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1. (WO2018104985) ABNORMALITY ANALYSIS METHOD, PROGRAM, AND SYSTEM
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№ de pub.: WO/2018/104985 № do pedido internacional: PCT/JP2016/005084
Data de publicação: 14.06.2018 Data de depósito internacional: 08.12.2016
CIP:
G05B 23/02 (2006.01)
G FÍSICA
05
CONTROLE; REGULAGEM
B
SISTEMAS DE CONTROLE OU REGULAGEM EM GERAL; ELEMENTOS FUNCIONAIS DE TAIS SISTEMAS; DISPOSIÇÕES PARA MONITORAÇÃO OU TESTE DE TAIS SISTEMAS OU ELEMENTOS
23
Teste ou monitoração de sistemas de controle ou de peças dos mesmos
02
Teste ou monitoração elétrica
Requerentes:
日本電気株式会社 NEC CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区芝五丁目7番1号 7-1, Shiba 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1088001, JP
Inventores:
河合 孝純 KAWAI, Takazumi; JP
Mandatário:
岡部 讓 OKABE, Yuzuru; JP
臼井 伸一 USUI, Shinichi; JP
越智 隆夫 OCHI, Takao; JP
吉澤 弘司 YOSHIZAWA, Hiroshi; JP
岡部 洋 OKABE, Yoh; JP
Dados da prioridade:
Título (EN) ABNORMALITY ANALYSIS METHOD, PROGRAM, AND SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ, PROGRAMME ET SYSTÈME D'ANALYSE D'ANOMALIE
(JA) 異常分析方法、プログラムおよびシステム
Resumo:
(EN) The present invention provides an abnormality analysis method, program, and system which display the degrees of abnormality of sensor groups, each sensor group being set as one of a plurality of layers in a hierarchy, and which also facilitate the identification of the cause of the abnormality. An abnormality analysis system 100 according to an embodiment of the present invention is provided with: a group generation unit 120 which generates sensor groups, each being set as one of a plurality of layers in a hierarchy; a group abnormality degree calculation unit 130 which calculates the degree of abnormality of each group from values measured by the sensors in the group; and a display control unit 140 which performs control to display, as a function of time, the degree of abnormality of a group that is set as one of the plurality of layers in the hierarchy.
(FR) La présente invention concerne un procédé, un programme et un système d'analyse d'anomalie qui affichent les degrés d'anomalie de groupes de capteurs, chaque groupe de capteurs étant défini comme une couche parmi une pluralité de couches dans une hiérarchie, et qui facilitent également l'identification de la cause de l'anomalie. Un système d'analyse d'anomalie 100 selon un mode de réalisation de la présente invention comprend : une unité de génération de groupe 120 qui génère des groupes de capteurs, chacun étant défini comme une couche parmi une pluralité de couches dans une hiérarchie ; une unité de calcul de degré d'anomalie de groupe 130 qui calcule le degré d'anomalie de chaque groupe à partir des valeurs mesurées par les capteurs dans le groupe ; et une unité de commande d'affichage 140 qui commande l'affichage, en fonction du temps, du degré d'anomalie d'un groupe qui est défini comme une couche parmi la pluralité de couches dans la hiérarchie.
(JA) 本発明は、センサのグループごとの異常度を複数の階層において表示し、異常の要因の特定を容易にする異常分析方法、プログラムおよびシステムを提供する。本発明の一実施形態に係る異常分析システム100は、複数の階層において階層ごとにセンサのグループを生成するグループ生成部120と、グループに含まれるセンサの測定値からグループごとのグループ異常度を算出するグループ異常度算出部130と、複数の階層のうちいずれかの階層においてグループ異常度の時系列変化を表示する制御を行う表示制御部140と、を備える。
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Instituto Eurasiático de Patentes (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
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Organização Africana da Propriedade Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Língua de publicação: japonês (JA)
Língua de depósito: japonês (JA)