Некоторое содержание этого приложения в настоящий момент недоступно.
Если эта ситуация сохраняется, свяжитесь с нами по адресуОтзывы и контакты
1. (WO2017001650) EMBEDDED TEST CIRCUIT FOR PHYSICALLY UNCLONABLE FUNCTION
Новейшие библиограф. данные, касающиеся досье в Международном бюро

№ публикации: WO/2017/001650 № международной заявки: PCT/EP2016/065479
Дата публикации: 05.01.2017 Дата международной подачи: 01.07.2016
МПК:
H04L 9/32 (2006.01) ,H04L 9/08 (2006.01) ,G09C 1/00 (2006.01)
H ЭЛЕКТРИЧЕСТВО
04
Техника электрической связи
L
Передача цифровой информации, например телеграфная связь
9
Устройство для секретной или скрытой связи
32
со средствами для установления личности или полномочий пользователя системы
H ЭЛЕКТРИЧЕСТВО
04
Техника электрической связи
L
Передача цифровой информации, например телеграфная связь
9
Устройство для секретной или скрытой связи
06
шифровальные устройства, использующие регистры сдвига или запоминающие устройства для блочного кодирования, например системы на основе стандарта шифрования данных
08
с ключевым распределением
G ФИЗИКА
09
Средства обучения; тайнопись; дисплеи; рекламное и выставочное дело; печати и опечатывание
C
Шифровальные или дешифровальные устройства для криптографии или других целей, требующих секретности
1
Способы и устройства, в которых данная последовательность знаков, например обычный текст, переводится в непонятную последовательность знаков перестановкой знаков или групп знаков или заменой их другими знаками и группами в соответствии с заданной системой
Заявители:
SECURE-IC SAS [FR/FR]; 15, rue Claude Chappe ZAC des Champs Blancs 35510 Cesson-Sévigné, FR
Изобретатели:
DAFALI, Rachid; FR
DANGER, Jean-Luc; FR
GUILLEY, Sylvain; FR
LOZAC'H, Florent; FR
Агент:
HNICH-GASRI, Naïma; FR
Дата приоритета:
15306063.701.07.2015EP
Название (EN) EMBEDDED TEST CIRCUIT FOR PHYSICALLY UNCLONABLE FUNCTION
(FR) CIRCUIT D'ESSAI INCORPORÉ POUR UNE FONCTION PHYSIQUEMENT NON CLONABLE
Реферат:
(EN) There is disclosed a silicon integrated circuit comprising a Physically Unclonable Function and an online or embedded test circuit, said online test circuit comprising one or more circuit parts being physically adjacent to said PUF and said one or more circuits embodying one or more tests which can be performed to determine one or more quality properties of said PUF or otherwise characterize it. Different tests with specific associated method steps are described.
(FR) L’invention concerne un circuit intégré au silicium comprenant une fonction physiquement non clonable (PUF) et un circuit d'essai en ligne ou incorporé, ledit circuit d'essai en ligne comprenant une ou plusieurs partie(s) de circuit qui est/sont physiquement adjacente(s) à ladite PUF et ledit ou lesdits circuit(s) incorporant un ou plusieurs essai(s) qui peut/peuvent être réalisé(s) pour déterminer une ou plusieurs propriété(s) de qualité de ladite PUF ou autrement la caractériser. Différents essais ayant des étapes de procédé associé spécifiques sont décrits.
front page image
Указанные государства: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Африканская региональная организация промышленной собственности (АРОПС) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Евразийское патентное ведомство (ЕАПВ) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Европейское патентное ведомство (ЕПВ) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Африканская организация интеллектуальной собственности (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Язык публикации: Английский (EN)
Язык подачи: Английский (EN)
Также опубликовано как:
KR1020180050276US20180183613CN108028757