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1. (WO2018063418) COMPACT TESTING SYSTEM
Dados bibliográficos mais recentes no arquivo da Secretaria Internacional   

№ de pub.: WO/2018/063418 № do pedido internacional: PCT/US2016/055780
Data de publicação: 05.04.2018 Data de depósito internacional: 06.10.2016
CIP:
G01R 31/3177 (2006.01) ,G06F 9/00 (2006.01) ,G06F 11/26 (2006.01)
G FÍSICA
01
MEDIÇÃO; TESTE
R
MEDIÇÃO DE VARIÁVEIS ELÉTRICAS; MEDIÇÃO DE VARIÁVEIS MAGNÉTICAS
31
Disposições para teste das propriedades elétricas; Disposições para localização de defeitos elétricos; Disposições para teste elétrico caracterizados pelo que está sendo verificado, não incluída em outro local
28
Teste de circuitos eletrônicos, p. ex., por meio de um traçador de sinais
317
Teste de circuitos digitais
3177
Teste de operação lógica, por analisadores lógicos
G FÍSICA
06
CÔMPUTO; CÁLCULO; CONTAGEM
F
PROCESSAMENTO ELÉTRICO DE DADOS DIGITAIS
9
Disposições para controle por programas, p. ex., unidade de controle
G FÍSICA
06
CÔMPUTO; CÁLCULO; CONTAGEM
F
PROCESSAMENTO ELÉTRICO DE DADOS DIGITAIS
11
Detecção de erros; Correção de erros; Monitoração
22
Detecção ou localização de hardware defeituoso por teste durante operações de reserva ("standby") ou durante o tempo ocioso, p. ex.,teste ou teste de início (start-up) da operação
26
Teste funcional
Requerentes:
XCERRA CORPORATION [US/US]; 825 University Avenue Norwood, Massachusetts 02062, US
Inventores:
BROWN, Benjamin; US
POFFENBERGER, Russel; US
Mandatário:
COLANDREO, Brian J.; US
ABRAMSON, Michael T.; US
PLACKER, Jeffrey T.; US
WHITTENBERGER, Mark H.; US
Dados da prioridade:
15/281,96630.09.2016US
Título (EN) COMPACT TESTING SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE TEST COMPACT
Resumo:
(EN) An automated test platform includes a CPU subsystem housed in an enclosure and configured to execute an automated test process. A test head is housed in the enclosure and is configured to apply one or more test signals to a device under test. A power supply is housed in the enclosure and is configured to provide electrical power to the CPU subsystem and the test head.
(FR) L’invention concerne une plate-forme de test automatisée comprenant un sous-système de CPU logé dans une enceinte et conçu pour exécuter un processus de test automatisé. Une tête de test est logée dans l'enceinte et est conçue pour appliquer un ou plusieurs signaux de test à un dispositif soumis au test. Une alimentation électrique est logée dans l'enceinte et est conçue pour fournir de l'énergie électrique au sous-système de CPU et à la tête de test.
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Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organização Regional Africana da Propriedade Intelectual (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Instituto Eurasiático de Patentes (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Instituto Europeu de Patentes (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organização Africana da Propriedade Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Língua de publicação: inglês (EN)
Língua de depósito: inglês (EN)