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1. (WO2017033037) TERAHERTZ WAVEFRONT MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD
Dados bibliográficos mais recentes no arquivo da Secretaria Internacional   

№ de pub.: WO/2017/033037 № do pedido internacional: PCT/IB2015/001589
Data de publicação: 02.03.2017 Data de depósito internacional: 25.08.2015
CIP:
G01J 1/42 (2006.01) ,G01J 1/04 (2006.01) ,G01J 9/00 (2006.01)
G FÍSICA
01
MEDIÇÃO; TESTE
J
MEDIÇÃO DA INTENSIDADE, VELOCIDADE, CONTEÚDO DO ESPECTRO, POLARIZAÇÃO, FASE OU PULSOS CARACTERÍSTICOS DA LUZ INFRAVERMELHA,VISÍVEL OU ULTRAVIOLETA; COLORIMETRIA; PIROMETRIA DAS RADIAÇÕES
1
Fotometria, p. ex., medidor de exposição fotográfica
42
usando detectores elétricos de radiação
G FÍSICA
01
MEDIÇÃO; TESTE
J
MEDIÇÃO DA INTENSIDADE, VELOCIDADE, CONTEÚDO DO ESPECTRO, POLARIZAÇÃO, FASE OU PULSOS CARACTERÍSTICOS DA LUZ INFRAVERMELHA,VISÍVEL OU ULTRAVIOLETA; COLORIMETRIA; PIROMETRIA DAS RADIAÇÕES
1
Fotometria, p. ex., medidor de exposição fotográfica
02
Detalhes
04
Parte óptica ou mecânica
G FÍSICA
01
MEDIÇÃO; TESTE
J
MEDIÇÃO DA INTENSIDADE, VELOCIDADE, CONTEÚDO DO ESPECTRO, POLARIZAÇÃO, FASE OU PULSOS CARACTERÍSTICOS DA LUZ INFRAVERMELHA,VISÍVEL OU ULTRAVIOLETA; COLORIMETRIA; PIROMETRIA DAS RADIAÇÕES
9
Medição da diferença de fases; Determinação do grau de coerência; Medição do comprimento de onda dos raios luminosos
Requerentes:
UNIVERSITE DE BORDEAUX [FR/FR]; 35, place Pey Berland F-33000 Bordeaux, FR
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE [FR/FR]; 3, rue Michel Ange F-75016 Paris, FR
Inventores:
ABRAHAM, Emmanuel Pierre Michel; FR
FREYSZ, Eric; FR
DEGERT, Jérôme; FR
YASUI, Takeshi; JP
CAHYADI, Harsono; JP
Mandatário:
CHAUVIN, Vincent; FR
Dados da prioridade:
Título (EN) TERAHERTZ WAVEFRONT MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE MESURE DE FRONT D'ONDE TÉRAHERTZ
Resumo:
(EN) The invention concerns a Terahertz wavefront measurement system comprising a spatial mask (4, 24) selected among a Terahertz lens array (24) or an array of apertures (4, 14). According to the invention, the Terahertz wavefront measurement system comprises an infrared camera (9), a nonlinear electro-optical crystal (5) having a first face and a second face, the first face being placed adjacent to the spatial mask (4, 24) for receiving an array of multispots in the Terahertz frequency range and the second face being placed for receiving an ultrashort pulsed infrared probe beam (20) and for generating a reflected beam (30) in the infrared frequency range having a wavefront spatial distribution depending on the array of multispots in the Terahertz frequency range, the infrared camera (9) being configured for detecting an image of the reflected beam (30) in the infrared frequency range and a processing system for analyzing the image of reflected beam (30).
(FR) L'invention concerne un système de mesure de front d'onde Térahertz comprenant un masque spatial (4, 24) choisi parmi un réseau de lentilles Térahertz (24) ou un réseau d'ouvertures (4, 14). Selon l'invention, le système de mesure de front d'onde Térahertz comprend une caméra infrarouge (9), un cristal électro-optique non linéaire (5) ayant une première face et une seconde face, la première face étant placée de manière adjacente au masque spatial (4, 24) pour recevoir un réseau de points multiples dans la plage de fréquence Térahertz et la seconde face étant placée pour recevoir un faisceau de sonde infrarouge à impulsions ultracourtes (20) et pour générer un faisceau réfléchi (30) dans la gamme de fréquences des infrarouges ayant une distribution spatiale de fronts d'ondes dépendante du réseau de points multiples dans la plage de fréquence Térahertz, la caméra infrarouge (9) étant configurée pour détecter une image du faisceau réfléchi (30) dans la gamme de fréquences des infrarouges et un système de traitement pour analyser l'image du faisceau réfléchi (30).
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Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organização Regional Africana da Propriedade Intelectual (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Instituto Eurasiático de Patentes (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Instituto Europeu de Patentes (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organização Africana da Propriedade Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Língua de publicação: inglês (EN)
Língua de depósito: inglês (EN)