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1. (WO2019048442) AUTOMATIC ANALYSIS OF MATERIAL-RELATED EXPOSURE AND/OR EXPOSURE STRATEGY PRIORITIZATION
Dados bibliográficos mais recentes no arquivo da Secretaria InternacionalSubmeter observação

№ de pub.: WO/2019/048442 № do pedido internacional: PCT/EP2018/073791
Data de publicação: 14.03.2019 Data de depósito internacional: 05.09.2018
CIP:
G06Q 10/06 (2012.01) ,G06Q 10/08 (2012.01)
G FÍSICA
06
CÔMPUTO; CÁLCULO; CONTAGEM
Q
SISTEMAS OU MÉTODOS DE PROCESSAMENTO DE DADOS, ESPECIALMENTE ADAPTADOS PARA PROPÓSITOS ADMINISTRATIVOS, COMERCIAIS, FINANCEIROS, DE GERENCIAMENTO, SUPERVISÃO OU PREDIÇÃO; SISTEMAS OU MÉTODOS ESPECIALMENTE ADAPTADOS PARA PROPÓSITOS ADMINISTRATIVOS, COMERCIAIS, FINANCEIROS, DE GERENCIAMENTO, SUPERVISÃO OU PREDIÇÃO, NÃO INCLUÍDOS EM OUTRO LOCAL
10
Administração; Gerenciamento
06
Gerenciamento de recursos, fluxos de trabalho, recursos humanos ou projetos, p. ex. organização, planejamento, agendamento ou alocação de tempo, recursos humanos ou recursos de máquina; Planejamento empresarial; Modelos organizacionais
G FÍSICA
06
CÔMPUTO; CÁLCULO; CONTAGEM
Q
SISTEMAS OU MÉTODOS DE PROCESSAMENTO DE DADOS, ESPECIALMENTE ADAPTADOS PARA PROPÓSITOS ADMINISTRATIVOS, COMERCIAIS, FINANCEIROS, DE GERENCIAMENTO, SUPERVISÃO OU PREDIÇÃO; SISTEMAS OU MÉTODOS ESPECIALMENTE ADAPTADOS PARA PROPÓSITOS ADMINISTRATIVOS, COMERCIAIS, FINANCEIROS, DE GERENCIAMENTO, SUPERVISÃO OU PREDIÇÃO, NÃO INCLUÍDOS EM OUTRO LOCAL
10
Administração; Gerenciamento
08
Logística, p. ex. estocagem, carregamento, distribuição ou embarque; Gerenciamento de inventário ou estoque, p. ex. preenchimento de pedidos, aprovisionamento ou equilíbrio em função dos pedidos
Requerentes:
SARTORIUS STEDIM BIOTECH GMBH [DE/DE]; August-Spindler-Str. 11 37079 Göttingen, DE
Inventores:
HACKEL, Heiko; DE
ADAMS, Dean; DE
Mandatário:
MÜLLER-BORÉ & PARTNER PATENTANWÄLTE PARTG MBB; Friedenheimer Brücke 21 80639 München, DE
Dados da prioridade:
15/697,21306.09.2017US
Título (EN) AUTOMATIC ANALYSIS OF MATERIAL-RELATED EXPOSURE AND/OR EXPOSURE STRATEGY PRIORITIZATION
(FR) ANALYSE AUTOMATIQUE D'EXPOSITION LIÉE À UNE MATIÈRE ET/OU PRIORISATION DE STRATÉGIES D'EXPOSITION
Resumo:
(EN) A device may receive data related to a material. The data may permit an analysis of an exposure related to the material. The data may be received from another device. The device may process the data to determine a category of materials for the material. The category of materials may indicate a set of exposures, related to the material, to an organization. The device may process the data to determine an exposure preparedness level associated with the material. The exposure preparedness level may indicate a preparedness of the organization to handle the set of exposures related to the material. The device may determine a score for the material based on the category of materials and the exposure preparedness level associated with the material. The score may indicate the exposure related to the material. The device may perform an action related to the material based on the score for the material.
(FR) Un dispositif peut recevoir des données liées à une matière. Les données peuvent permettre une analyse d'une exposition liée à la matière. Les données peuvent être reçues en provenance d'un autre dispositif. Le dispositif peut traiter les données pour déterminer une catégorie de matières pour la matière. La catégorie de matières peut indiquer à une organisation un ensemble d'expositions, liées à la matière. Le dispositif peut traiter les données pour déterminer un niveau de préparation d'exposition associé à la matière. Le niveau de préparation d'exposition peut indiquer une préparation de l'organisation à gérer l'ensemble d'expositions liées à la matière. Le dispositif peut déterminer un score relatif à la matière d'après la catégorie de matières et le niveau de préparation d'exposition associés à la matière. Le score peut indiquer l'exposition liée à la matière. Le dispositif peut effectuer une action liée à la matière d'après le score relatif à la matière.
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Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organização Regional Africana da Propriedade Intelectual (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Instituto Eurasiático de Patentes (EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Instituto Europeu de Patentes (IEP) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organização Africana da Propriedade Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Língua de publicação: Inglês (EN)
Língua de depósito: Inglês (EN)