Некоторое содержание этого приложения в настоящий момент недоступно.
Если эта ситуация сохраняется, свяжитесь с нами по адресуОтзывы и контакты
1. (WO2017033037) TERAHERTZ WAVEFRONT MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD
Новейшие библиограф. данные, касающиеся досье в Международном бюро   

№ публикации: WO/2017/033037 № международной заявки: PCT/IB2015/001589
Дата публикации: 02.03.2017 Дата международной подачи: 25.08.2015
МПК:
G01J 1/42 (2006.01) ,G01J 1/04 (2006.01) ,G01J 9/00 (2006.01)
G ФИЗИКА
01
Измерение; испытание
J
Измерение интенсивности, скорости или спектрального состава, поляризации, фазы или импульсных характеристик инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей; колориметрия; радиационная пирометрия
1
Фотометрия, например фотографические экспозиметры
42
действующие с помощью электрических детекторов излучения
G ФИЗИКА
01
Измерение; испытание
J
Измерение интенсивности, скорости или спектрального состава, поляризации, фазы или импульсных характеристик инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей; колориметрия; радиационная пирометрия
1
Фотометрия, например фотографические экспозиметры
02
элементы конструкции
04
оптические и механические
G ФИЗИКА
01
Измерение; испытание
J
Измерение интенсивности, скорости или спектрального состава, поляризации, фазы или импульсных характеристик инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей; колориметрия; радиационная пирометрия
9
Измерение оптической разности фаз; определение степени когерентности; измерение длины оптической волны
Заявители:
UNIVERSITE DE BORDEAUX [FR/FR]; 35, place Pey Berland F-33000 Bordeaux, FR
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE [FR/FR]; 3, rue Michel Ange F-75016 Paris, FR
Изобретатели:
ABRAHAM, Emmanuel Pierre Michel; FR
FREYSZ, Eric; FR
DEGERT, Jérôme; FR
YASUI, Takeshi; JP
CAHYADI, Harsono; JP
Агент:
CHAUVIN, Vincent; FR
Дата приоритета:
Название (EN) TERAHERTZ WAVEFRONT MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE MESURE DE FRONT D'ONDE TÉRAHERTZ
Реферат:
(EN) The invention concerns a Terahertz wavefront measurement system comprising a spatial mask (4, 24) selected among a Terahertz lens array (24) or an array of apertures (4, 14). According to the invention, the Terahertz wavefront measurement system comprises an infrared camera (9), a nonlinear electro-optical crystal (5) having a first face and a second face, the first face being placed adjacent to the spatial mask (4, 24) for receiving an array of multispots in the Terahertz frequency range and the second face being placed for receiving an ultrashort pulsed infrared probe beam (20) and for generating a reflected beam (30) in the infrared frequency range having a wavefront spatial distribution depending on the array of multispots in the Terahertz frequency range, the infrared camera (9) being configured for detecting an image of the reflected beam (30) in the infrared frequency range and a processing system for analyzing the image of reflected beam (30).
(FR) L'invention concerne un système de mesure de front d'onde Térahertz comprenant un masque spatial (4, 24) choisi parmi un réseau de lentilles Térahertz (24) ou un réseau d'ouvertures (4, 14). Selon l'invention, le système de mesure de front d'onde Térahertz comprend une caméra infrarouge (9), un cristal électro-optique non linéaire (5) ayant une première face et une seconde face, la première face étant placée de manière adjacente au masque spatial (4, 24) pour recevoir un réseau de points multiples dans la plage de fréquence Térahertz et la seconde face étant placée pour recevoir un faisceau de sonde infrarouge à impulsions ultracourtes (20) et pour générer un faisceau réfléchi (30) dans la gamme de fréquences des infrarouges ayant une distribution spatiale de fronts d'ondes dépendante du réseau de points multiples dans la plage de fréquence Térahertz, la caméra infrarouge (9) étant configurée pour détecter une image du faisceau réfléchi (30) dans la gamme de fréquences des infrarouges et un système de traitement pour analyser l'image du faisceau réfléchi (30).
front page image
Указанные государства: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Африканская региональная организация промышленной собственности (АРОПС) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Евразийская патентная организация (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Европейское патентное ведомство (ЕПВ) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Африканская организация интеллектуальной собственности (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Язык публикации: Английский (EN)
Язык подачи: Английский (EN)