WIPO logo
Мобильная версия | Deutsch | English | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Поиск по международным и национальным патентным фондам
World Intellectual Property Organization
Настройки
Язык запроса
Основа слова
Сортировать по:
Длина списка
Некоторое содержание этого приложения в настоящий момент недоступно.
Если эта ситуация сохраняется, свяжитесь с нами по адресуОтзывы и контакты
1. (WO2018030438) CONDUCTION INSPECTION DEVICE MEMBER AND CONDUCTION INSPECTION DEVICE
Новейшие библиограф. данные, касающиеся досье в Международном бюро    Отправить комментарий

№ публикации: WO/2018/030438 № международной заявки: PCT/JP2017/028842
Дата публикации: 15.02.2018 Дата международной подачи: 08.08.2017
МПК:
G01R 1/06 (2006.01) ,G01R 1/073 (2006.01) ,G01R 31/02 (2006.01) ,G01R 31/26 (2014.01) ,G01R 31/28 (2006.01) ,H01L 21/66 (2006.01)
G ФИЗИКА
01
Измерение; испытание
R
Измерение электрических и магнитных величин
1
Элементы всех типов инструментов или устройств, отнесенных к группам или
02
основные элементы конструкции
06
провода к измерительным приборам; измерительные зонды
G ФИЗИКА
01
Измерение; испытание
R
Измерение электрических и магнитных величин
1
Элементы всех типов инструментов или устройств, отнесенных к группам или
02
основные элементы конструкции
06
провода к измерительным приборам; измерительные зонды
067
измерительные зонды
073
несколько измерительных зондов
G ФИЗИКА
01
Измерение; испытание
R
Измерение электрических и магнитных величин
31
Устройства для определения электрических свойств; устройства для определения местоположения электрических повреждений; устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах
02
испытание электрической аппаратуры, линий и элементов на короткое замыкание, обрыв, утечку или неправильное соединение
G ФИЗИКА
01
Измерение; испытание
R
Измерение электрических и магнитных величин
31
Устройства для определения электрических свойств; устройства для определения местоположения электрических повреждений; устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах
26
испытание отдельных полупроводниковых приборов
G ФИЗИКА
01
Измерение; испытание
R
Измерение электрических и магнитных величин
31
Устройства для определения электрических свойств; устройства для определения местоположения электрических повреждений; устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах
28
испытание электронных схем, например с помощью прибора для каскадной проверки прохождения сигнала
H ЭЛЕКТРИЧЕСТВО
01
Основные элементы электрического оборудования
L
Полупроводниковые приборы; электрические приборы на твердом теле, не отнесенные к другим классам или подклассам
21
Способы и устройства, специально предназначенные для изготовления или обработки полупроводниковых приборов или приборов на твердом теле или их частей
66
испытания или измерения в процессе изготовления или обработки
Заявители: SEKISUI CHEMICAL CO., LTD.[JP/JP]; 4-4, Nishitemma 2-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5308565, JP
Изобретатели: SASADAIRA, Masao; JP
WANG, Xiaoge; JP
Агент: SAEGUSA & PARTNERS; Kitahama TNK Building, 1-7-1, Doshomachi, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5410045, JP
Дата приоритета:
2016-15571808.08.2016JP
Название (EN) CONDUCTION INSPECTION DEVICE MEMBER AND CONDUCTION INSPECTION DEVICE
(FR) ÉLÉMENT POUR DISPOSITIF D'INSPECTION DE CONDUCTION ET DISPOSITIF D'INSPECTION DE CONDUCTION
(JA) 導通検査装置用部材及び導通検査装置
Реферат:
(EN) Provided is a conduction inspection device member: that has conductive parts that do not readily crack or develop voids; that does not readily experience impairment of conductive performance, even after repeated conduction inspections; and that is not readily left with contact marks at a portion thereof that contacts inspected members. Also provided is a conduction inspection device that comprises the conduction inspection device member. A conduction inspection device member that comprises a substrate 13, through holes 11, and conductive parts 12. The through holes 11 are arranged in the substrate 13, and the conductive parts 12 are housed inside the through holes 11. The conductive parts 12 include conductive particles 2. The conductive particles 2 comprise a substrate particle 21 and a conductive layer 22 that is arranged upon the surface of the substrate particle 21. The conductive layer 22 has protrusions 23 on the outer surface thereof.
(FR) L'invention porte sur un élément pour dispositif d'inspection de conduction : qui possède des parties conductrices qui ne se fissurent pas facilement ou ne développent pas facilement d'espaces vides ; qui ne subit pas facilement de dégradation des performances conductrices, même après des inspections de conduction répétées ; et qui ne garde pas facilement de marques de contact au niveau de sa partie entrant en contact avec les éléments inspectés. L'invention porte également sur un dispositif d'inspection de conduction qui comprend l'élément pour dispositif d'inspection de conduction. Un élément pour dispositif d'inspection de conduction comprend un substrat 13, des trous traversants 11 et des parties conductrices 12. Les trous traversants 11 sont disposés dans le substrat 13, et les parties conductrices 12 sont logées à l'intérieur des trous traversants 11. Les parties conductrices 12 comprennent des particules 2 conductrices. Les particules conductrices 2 comprennent une particule de substrat 21 et une couche conductrice 22 qui est disposée sur la surface de la particule de substrat 21. La couche conductrice 22 possède des saillies 23 sur sa surface extérieure.
(JA) 導電部のクラック及びボイドが発生しにくく、繰り返し導通検査を行っても導通性能が損なわれにくく、しかも、検査対象部材に接触した部分に対して接触痕を残しにくい導通検査装置用部材及びこの導通検査装置用部材を備えた導通検査装置を提供する。 導通検査装置用部材は、基体13、貫通孔11、及び導電部12を備え、貫通孔11は基体13に複数配置され、導電部12は貫通孔11内に収容されており、導電部12は導電性粒子2を含む。導電性粒子2は、基材粒子21及び基材粒子21の表面上に配置された導電層22を備える。導電層22は、外表面に複数の突起23を有する。
front page image
Указанные государства: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Африканская региональная организация промышленной собственности (АРОПС) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Евразийская патентная организация (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Европейское патентное ведомство (ЕПВ) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Африканская организация интеллектуальной собственности (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Язык публикации: Японский (JA)
Язык подачи: Японский (JA)