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1. (US5412880) Method of constructing a 3-dimensional map of a measurable quantity using three dimensional coordinate measuring apparatus

특허청 : 미국
출원번호: 08112605 출원일: 26.08.1993
공개번호: 5412880 공개일: 09.05.1995
특허번호: 5412880 특허부여일: 09.05.1995
공개유형: A
IPC:
G01B 11/03
G01B 7/004
G01B 21/20
G01B 5/008
G01B 21/02
G01B 21/04
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
B
길이, 두께 또는 유사한 직선치의 측정; 각도의 측정; 면적의 측정; 표면 또는 윤곽의 불규칙성 측정
11
광학적 수단의 사용에 의해서 특징 지워진 측정장치
02
길이, 너비 또는 두께 측정용
03
좌표 측정에 의한 것
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
B
길이, 두께 또는 유사한 직선치의 측정; 각도의 측정; 면적의 측정; 표면 또는 윤곽의 불규칙성 측정
7
전기적 또는 자기적 수단의 사용에 의해 특징 지워지는 측정장치
02
길이, 너비 또는 두께 측정용
04
이동체의 길이 또는 너비 측정용에 특히 적합한 것
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
B
길이, 두께 또는 유사한 직선치의 측정; 각도의 측정; 면적의 측정; 표면 또는 윤곽의 불규칙성 측정
21
이 서브클래스의 다른 그룹의, 개별형식의 측정수단에 적합하지 아니한 측정장치 또는 그 세부 포함
20
윤곽 또는 곡률 측정용 예. 프로파일(profile) 측정
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
B
길이, 두께 또는 유사한 직선치의 측정; 각도의 측정; 면적의 측정; 표면 또는 윤곽의 불규칙성 측정
5
기계적 수단의 사용에 의하여 특징 지워진 측정장치
08
직경 측정용
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
B
길이, 두께 또는 유사한 직선치의 측정; 각도의 측정; 면적의 측정; 표면 또는 윤곽의 불규칙성 측정
21
이 서브클래스의 다른 그룹의, 개별형식의 측정수단에 적합하지 아니한 측정장치 또는 그 세부 포함
02
길이, 너비 또는 두께 측정용
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
B
길이, 두께 또는 유사한 직선치의 측정; 각도의 측정; 면적의 측정; 표면 또는 윤곽의 불규칙성 측정
21
이 서브클래스의 다른 그룹의, 개별형식의 측정수단에 적합하지 아니한 측정장치 또는 그 세부 포함
02
길이, 너비 또는 두께 측정용
04
좌표 측정에 의한 것
CPC:
G01B 5/008
G01B 21/04
출원인: Faro Technologies Inc.
발명자: Raab Simon
대리인: Fishman, Dionne & Cantor
우선권 정보 08021949 23.02.1993 US
발명의 명칭: (EN) Method of constructing a 3-dimensional map of a measurable quantity using three dimensional coordinate measuring apparatus
요약서: front page image
(EN)

A novel, portable coordinate measuring machine comprises a multi-jointed (preferably six joints) manually positionable measuring arm for accurately and easily measuring a volume, which in a preferred embodiment, comprises a sphere ranging from six to eight feet in diameter and a measuring accuracy of 2 Sigma.+-.0.005 inch. (It will be appreciated that "Sigma" means "one standard deviation".) In addition to the measuring arm, the present invention employs a controller (or serial box) which acts as the electronic interface between the arm and a host computer. The coordinate measuring machine of this invention is particularly useful in a novel method for constructing a 3-dimensional map of a measurable quantity (such as temperature, coating, thickness, density or the like) using an independent transducer located at the end of the measuring arm.