИКА
01
Измерение; испытание
N
Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств
21
Исследование или анализ материалов с помощью оптических средств, т.е. с использованием инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей
17
системы, в которых на падающий свет влияют свойства исследуемого материала
25
цвет; спектральные свойства, т.е. сравнение воздействия материала на свет двух или более различных длин волн или в двух или более полосах спектра
27
с помощью фотоэлектрических средств обнаружения
Заявители:
株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 1, Nishinokyo-kuwabaracho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511, JP
Изобретатели:
渡邉 真人 WATANABE Masato; JP
軍司 昌秀 GUNJI Masahide; JP
Агент:
野口 大輔 NOGUCHI Daisuke; JP
Дата приоритета:
Название (EN) SPECTROPHOTOMETER
(FR) SPECTROPHOTOMÈTRE
(JA) 分光光度計
Реферат:
(EN) In this spectrophotometer, the positional relation between a spectroscope and a PDA is set such that the distance between a reflection position of light reflected onto a light-receiving surface of a PD, among PDs constituting the PDA, that receives light at least having a wavelength between 200 nm and 300 nm and an incident position at which the reflected light enters a light-receiving surface of said PDA after being reflected once again on a protective plate becomes equal to or less than the width dimension of one of the PDs constituting the PDA.
(FR) L'invention concerne un spectrophotomètre dans lequel la relation de position entre un spectroscope et un PDA est réglée de telle sorte que la distance entre une position de réflexion de la lumière réfléchie sur une surface de réception de lumière d'une PD, parmi des PD constituant le PDA, qui reçoit de la lumière présentant au moins une longueur d'onde comprise entre 200 nm et 300 nm et une position incidente au niveau de laquelle la lumière réfléchie entre dans une surface de réception de lumière dudit PDA après avoir été réfléchie une nouvelle fois sur une plaque de protection devienne inférieure ou égale à la dimension de largeur de l'une des PD constituant le PDA.
(JA) 分光光度計は、PDAを構成するPDのうち、少なくとも200nmから300nmまでの間の波長をもつ光を受光するPDの受光面で反射した光の反射位置と、その反射光が保護板で再び反射して当該PDAの受光面へ入射するときのその入射位置との間の距離が、当該PDAを構成する1つのPDの幅寸法以下となるように、分光器とPDAとの位置関係が設定されている。
front page image
Указанные государства: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Африканская региональная организация промышленной собственности (АРОПС) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Евразийское патентное ведомство (ЕАПВ) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Европейское патентное ведомство (ЕПВ) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Африканская организация интеллектуальной собственности (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Язык публикации: Японский (JA)
Язык подачи: Японский (JA)