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1. (WO2018180900) DETECTOR, SURFACE PROPERTY MEASUREMENT INSTRUMENT, AND ROUNDNESS MEASUREMENT INSTRUMENT
Dados bibliográficos mais recentes no arquivo da Secretaria InternacionalSubmeter observação

№ de pub.: WO/2018/180900 № do pedido internacional: PCT/JP2018/011450
Data de publicação: 04.10.2018 Data de depósito internacional: 22.03.2018
Pedido de exame (capítulo 2) depositado: 05.07.2018
CIP:
G01B 5/012 (2006.01) ,G01B 5/016 (2006.01) ,G01B 5/20 (2006.01)
G FÍSICA
01
MEDIÇÃO; TESTE
B
MEDIÇÃO DE COMPRIMENTOS, ESPESSURAS OU OUTRAS DIMENSÕES LINEARES SEMELHANTES; MEDIÇÃO DE ÂNGULOS; MEDIÇÃO DE ÁREAS; MEDIÇÃO DE IRREGULARIDADES DE SUPERFÍCIES OU CONTORNOS
5
Disposições de medição caracterizadas pelo uso de meios mecânicos
004
para medição das coordenadas de pontos
008
usando máquinas de medição de coordenadas
012
Respectivas cabeças de sensores de contato
G FÍSICA
01
MEDIÇÃO; TESTE
B
MEDIÇÃO DE COMPRIMENTOS, ESPESSURAS OU OUTRAS DIMENSÕES LINEARES SEMELHANTES; MEDIÇÃO DE ÂNGULOS; MEDIÇÃO DE ÁREAS; MEDIÇÃO DE IRREGULARIDADES DE SUPERFÍCIES OU CONTORNOS
5
Disposições de medição caracterizadas pelo uso de meios mecânicos
004
para medição das coordenadas de pontos
008
usando máquinas de medição de coordenadas
012
Respectivas cabeças de sensores de contato
016
Detalhes construtivos dos contatos
G FÍSICA
01
MEDIÇÃO; TESTE
B
MEDIÇÃO DE COMPRIMENTOS, ESPESSURAS OU OUTRAS DIMENSÕES LINEARES SEMELHANTES; MEDIÇÃO DE ÂNGULOS; MEDIÇÃO DE ÁREAS; MEDIÇÃO DE IRREGULARIDADES DE SUPERFÍCIES OU CONTORNOS
5
Disposições de medição caracterizadas pelo uso de meios mecânicos
20
para medição de contornos ou curvaturas
Requerentes:
株式会社東京精密 TOKYO SEIMITSU CO., LTD. [JP/JP]; 東京都八王子市石川町2968-2 2968-2, Ishikawa-machi, Hachioji-shi, Tokyo 1928515, JP
Inventores:
森井 秀樹 MORII, Hideki; JP
Mandatário:
松浦 憲三 MATSUURA, Kenzo; JP
Dados da prioridade:
2017-06138727.03.2017JP
Título (EN) DETECTOR, SURFACE PROPERTY MEASUREMENT INSTRUMENT, AND ROUNDNESS MEASUREMENT INSTRUMENT
(FR) DÉTECTEUR, INSTRUMENT DE MESURE DE PROPRIÉTÉ DE SURFACE ET INSTRUMENT DE MESURE DE RONDEUR
(JA) 検出器、表面性状測定機、及び真円度測定機
Resumo:
(EN) Provided are a detector, surface property measurement instrument, and roundness measurement instrument for addressing the problem of automatically measuring a plurality of surfaces and reducing the time required for the measurement. This problem is addressed by a detector provided with a stylus for supporting a contact for touching the surface of an object of measurement, a holding part for holding the stylus, a measurement part for holding the holding part such that the same can freely pivot around a rotation axis and for detecting the displacement of the holding part, and a body part for accommodating the measurement part, wherein the holding part holds the stylus such that a stylus axis, which is the axis of the stylus, and a body axis, which is the axis of the body, are parallel and the stylus axis and body axis are offset in a first direction orthogonal to the body axis and rotation axis.
(FR) La présente invention concerne un détecteur, un instrument de mesure de propriété de surface et un instrument de mesure de rondeur permettant d'aborder le problème de la mesure automatique d'une pluralité de surfaces et de réduire le temps requis pour la mesure. Ledit problème est résolu par un détecteur pourvu d'un stylet destiné à supporter un contact pour toucher la surface d'un objet de mesure, d'une partie de maintien pour maintenir le stylet, d'une partie de mesure pour maintenir la partie de maintien de telle sorte qu'elle puisse pivoter librement autour d'un axe de rotation et pour détecter le déplacement de la partie de maintien, et d'un corps pour recevoir la partie de mesure, la partie de maintien maintenant le stylet de telle sorte qu'un axe de stylet, qui est l'axe du stylet, et un axe de corps, qui est l'axe du corps, soient parallèles et de telle sorte que l'axe du stylet et l'axe du corps soient décalés dans une première direction orthogonale à l'axe du corps et à l'axe de rotation.
(JA) 複数の面を自動的に測定し、測定に要する時間を短縮する検出器、表面性状測定機、及び真円度測定機を提供する。測定対象物の表面に接触する接触子を支持するスタイラスと、スタイラスを保持する保持部と、保持部を回転軸によって揺動自在に保持し、保持部の変位を検出する測定部と、測定部を収納する本体部と、を備え、保持部は、スタイラスの軸であるスタイラス軸と本体部の軸である本体軸とを平行に、かつスタイラス軸と本体軸とを本体軸及び回転軸に直交する第1方向にオフセットしてスタイラスを保持する検出器によって上記課題を解決する。
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Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organização Regional Africana da Propriedade Intelectual (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Instituto Eurasiático de Patentes (EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
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Organização Africana da Propriedade Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Língua de publicação: Japonês (JA)
Língua de depósito: Japonês (JA)