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1. (US20150362305) Articulating CMM probe

특허청 : 미국
출원번호: 14733006 출원일: 08.06.2015
공개번호: 20150362305 공개일: 17.12.2015
특허번호: 09759540 특허부여일: 12.09.2017
공개유형: B2
IPC:
G01B 5/012
G01B 7/012
G01B 11/30
G01B 15/08
G01B 17/08
G01D 5/34
G01B 21/04
G01B 11/00
G01N 29/22
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
B
길이, 두께 또는 유사한 직선치의 측정; 각도의 측정; 면적의 측정; 표면 또는 윤곽의 불규칙성 측정
5
기계적 수단의 사용에 의하여 특징 지워진 측정장치
004
점의 좌표 측정을 위한 것
008
좌표 측정기를 이용하는 것
012
접촉하는 필러 헤드(feeler head)에 의한 것
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
B
길이, 두께 또는 유사한 직선치의 측정; 각도의 측정; 면적의 측정; 표면 또는 윤곽의 불규칙성 측정
7
전기적 또는 자기적 수단의 사용에 의해 특징 지워지는 측정장치
004
점의 좌표측정용
008
좌표 측정기를 이용하는 것
012
접촉하는 촉각헤드(feeler head)에 의한 것
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
B
길이, 두께 또는 유사한 직선치의 측정; 각도의 측정; 면적의 측정; 표면 또는 윤곽의 불규칙성 측정
11
광학적 수단의 사용에 의해서 특징 지워진 측정장치
30
표면의 거칠기 또는 불규칙성 측정용
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
B
길이, 두께 또는 유사한 직선치의 측정; 각도의 측정; 면적의 측정; 표면 또는 윤곽의 불규칙성 측정
15
파동 또는 입자 방사선의 사용에 의하여 특징 지워지는 측정장치
08
표면의 거칠기 및 불규칙성 측정용
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
B
길이, 두께 또는 유사한 직선치의 측정; 각도의 측정; 면적의 측정; 표면 또는 윤곽의 불규칙성 측정
17
아음파, 음파 또는 초음파 진동의 사용에 의하여 특징 지워진 측정장치
08
표면의 거칠기 및 불규칙성 측정용
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
D
특정변량을 위해서 특별히 적용되지 않는 측정; 단일의 다른 서브클래스에 속하지 않는 그 이상의 변량을 측정하는 장치; 요금계량장치; 특정변량을 위해서 특별히 적용되지 않는 설비의 이동 또는 도입; 달리 분류되지 않는 측정 또는 시험
5
감지요소의 출력을 전달하기 위한 기계적수단; 감지 요소의 출력을 감지요소의 형태나 성질이 변환수단을 구속하지 않는 다른 변화량으로 변환하는 수단; 특별한 변량을 위해 특별히 적용되지 않는 변환기
26
광학적 수단을 사용한 것, 즉 적외선, 가시광선 또는 자외선을 사용하는 것
32
광 빔의 전부 또는 일부를 차폐하는 것 또는 감쇠에 의한 것
34
포토셀로 검지되는 광 빔
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
B
길이, 두께 또는 유사한 직선치의 측정; 각도의 측정; 면적의 측정; 표면 또는 윤곽의 불규칙성 측정
21
이 서브클래스의 다른 그룹의, 개별형식의 측정수단에 적합하지 아니한 측정장치 또는 그 세부 포함
02
길이, 너비 또는 두께 측정용
04
좌표 측정에 의한 것
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
B
길이, 두께 또는 유사한 직선치의 측정; 각도의 측정; 면적의 측정; 표면 또는 윤곽의 불규칙성 측정
11
광학적 수단의 사용에 의해서 특징 지워진 측정장치
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
N
재료의 화학적 또는 물리적 성질의 검출에 의한 재료의 조사 또는 분석
29
초음파, 음파 또는 초저주파를 사용한 물체의 조사 또는 분석; 초음파, 음파 또는 초저주파의 사용에 의한 재료의 조사 음파를 물체에 투과에 의해 물체 내부의 가시화
22
세부
CPC:
G01B 5/012
G01B 7/012
G01B 11/007
G01B 15/08
G01B 17/08
G01B 21/047
G01D 5/34
G01N 29/225
출원인: Hexagon Metrology, Inc.
발명자: Paul Ferrari
Hyun Kwon Jung
James F. McKnight
대리인: Knobbe Matens Olson & Bear LLP
우선권 정보
발명의 명칭: (EN) Articulating CMM probe
요약서: front page image
(EN)

An articulating probe for use with a coordinate measuring machine comprises an attachment portion, a measuring portion, and at least one articulating joint. The attachment portion can be configured for attachment to a coordinate measuring machine. The measuring portion can be configured to contact an object to be measured by the coordinate measuring machine. The at least one articulating joint can be configured to allow rotation between the attachment portion and the measuring portion. Further, the articulating joint can comprise an angular sensor configured to measure an angle of the joint.