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1. (WO2018067687) PASSIVE DEVICE FOR VAPOR INTRUSION SAMPLING
Dados bibliográficos mais recentes no arquivo da Secretaria InternacionalSubmeter observação

№ de pub.: WO/2018/067687 № do pedido internacional: PCT/US2017/055115
Data de publicação: 12.04.2018 Data de depósito internacional: 04.10.2017
CIP:
G01N 33/497 (2006.01) ,G01N 1/22 (2006.01) ,G01N 7/00 (2006.01) ,G01N 33/38 (2006.01)
G FÍSICA
01
MEDIÇÃO; TESTE
N
INVESTIGAÇÃO OU ANÁLISE DOS MATERIAIS PELA DETERMINAÇÃO DE SUAS PROPRIEDADES QUÍMICAS OU FÍSICAS
33
Investigação ou análise de materiais por métodos específicos não abrangidos pelos grupos G01N1/-G01N31/140
48
Material biológico, p. ex., sangue, urina; Hemocitrômetros
483
Análise física de material biológico
497
de material biológico gasoso, p. ex., respiração
G FÍSICA
01
MEDIÇÃO; TESTE
N
INVESTIGAÇÃO OU ANÁLISE DOS MATERIAIS PELA DETERMINAÇÃO DE SUAS PROPRIEDADES QUÍMICAS OU FÍSICAS
1
Amostragem; Preparação de espécimes para investigação
02
Dispositivos para a retirada de amostras
22
em estado gasoso
G FÍSICA
01
MEDIÇÃO; TESTE
N
INVESTIGAÇÃO OU ANÁLISE DOS MATERIAIS PELA DETERMINAÇÃO DE SUAS PROPRIEDADES QUÍMICAS OU FÍSICAS
7
Análise de materiais pela medição da pressão ou do volume de um gás ou vapor
G FÍSICA
01
MEDIÇÃO; TESTE
N
INVESTIGAÇÃO OU ANÁLISE DOS MATERIAIS PELA DETERMINAÇÃO DE SUAS PROPRIEDADES QUÍMICAS OU FÍSICAS
33
Investigação ou análise de materiais por métodos específicos não abrangidos pelos grupos G01N1/-G01N31/140
38
de concreto; de cal; de argamassa; de gesso; de tijolos; de cerâmica; de vidro
Requerentes:
CH2M HILL, INC. [US/US]; 9191 South Jamaica Street Englewood, Colorado 80112, US
Inventores:
THOMPSON, Ben; US
NOVAK, Michael; US
NIEMET, Michael; US
Mandatário:
KANABER, Kerith; US
HATTENBCH, Brad J.; US
CORNELIO, Gina; US
CAPPS, R. Shane; US
IGNAT, Brian J.; US
MORRISON, Angela L.; US
HAEN, Shannon Lynch; US
RASMUSSEN, Michael; US
JONSEN, Matthew D.; US
GILLELAND, Justin; US
Dados da prioridade:
62/403,85704.10.2016US
Título (EN) PASSIVE DEVICE FOR VAPOR INTRUSION SAMPLING
(FR) DISPOSITIF PASSIF PERMETTANT UN ÉCHANTILLONNAGE D'INTRUSION DE VAPEUR
Resumo:
(EN) Disclosed herein is a passive vapor intrusion measurement device including a barrier layer having first and second major sides; an absorbent stack disposed on a first portion of the surface of the barrier layer first major side, the absorbent stack including a first absorbent layer, an optional second absorbent layer; and spacer layer(s) disposed between the first and second (if present) absorbent layer and the barrier layer; and an adhesive disposed on a second portion of the surface of the barrier layer first major side and transversely surrounding the absorbent stack. The device is applied to a substrate in need of vapor intrusion sampling. A method of vapor intrusion analysis includes individually collecting the first and second (if present) absorbent layers after a test period; analyzing the amount of an analyte the absorbent layer(s); and subtracting the amount of the analyte in the second absorbent layer (if present) from the amount of the analyte in the first absorbent layer.
(FR) La présente invention concerne un dispositif passif de mesure d'intrusion de vapeur comprenant une couche barrière ayant des premier et second côtés principaux ; un empilement absorbant disposé sur une première partie de la surface du premier côté principal de la couche barrière, l'empilement absorbant comprenant une première couche absorbante, une seconde couche absorbante facultative ; et une ou plusieurs couches d'espacement disposées entre les première et seconde couches absorbantes (si elles sont présentes) et la couche barrière ; et un adhésif disposé sur une seconde partie de la surface du premier côté principal de la couche barrière et entourant transversalement l'empilement absorbant. Le dispositif est appliqué à un substrat ayant besoin d'un échantillonnage d'intrusion de vapeur. Un procédé d'analyse d'intrusion de vapeur consiste à collecter individuellement les première et seconde couches absorbantes (si elles sont présentes) après une période de test ; à analyser la quantité d'un analyte dans la ou les couches absorbantes ; et à soustraire la quantité d'analyte dans la seconde couche absorbante (si elle est présente) de la quantité d'analyte dans la première couche absorbante.
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Organização Regional Africana da Propriedade Intelectual (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Instituto Eurasiático de Patentes (EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Instituto Europeu de Patentes (IEP) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organização Africana da Propriedade Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Língua de publicação: Inglês (EN)
Língua de depósito: Inglês (EN)
Também publicado como:
AU2017340405CA3039370