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1. (WO2019041691) METHOD FOR OBTAINING DEFECT POSITION OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL DEFECT POSITIONING DEVICE
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№ de pub.: WO/2019/041691 № do pedido internacional: PCT/CN2017/119131
Data de publicação: 07.03.2019 Data de depósito internacional: 27.12.2017
CIP:
G02F 1/13 (2006.01)
G FÍSICA
02
ÓPTICA
F
DISPOSITIVOS OU DISPOSIÇÕES, NOS QUAIS O FUNCIONAMENTO ÓPTICO É MODIFICADO PELA VARIAÇÃO DAS PROPRIEDADES ÓPTICAS DO MEIO QUE CONSTITUI ESTES DISPOSITIVOS OU DISPOSIÇÕES PARA O CONTROLE DA INTENSIDADE, DA COR, DA FASE, DA POLARIZAÇÃO OU DA DIREÇÃO DA LUZ, p. ex.,COMUTAÇÃO, ABERTURA DE PORTA, MODULAÇÃO OU DEMODULAÇÃO; TÉCNICAS OU PROCEDIMENTOS NECESSÁRIOS PARA O FUNCIONAMENTO DESTES; MUDANÇA DE FREQUÊNCIA; ÓPTICA NÃO LINEAR; ELEMENTOS ÓPTICOS LÓGICOS; CONVERSORES ÓPTICOS ANALÓGICOS/DIGITAIS
1
Dispositivos ou disposições para o controle da intensidade da cor, da fase, da polarização ou da direção da luz proveniente de uma fonte de luz independente, p. ex.,comutação, abertura de porta ou modulação; Óptica não linear
01
para controle da intensidade, da fase, da polarização ou da cor
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baseado em cristais líquidos, p. ex., células individuais de apresentação a cristais líquidos
Requerentes:
深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 SHENZHEN CHINA STAR OPTOELECTRONICS SEMICONDUCTOR DISPLAY TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; 中国广东省深圳 光明新区公明街道塘明大道9-2号 No. 9-2, Tangming Road, Gongming Street Guangming New District Shenzhen, Guangdong 518132, CN
Inventores:
谢军 XIE, Jun; CN
Mandatário:
深圳市德力知识产权代理事务所 COMIPS INTELLECTUAL PROPERTY OFFICE; 中国广东省深圳市 福田区上步中路深勘大厦15E Room 15E, Shenkan Building Shangbu Zhong Road, Futian District Shenzhen, Guangdong 518028, CN
Dados da prioridade:
201710787442.904.09.2017CN
Título (EN) METHOD FOR OBTAINING DEFECT POSITION OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL DEFECT POSITIONING DEVICE
(FR) PROCÉDÉ POUR OBTENIR UN EMPLACEMENT DE DÉFAUT DE PANNEAU D'AFFICHAGE À CRISTAUX LIQUIDES ET DISPOSITIF DE LOCALISATION DE DÉFAUT DANS UN PANNEAU D'AFFICHAGE À CRISTAUX LIQUIDES
(ZH) 获取液晶显示面板缺陷位置的方法及液晶显示面板缺陷定位装置
Resumo:
(EN) A method for obtaining a defect position of a liquid crystal display panel (10) and a liquid crystal display panel (10) defect positioning device. The method comprises: a processing unit (40) establishes a first rectangular coordinate system with two adjacent sides of the liquid crystal display panel (10) as an x axis and a y axis, obtains coordinates (x1, y1) of a defect (11) of the liquid crystal display panel (10) in the first rectangular coordinate system, then establishes a second rectangular coordinate system with two sides of a positioning platform (20) respectively parallel to two adjacent sides of the liquid crystal display panel (10) as an x axis and a y axis, and calculates coordinates (x2, y2) of the defect (11) in the second rectangular coordinate system according to a linear distance between the second rectangular coordinate system and the first rectangular coordinate system; an image projection unit (30) then divides the positioning platform (20) into multiple grid regions (21) corresponding to the second rectangular coordinate system and arranged in an array; the processing unit (40) determines and identifies a grid region (21) where the defect (11) is located. An operator can conveniently and accurately check the defect (11) on the liquid crystal display panel (10), the operating efficiency is improved, multiple times of processing conducted on the liquid crystal display panel (10) are prevented, and accordingly the loss of polarizers is reduced.
(FR) L'invention concerne un procédé d'obtention d'un emplacement de défaut dans un panneau d'affichage à cristaux liquides (10) et un dispositif de localisation de défaut dans le panneau d'affichage à cristaux liquides (10). Le procédé comprend les étapes suivantes : une unité de traitement (40) établit un premier système de coordonnées rectangulaires avec deux côtés adjacents du panneau d'affichage à cristaux liquides (10) en tant qu'axe x et axe y, obtient des coordonnées (x1, y1) d'un défaut (11) du panneau d'affichage à cristaux liquides (10) dans le premier système de coordonnées rectangulaires, puis établit un second système de coordonnées rectangulaires avec deux côtés d'une plate-forme de localisation (20) respectivement parallèles aux deux côtés adjacents du panneau d'affichage à cristaux liquides (10) en tant qu'axe x et axe y, et calcule des coordonnées (x2, y2) du défaut (11) dans le second système de coordonnées rectangulaires en fonction d'une distance linéaire entre le second système de coordonnées rectangulaires et le premier système de coordonnées rectangulaires; une unité de projection d'image (30) divise ensuite la plate-forme de localisation (20) en de multiples régions de grille (21) correspondant au second système de coordonnées rectangulaires et agencées sous forme de réseau; l'unité de traitement (40) détermine et identifie une région de grille (21) où se trouve le défaut (11). Un opérateur peut vérifier de manière pratique et précise le défaut (11) sur le panneau d'affichage à cristaux liquides (10), l'efficacité de fonctionnement est améliorée, de multiples reprises de traitement effectuées sur le panneau d'affichage à cristaux liquides (10) sont évitées, et par conséquent la perte de polariseurs est réduite.
(ZH) 一种获取液晶显示面板(10)缺陷位置的方法及液晶显示面板(10)缺陷定位装置。方法通过处理单元(40)以液晶显示面板(10)相邻的两条边为x轴和y轴建立第一直角坐标系,获取液晶显示面板(10)的缺陷(11)在第一直角坐标系的坐标(x1,y1),再以定位平台(20)分别与液晶显示面板(10)相邻的两条边平行的两条边为x轴和y轴建立第二直角坐标系,根据第二直角坐标系与第一直角坐标系的直线距离,计算得到缺陷(11)在第二直角坐标系的坐标(x2,y2),图像投影单元(30)又将定位平台(20)划分成与第二直角坐标系对应的阵列排布的多个方格区域(21),处理单元(40)确定并标识出缺陷(11)所在的方格区域(21),便于作业人员精确检查出液晶显示面板(10)上的缺陷(11),提高作业效率,防止液晶显示面板(10)多次重工,从而减少偏光片的损失。
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Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organização Regional Africana da Propriedade Intelectual (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Instituto Eurasiático de Patentes (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Instituto Europeu de Patentes (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organização Africana da Propriedade Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Língua de publicação: chinês (ZH)
Língua de depósito: chinês (ZH)