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1. (DE102013001109) Verfahren zum Überwachen der Funktionalität eines Schalters und Ansteuerungseinheiten für Schalter

특허청 : 독일
출원번호: 102013001109 출원일: 22.01.2013
공개번호: 102013001109 공개일: 14.08.2013
공개유형: A1
IPC:
H03K 17/812
[IPC code unknown for H03K 17/812]
CPC:
H03K 17/28
G01R 31/3275
출원인: INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA
발명자: BARRENSCHEEN JENS
BEAURENAUT LAURENT
우선권 정보 201213356343 23.01.2012 US
발명의 명칭: (DE) Verfahren zum Überwachen der Funktionalität eines Schalters und Ansteuerungseinheiten für Schalter
요약서: front page image
(DE)

Die Erfindung betrifft Ansteuerungseinheiten für Schalter und Verfahren zum Überwachen der Funktionalität eines Schalters zur Verwendung in einer mit dem Schalter verbundenen Ansteuerungseinheit, insbesondere in sicherheitskritischen Stromversorgungssystemen mit Leistungsschaltern. Gemäß einem erfindungsgemäßen Aspekt wird eine Gate-Ansteuerungseinheit vorgesehen, die eine Eingangsstufe, eine Ausgangsstufe, eine Lese-/Schreibschnittstelle und eine Überwachungsstufe aufweist, wobei die Eingangsstufe so konfiguriert ist, dass sie Steuersignale empfängt und die Steuersignale an die Ausgangsstufe und an die Überwachungsstufe weiterleitet; die Lese-/Schreibschnittstelle ist so konfiguriert, dass sie Konfigurationsdaten empfängt und die Konfigurationsdaten an die Überwachungsstufe weiterleitet; und die Überwachungsstufe ist so konfiguriert, dass sie Signale eines mit der Gate-Ansteuerungseinheit verbundenen Leistungsschalters erfasst und auswertet und die Auswertung der Signale des Leistungsschalters mit den Steuersignalen synchronisiert, wobei die Auswertung der Signale und die Synchronisierung der Auswertung auf den Konfigurationsdaten basieren.