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1. (WO2019061815) ARRAY SUBSTRATE AND TEST STRUCTURE FOR THE ARRAY SUBSTRATE
Dados bibliográficos mais recentes no arquivo da Secretaria InternacionalSubmeter observação

№ de pub.: WO/2019/061815 № do pedido internacional: PCT/CN2017/114601
Data de publicação: 04.04.2019 Data de depósito internacional: 05.12.2017
CIP:
G02F 1/13 (2006.01)
G FÍSICA
02
ÓPTICA
F
DISPOSITIVOS OU DISPOSIÇÕES, NOS QUAIS O FUNCIONAMENTO ÓPTICO É MODIFICADO PELA VARIAÇÃO DAS PROPRIEDADES ÓPTICAS DO MEIO QUE CONSTITUI ESTES DISPOSITIVOS OU DISPOSIÇÕES PARA O CONTROLE DA INTENSIDADE, DA COR, DA FASE, DA POLARIZAÇÃO OU DA DIREÇÃO DA LUZ, p. ex.,COMUTAÇÃO, ABERTURA DE PORTA, MODULAÇÃO OU DEMODULAÇÃO; TÉCNICAS OU PROCEDIMENTOS NECESSÁRIOS PARA O FUNCIONAMENTO DESTES; MUDANÇA DE FREQUÊNCIA; ÓPTICA NÃO LINEAR; ELEMENTOS ÓPTICOS LÓGICOS; CONVERSORES ÓPTICOS ANALÓGICOS/DIGITAIS
1
Dispositivos ou disposições para o controle da intensidade da cor, da fase, da polarização ou da direção da luz proveniente de uma fonte de luz independente, p. ex.,comutação, abertura de porta ou modulação; Óptica não linear
01
para controle da intensidade, da fase, da polarização ou da cor
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baseado em cristais líquidos, p. ex., células individuais de apresentação a cristais líquidos
Requerentes:
武汉华星光电技术有限公司 WUHAN CHINA STAR OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD [CN/CN]; 中国湖北省武汉市 武汉东湖开发区高新大道666号生物城C5栋 Building C5, Biolake of Optics Valley No. 666 Gaoxin Avenue Wuhan East Lake High-tech Development Zone Wuhan, Hubei 430070, CN
Inventores:
黄耀立 HUANG, Yao-Li; CN
贺兴龙 HE, Xinglong; CN
Mandatário:
广州三环专利商标代理有限公司 SCIHEAD IP LAW FIRM; 中国广东省广州市 越秀区先烈中路80号汇华商贸大厦1508室 Room 1508, Huihua Commercial & Trade Building No. 80, XianLie Zhong Road, Yuexiu District Guangzhou, Guangdong 510070, CN
Dados da prioridade:
201710879966.026.09.2017CN
Título (EN) ARRAY SUBSTRATE AND TEST STRUCTURE FOR THE ARRAY SUBSTRATE
(FR) SUBSTRAT MATRICIEL ET STRUCTURE D'ESSAI POUR LE SUBSTRAT MATRICIEL
(ZH) 阵列基板及阵列基板测试结构
Resumo:
(EN) An array substrate (10). The array substrate (10) comprises a display area (100), and a non-display area (200). A plurality of test signal receiving pins (230), a plurality of press-fitting pins (240) and a plurality of transmission lines (220) are provided in the non-display area (200); and the test signal receiving pins (230) and the press-fitting pins (240) are arranged into one row. The array substrate reduces the width of the non-display area (200) of an electronic device and the design of a narrow frame of the electronic device is facilitated.
(FR) L'invention concerne un substrat matriciel (10). Le substrat matriciel (10) comprend une zone d'affichage (100) et une zone de non-affichage (200). Une pluralité de broches de réception de signal d'essai (230), une pluralité de broches d'ajustement par pression (240) et une pluralité de lignes de transmission (220) sont disposées dans la zone de non-affichage (200); et les broches de réception de signal d'essai (230) et les broches d'ajustement par pression (240) sont agencées en une rangée. Le substrat matriciel réduit la largeur de la zone de non-affichage (200) d'un dispositif électronique et la conception d'un cadre étroit du dispositif électronique est facilitée.
(ZH) 一种阵列基板(10),所述阵列基板(10)包括显示区(100)及非显示区(200),非显示区(200)设置有多个测试信号接收引脚(230)、多个压合引脚(240)以及多个传输线(220),测试信号接收引脚(230)与压合引脚(240)排列成一排。该阵列基板降低了电子装置非显示区(200)的宽度,便于电子装置的窄边框设计。
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Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organização Regional Africana da Propriedade Intelectual (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Instituto Eurasiático de Patentes (EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Instituto Europeu de Patentes (IEP) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organização Africana da Propriedade Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Língua de publicação: Chinês (ZH)
Língua de depósito: Chinês (ZH)