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1. (CN106537135) Articulating CMM probe

특허청 : 중국
출원번호: 201580038611.8 출원일: 10.06.2015
공개번호: 106537135 공개일: 22.03.2017
공개유형: A
PCT 선출원: 출원번호: PCTUS2015035195; 공개번호: (자료를 보려면 번호를 클릭하십시오)
IPC:
G01N 29/04
G01N 29/24
G01B 11/00
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
N
재료의 화학적 또는 물리적 성질의 검출에 의한 재료의 조사 또는 분석
29
초음파, 음파 또는 초저주파를 사용한 물체의 조사 또는 분석; 초음파, 음파 또는 초저주파의 사용에 의한 재료의 조사 음파를 물체에 투과에 의해 물체 내부의 가시화
04
고체의 분석
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
N
재료의 화학적 또는 물리적 성질의 검출에 의한 재료의 조사 또는 분석
29
초음파, 음파 또는 초저주파를 사용한 물체의 조사 또는 분석; 초음파, 음파 또는 초저주파의 사용에 의한 재료의 조사 음파를 물체에 투과에 의해 물체 내부의 가시화
22
세부
24
탐촉자
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
B
길이, 두께 또는 유사한 직선치의 측정; 각도의 측정; 면적의 측정; 표면 또는 윤곽의 불규칙성 측정
11
광학적 수단의 사용에 의해서 특징 지워진 측정장치
CPC:
G01B 5/012
G01B 7/012
G01B 11/007
G01B 15/08
G01B 17/08
G01B 21/047
G01D 5/34
G01N 29/225
G01N 29/048
G01N 29/24
출원인: HEXAGON METROLOGY INC
발명자: FERRARI PAUL A
JUNG HYUN KWON
MCKNIGHT JAMES F
우선권 정보 14/733,006 08.06.2015 US
62/010,943 11.06.2014 US
발명의 명칭: (EN) Articulating CMM probe
(ZH) 铰接CMM探头
요약서: front page image
(EN) An articulating probe for use with a coordinate measuring machine comprises an attachment portion, a measuring portion, and at least one articulating joint. The attachment portion can be configured for attachment to a coordinate measuring machine. The measuring portion can be configured to contact an object, to be measured by the coordinate measuring machine. The at least one articulating joint can be configured to allow rotation between the attachment portion and the measuring portion. Further, the articulating joint can comprise an angular sensor configured to measure an angle of the joint.
(ZH) 由坐标测量机使用的铰接探头包括附接部、测量部以及至少一个铰接接头。所述附接部能够被配置用于附接到坐标测量机。所述测量部能够被配置为接触要通过所述坐标测量机测量的对象。所述至少一个铰接接头能够被配置为允许所述附接部与所述测量部之间的旋转。此外,所述铰接接头可以包括被配置为测量所述接头的角度的角度传感器。
Also published as:
EP3155365WO/2015/191774