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1. (WO2018163755) POSITIONING MECHANISM FOR KELVIN INSPECTION TERMINAL AND IC SOCKET PROVIDED WITH SAME
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№ de pub.: WO/2018/163755 № do pedido internacional: PCT/JP2018/005385
Data de publicação: 13.09.2018 Data de depósito internacional: 16.02.2018
CIP:
G01R 31/26 (2014.01) ,G01R 1/067 (2006.01) ,G01R 1/073 (2006.01) ,H01R 33/76 (2006.01)
G FÍSICA
01
MEDIÇÃO; TESTE
R
MEDIÇÃO DE VARIÁVEIS ELÉTRICAS; MEDIÇÃO DE VARIÁVEIS MAGNÉTICAS
31
Disposições para teste das propriedades elétricas; Disposições para localização de defeitos elétricos; Disposições para teste elétrico caracterizados pelo que está sendo verificado, não incluída em outro local
26
Teste de dispositivos semicondutores individuais
G FÍSICA
01
MEDIÇÃO; TESTE
R
MEDIÇÃO DE VARIÁVEIS ELÉTRICAS; MEDIÇÃO DE VARIÁVEIS MAGNÉTICAS
1
Detalhes de instrumentos ou disposições dos tipos abrangidos pelos gruposG01R5/-G01R13/124
02
Detalhes estruturais gerais
06
Guias de medição; Sondas de medição
067
Sondas de medição
G FÍSICA
01
MEDIÇÃO; TESTE
R
MEDIÇÃO DE VARIÁVEIS ELÉTRICAS; MEDIÇÃO DE VARIÁVEIS MAGNÉTICAS
1
Detalhes de instrumentos ou disposições dos tipos abrangidos pelos gruposG01R5/-G01R13/124
02
Detalhes estruturais gerais
06
Guias de medição; Sondas de medição
067
Sondas de medição
073
Sondas múltiplas
H ELECTRICIDADE
01
ELEMENTOS ELÉTRICOS BÁSICOS
R
CONEXÕES ELETROCONDUTORAS; ASSOCIAÇÕES ESTRUTURAIS DE UMA PLURALIDADE DE ELEMENTOS DE CONEXÃO ELÉTRICA MUTUAMENTE ISOLADOS; DISPOSITIVOS DE ACOPLAMENTO; COLETORES DE CORRENTE
33
Dispositivos de acoplamento especialmente adaptados para suportar aparelhos e tendo uma parte atuando como um suporte oferecendo apoio e conexão elétrica por meio de uma peça associada a qual está estruturalemente associada ao aparelho, p. ex., suportes para lâmpadas; Peças separadas dos mesmos
74
Dispositivos tendo quatro ou mais pólos
76
Suportes com soquetes, grampos ou contatos análogos, adaptados para engate de deslizamento axial com pinos, lâminas ou contatos análogos dispostos paralelamente, nas peças associadas, p. ex., soquetes de válvulas eletrônicas
Requerentes:
山一電機株式会社 YAMAICHI ELECTRONICS CO., LTD. [JP/JP]; 東京都大田区南蒲田2-16-2 2-16-2, Minamikamata, Ota-ku Tokyo 1448581, JP
Inventores:
鈴木 勝己 SUZUKI Katsumi; JP
齋藤 朋徳 SAITO Tomonori; JP
Dados da prioridade:
2017-04665210.03.2017JP
Título (EN) POSITIONING MECHANISM FOR KELVIN INSPECTION TERMINAL AND IC SOCKET PROVIDED WITH SAME
(FR) MÉCANISME DE POSITIONNEMENT DESTINÉ À UNE BORNE D'INSPECTION KELVIN ET SUPPORT DE CIRCUIT INTÉGRÉ ÉQUIPÉE DE CE DERNIER
(JA) ケルビン検査用端子の位置決め機構、および、それを備えるICソケット
Resumo:
(EN) This positioning mechanism for a Kelvin inspection terminal makes it possible to simply assemble a Kelvin inspection terminal together with an IC socket and enhance the accuracy of the positioning of the Kelvin inspection terminal in relation to semiconductor device electrode parts. A mounting base 20 for an object of inspection has a plurality of holes 20ai into which electrode parts DVa of a semiconductor device DV are inserted and by which the electrode parts DVa are positioned. The bottom parts of the holes 20ai have, formed in two locations, through holes 20d into which device plungers 12 for each probe 10 are inserted.
(FR) Selon la présente invention, ce mécanisme de positionnement destiné à une borne d'inspection Kelvin permet d'assembler simplement une borne d'inspection Kelvin avec un support de circuit intégré et d'améliorer la précision du positionnement de la borne d'inspection Kelvin par rapport aux parties d'électrode de dispositif semi-conducteur. Une base de montage (20) destinée à un objet d'inspection a une pluralité de trous (20a) dans lesquels des parties d'électrode (DVa) d'un dispositif semi-conducteur (DV) sont insérées et par lesquelles les parties d'électrode (DVa) sont positionnées. Les parties inférieures des trous (20ai) présentent, sur deux emplacements, des trous traversants (20d) dans lesquels des plongeurs de dispositif (12) destinés à chaque sonde (10) sont insérés.
(JA) ケルビン検査用端子の位置決め機構において、ケルビン検査用端子をICソケットに簡単に組み付けることができ、しかも、ケルビン検査用端子の半導体装置の電極部に対する位置決め精度を向上させることができる。被検査物搭載台20は、半導体装置DVの各電極部DVaが挿入され位置決めされる複数の孔20aiを有し、孔20aiの底部には、各プローブ10のデバイス用プランジャー12が挿入される貫通孔20dが2箇所に形成されているもの。
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Língua de publicação: japonês (JA)
Língua de depósito: japonês (JA)