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1. (WO2018020640) SEMICONDUCTOR DEVICE
Dados bibliográficos mais recentes no arquivo da Secretaria Internacional   

№ de pub.: WO/2018/020640 № do pedido internacional: PCT/JP2016/072158
Data de publicação: 01.02.2018 Data de depósito internacional: 28.07.2016
CIP:
H01L 23/48 (2006.01) ,H01L 21/52 (2006.01)
H ELECTRICIDADE
01
ELEMENTOS ELÉTRICOS BÁSICOS
L
DISPOSITIVOS SEMICONDUTORES; DISPOSITIVOS ELÉTRICOS DE ESTADO SÓLIDO NÃO INCLUÍDOS EM OUTRO LOCAL
23
Detalhes de semicondutores ou outros dispositivos de estado sólido
48
Disposições para conduzir a corrente elétrica até ou a partir de um corpo sólido durante seu funcionamento, p. ex., fios condutores ou disposições de terminais
H ELECTRICIDADE
01
ELEMENTOS ELÉTRICOS BÁSICOS
L
DISPOSITIVOS SEMICONDUTORES; DISPOSITIVOS ELÉTRICOS DE ESTADO SÓLIDO NÃO INCLUÍDOS EM OUTRO LOCAL
21
Processos ou aparelhos especialmente adaptados para a manufatura ou tratamento dos dispositivos semicondutores ou de dispositivos de estado sólido ou de partes dos mesmos
02
Fabricação ou tratamento de dispositivos semicondutores ou de partes dos mesmos
04
tendo o dispositivo, pelo menos, uma barreira de potencial ou uma barreira de superfície, p. ex., junção PN, camada de depleção, camada de concentração de portadores de carga
50
Montagem de dispositivos semicondutores usando processos ou aparelhos não incluídos em um único dos grupos H01L21/06-H01L21/326158
52
Montagem de corpos semicondutores em recipientes
Requerentes:
三菱電機株式会社 MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内二丁目7番3号 7-3, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008310, JP
Inventores:
中田 洋輔 NAKATA, Yosuke; JP
佐々木 太志 SASAKI, Taishi; JP
Mandatário:
高田 守 TAKADA, Mamoru; JP
高橋 英樹 TAKAHASHI, Hideki; JP
Dados da prioridade:
Título (EN) SEMICONDUCTOR DEVICE
(FR) DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEURS
(JA) 半導体装置
Resumo:
(EN) A semiconductor chip (3) is bonded to an upper surface of an electrode substrate (1) via a first solder (2). A lead frame (5) is bonded to an upper surface of the semiconductor chip (3) via a second solder (4). Between the electrode substrate (1) and the semiconductor chip (3), an intermediate plate (6) is provided in the first solder (2). The yield strength of the intermediate plate (6) is higher than that of the electrode substrate (1) and that of the first solder (2) within the service temperature range of the semiconductor device.
(FR) Une puce semi-conductrice (3) est liée à une surface supérieure d'un substrat d'électrode (1) par l'intermédiaire d'une première soudure (2). Une grille de connexion (5) est liée à une surface supérieure de la puce semi-conductrice (3) par l'intermédiaire d'une seconde soudure (4). Entre le substrat d'électrode (1) et la puce semi-conductrice (3), une plaque intermédiaire (6) est prévue dans la première soudure (2). La limite d'élasticité de la plaque intermédiaire (6) est supérieure à celle du substrat d'électrode (1) et celle de la première soudure (2) dans la plage de température de service du dispositif à semi-conducteur.
(JA) 電極基板(1)の上面に第1のはんだ(2)を介して半導体チップ(3)が接合されている。半導体チップ(3)の上面に第2のはんだ(4)を介してリードフレーム(5)が接合されている。電極基板(1)と半導体チップ(3)との間において第1のはんだ(2)中に中間板(6)が設けられている。中間板(6)の耐力は、半導体装置の使用温度範囲の全てにおいて電極基板(1)及び第1のはんだ(2)の耐力よりも大きい。
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Língua de publicação: japonês (JA)
Língua de depósito: japonês (JA)