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1. (WO2019000021) SPECIMEN CONTROL MEANS FOR PARTICLE BEAM MICROSCOPY
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№ de pub.: WO/2019/000021 № do pedido internacional: PCT/AU2018/050605
Data de publicação: 03.01.2019 Data de depósito internacional: 19.06.2018
CIP:
H01J 37/20 (2006.01) ,G01N 23/20025 (2018.01)
H ELECTRICIDADE
01
ELEMENTOS ELÉTRICOS BÁSICOS
J
VÁLVULAS DE DESCARGA ELÉTRICA OU LÂMPADAS DE DESCARGA
37
Válvulas de descarga com meios para introduzir objetos ou materiais a serem expostos à descarga, p. ex., para fins de exame ou processamento dos mesmos
02
Detalhes
20
Meios de suporte ou posicionamento do objeto ou do material; Meios para ajustar diafragmas ou lentes associadas com o suporte
[IPC code unknown for ERROR IPC Code incorrect: invalid subgroup (0=>999999)!]
Requerentes:
DANILATOS, Gerasimos Daniel [AU/AU]; AU
Inventores:
DANILATOS, Gerasimos Daniel; AU
Dados da prioridade:
201790246026.06.2017AU
201890020022.01.2018AU
Título (EN) SPECIMEN CONTROL MEANS FOR PARTICLE BEAM MICROSCOPY
(FR) MOYEN DE GESTION D'ÉCHANTILLON POUR MICROSCOPIE À FAISCEAU DE PARTICULES
Resumo:
(EN) Specimen control means are disclosed for use with multipurpose particle beam instruments, such as with SEM, ESEM, TESEM, TEM, ETEM and ion microscopes. It provides a control stage located outside a chamber with a flexible wall that allows specimen movement inside the chamber. The same stage can open or close the bottom of the chamber base carrying a specimen stub, which is transferred to and from a conveyor belt or carousel supplied with a multitude of stubs filled with new specimens for examination. The chamber is further supplied with directed gas controls to regulate its gaseous environment. There is a supply of clean gas to maintain the instrument and specimen free of contamination, or to provide a reactant gas for microfabrication, or to enhance signal detection in a microscope. Stationary charged particle beam instruments are equipped with micro-mechanical specimen scanning for use in ultra-high resolution particle beam technologies.
(FR) L'invention concerne des moyens de gestion d'échantillon destinés à être utilisés avec des instruments à faisceau de particules à usages multiples, tels que des microscopes MEB, ESEM, TESEM, MET, ETEM et des microscopes ioniques. L'invention comprend un étage de commande situé à l'extérieur d'une chambre présentant une paroi souple qui permet un déplacement d'échantillon à l'intérieur de la chambre. Le même étage peut ouvrir ou fermer le fond de la base de la chambre transportant un porte-échantillon qui est transféré vers et à partir d'une bande transporteuse ou d'un carrousel alimenté par une multitude de supports remplis de nouveaux échantillons en vue de leur examen. La chambre est en outre alimentée par des commandes dirigées du gaz pour réguler son environnement gazeux. Une alimentation en gaz propre vise à maintenir l'instrument et l'échantillon en dehors de toute contamination, ou à produire un gaz réactif pour une microfabrication, ou pour améliorer la détection de signal dans un microscope. Des instruments à faisceau de particules chargées fixes sont équipés d'un balayage d'échantillon micro-mécanique destiné à être utilisé dans des technologies de faisceau de particules à très haute résolution.
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Língua de publicação: inglês (EN)
Língua de depósito: inglês (EN)