WIPO logo
Мобильная версия | Deutsch | English | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Поиск по международным и национальным патентным фондам
World Intellectual Property Organization
Поиск
 
Просмотреть
 
Перевод
 
Настройки
 
Новости
 
Войти в систему
 
Помощь
 
Автоматизированный перевод
1. (WO1997012232) METHOD AND APPARATUS FOR MULTIAXIS SCANNING SYSTEM
Новейшие библиограф. данные, касающиеся досье в Международном бюро   

TranslationПеревести: оригинал-->русский
№ публикации:    WO/1997/012232    № международной заявки:    PCT/US1996/015558
Дата публикации: 03.04.1997 Дата международной подачи: 27.09.1996
Требованиe в соответствии с Главой 2 подано:    29.04.1997    
МПК:
A61B 6/00 (2006.01), G01N 23/04 (2006.01), H05G 1/26 (2006.01)
Заявители: NEW MEXICO BIOPHYSICS [US/US]; 2516 Elfego Road, N.W., Albuquerque, NM 87107 (US).
WOLFE, David, M. [US/US]; (US)
Изобретатели: WOLFE, David, M.; (US).
CHESNUT, William, J.; (US).
ECONOMIDES, James, K.; (US)
Агент: WONG, Wean, Khing; Robbins, Berliner & Carson, 5th floor, 201 N. Figueroa Street, Los Angeles, CA 90012-2628 (US)
Дата приоритета:
08/536,035 29.09.1995 US
Название (EN) METHOD AND APPARATUS FOR MULTIAXIS SCANNING SYSTEM
(FR) PROCEDE ET APPAREIL POUR SYSTEME DE SCINTIGRAPHIE MULTIAXIALE
Реферат: front page image
(EN)The invention discloses a MultiAxis Scanning System for x-ray imaging in which a reverse geometry source of x-ray (e.g. a raster-scanned electron beam) and a two-dimensional digital detector are used. The system has several advantages, including providing direct digital information, and three-dimensional radiographs with higher resolution and better contrast.
(FR)L'invention porte sur un système de scintigraphie multiaxiale donnant des images radiologiques, utilisant une source à géométrie inverse de rayons X (par exemple un faisceau électronique à balayage de trame) et un détecteur numérique bidimensionnel. Ce système présente plusieurs avantages, dont la fourniture de données numériques directes ou de radiographies tridimensionnelles offrant une définition supérieure et un meilleur contraste.
Указанные государства: JP.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Язык публикации: English (EN)
Язык подачи: English (EN)