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1. (CN101262819) Direct measuring and correction of scatter for CT

특허청 : 중국
출원번호: 200680033557.9 출원일: 01.09.2006
공개번호: 101262819 공개일: 10.09.2008
특허번호: 101262819 특허부여일: 08.06.2011
공개유형: B
PCT 참조번호: 출원번호: PCTIB2006053054; 공개번호: 2007031898 자료를 보려면 여기를 클릭하십시오
IPC:
A61B 6/00
A SECTION A — 생활필수품 농업
61
위생학; 의학 또는 수의학
B
진단; 수술; 개인 식별
6
방사선 진단용 기기, 예. 방사선치료와 결합하여 있는 장치
CPC:
A61B 6/032
A61B 6/027
A61B 6/4028
A61B 6/4291
A61B 6/5282
출원인: Koninkl Philips Electronics NV
皇家飞利浦电子股份有限公司
발명자: Proksa Roland
R·普罗克绍
대리인: wangyang
永新专利商标代理有限公司 72002
우선권 정보 05108406.9 13.09.2005 EP
발명의 명칭: (EN) Direct measuring and correction of scatter for CT
(ZH) CT散射的直接测量及校正
요약서: front page image
(EN) Cone-beam CT scanners with large detector arrays suffer from increased scatter radiation. This radiation may cause severe image artefacts. An examination apparatus is provided which directly measures the scatter radiation and uses this measurement for a correction of the contaminated image data. The measurement is performed by utilizing a 1- dimensional anti-scatter-grid and an X-ray tube with an electronic focal spot movement. Image data is detected at a first position of a focal spot and scatter data is detected at a second position of the focal spot. The image data is corrected on the basis of the scatter data.
(ZH)

具有大探测器阵列的锥束CT扫描器受到散射辐射增加的影响。这种辐射可能导致严重的伪影。提供一种检查装置,其直接地测量散射辐射并利用这种测量结果校正污染的图像数据。利用一维抗散射格栅和具有电子焦点运动的X射线管执行所述测量。在焦点的第一位置探测图像数据且在焦点的第二位置探测散射数据。基于散射数据校正图像数据。


또한로 출판 됨:
JP2009507544