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1. (WO2019048727) ELECTRICAL TOMOGRAPHY FOR VERTICAL PROFILING
Dados bibliográficos mais recentes no arquivo da Secretaria InternacionalSubmeter observação

№ de pub.: WO/2019/048727 № do pedido internacional: PCT/FI2017/050628
Data de publicação: 14.03.2019 Data de depósito internacional: 06.09.2017
Pedido de exame (capítulo 2) depositado: 08.07.2019
CIP:
G01N 27/07 (2006.01) ,G01N 27/22 (2006.01) ,G01N 33/28 (2006.01) ,G01R 27/26 (2006.01) ,G01R 27/22 (2006.01) ,G01N 33/02 (2006.01) ,G01N 33/34 (2006.01)
G FÍSICA
01
MEDIÇÃO; TESTE
N
INVESTIGAÇÃO OU ANÁLISE DOS MATERIAIS PELA DETERMINAÇÃO DE SUAS PROPRIEDADES QUÍMICAS OU FÍSICAS
27
Investigação ou análise de materiais pelo uso de meios elétricos, eletroquímicos, ou magnéticos
02
pela investigação da impedância
04
pela investigação da resistência
06
de um líquido
07
Estrutura dos recipientes de medição; Eletrodos para os mesmos
G FÍSICA
01
MEDIÇÃO; TESTE
N
INVESTIGAÇÃO OU ANÁLISE DOS MATERIAIS PELA DETERMINAÇÃO DE SUAS PROPRIEDADES QUÍMICAS OU FÍSICAS
27
Investigação ou análise de materiais pelo uso de meios elétricos, eletroquímicos, ou magnéticos
02
pela investigação da impedância
22
pela investigação da capacitância
G FÍSICA
01
MEDIÇÃO; TESTE
N
INVESTIGAÇÃO OU ANÁLISE DOS MATERIAIS PELA DETERMINAÇÃO DE SUAS PROPRIEDADES QUÍMICAS OU FÍSICAS
33
Investigação ou análise de materiais por métodos específicos não abrangidos pelos grupos G01N1/-G01N31/140
26
de óleos; de líquidos viscosos; de tintas para pintar; de tintas de escrever
28
de óleos
G FÍSICA
01
MEDIÇÃO; TESTE
R
MEDIÇÃO DE VARIÁVEIS ELÉTRICAS; MEDIÇÃO DE VARIÁVEIS MAGNÉTICAS
27
Disposições para a medição da resistência, reatância, impedância ou características derivadas das mesmas
02
Medição de resistências, reatâncias, impedâncias, reais ou complexas, ou de outras características bipolares derivadas das mesmas, p. ex., constante de tempo
26
Medição da indutância ou capacitância; Medição do fator de qualidade, p. ex., por meio de método de ressonância; Medição do fator de perda; Medição de constantes dielétricas
G FÍSICA
01
MEDIÇÃO; TESTE
R
MEDIÇÃO DE VARIÁVEIS ELÉTRICAS; MEDIÇÃO DE VARIÁVEIS MAGNÉTICAS
27
Disposições para a medição da resistência, reatância, impedância ou características derivadas das mesmas
02
Medição de resistências, reatâncias, impedâncias, reais ou complexas, ou de outras características bipolares derivadas das mesmas, p. ex., constante de tempo
22
Medição da resistência de fluidos
G FÍSICA
01
MEDIÇÃO; TESTE
N
INVESTIGAÇÃO OU ANÁLISE DOS MATERIAIS PELA DETERMINAÇÃO DE SUAS PROPRIEDADES QUÍMICAS OU FÍSICAS
33
Investigação ou análise de materiais por métodos específicos não abrangidos pelos grupos G01N1/-G01N31/140
02
de alimentos
G FÍSICA
01
MEDIÇÃO; TESTE
N
INVESTIGAÇÃO OU ANÁLISE DOS MATERIAIS PELA DETERMINAÇÃO DE SUAS PROPRIEDADES QUÍMICAS OU FÍSICAS
33
Investigação ou análise de materiais por métodos específicos não abrangidos pelos grupos G01N1/-G01N31/140
34
de papel
Requerentes:
ROCSOLE LTD [FI/FI]; Kauppakatu 20 70100 Kuopio, FI
Inventores:
LAAKKONEN, Pasi; FI
LEHIKOINEN, Anssi; FI
MONONEN, Mika; FI
VOUTILAINEN, Arto; FI
Mandatário:
PAPULA OY; P.O. Box 981 00101 Helsinki, FI
Dados da prioridade:
Título (EN) ELECTRICAL TOMOGRAPHY FOR VERTICAL PROFILING
(FR) TOMOGRAPHIE ÉLECTRIQUE DE PROFILAGE VERTICAL
Resumo:
(EN) An apparatus (600) for determining, by electrical tomography, vertical profile of an electrical property of interest of material(s) in a target volume (618) comprises a measurement probe (610) to be positioned at a plurality of different measurement levels (650) in a target volume and comprising a plurality of measurement elements (111) each having an interface surface (112). Each interface surface has a size, shape, and rotational position. A measurement path (114) is formed between two interface surfaces as dependent on the sizes, shapes, and rotational positions of the two interface surfaces, and the distance between the two interface surfaces. The locations, rotational positions, shapes, and sizes of the interface surfaces are selected to provide at least two different measurement paths differing from each other in one or more of said sizes of, shapes of, rotational positions of, and distances between the associated interface surfaces.
(FR) L'invention concerne un appareil (600) permettant de déterminer, par tomographie électrique, un profil vertical d'une propriété électrique d'intérêt d'un ou plusieurs matériaux dans un volume cible (618) comprenant une sonde de mesure (610) à positionner à une pluralité de niveaux de mesure différents (650) dans un volume cible et comprenant une pluralité d'éléments de mesure (111) possédant chacun une surface d'interface (112). Chaque surface d'interface présente une dimension, une forme et une position de rotation. Un trajet de mesure (114) est formé entre deux surfaces d'interface en fonction des dimensions, des formes et des positions de rotation des deux surfaces d'interface et de la distance entre les deux surfaces d'interface. Les emplacements, les positions de rotation, les formes et les dimensions des surfaces d'interface sont sélectionnés afin de fournir au moins deux trajets de mesure différents différant l'un de l'autre par rapport auxdites tailles, formes, positions de rotation et/ou distances entre les surfaces d'interface associées.
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Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organização Regional Africana da Propriedade Intelectual (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Instituto Eurasiático de Patentes (EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Instituto Europeu de Patentes (IEP) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organização Africana da Propriedade Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Língua de publicação: Inglês (EN)
Língua de depósito: Inglês (EN)