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1. (WO2019067774) SYSTEMS AND METHODS FOR MEASURING VARIOUS PROPERTIES OF AN OBJECT
국제사무국에 기록된 최신 서지정보의견서 제출

공개번호: WO/2019/067774 국제출원번호: PCT/US2018/053203
공개일: 04.04.2019 국제출원일: 27.09.2018
IPC:
G01B 21/04 (2006.01) ,G01B 11/00 (2006.01) ,G01B 7/008 (2006.01) ,G01B 5/008 (2006.01) ,G01N 29/265 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
B
길이, 두께 또는 유사한 직선치의 측정; 각도의 측정; 면적의 측정; 표면 또는 윤곽의 불규칙성 측정
21
이 서브클래스의 다른 그룹의, 개별형식의 측정수단에 적합하지 아니한 측정장치 또는 그 세부 포함
02
길이, 너비 또는 두께 측정용
04
좌표 측정에 의한 것
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
B
길이, 두께 또는 유사한 직선치의 측정; 각도의 측정; 면적의 측정; 표면 또는 윤곽의 불규칙성 측정
11
광학적 수단의 사용에 의해서 특징 지워진 측정장치
(Deprecated)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
B
MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
7
Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic means
02
for measuring length, width, or thickness
06
for measuring thickness
08
using capacitive means
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
B
길이, 두께 또는 유사한 직선치의 측정; 각도의 측정; 면적의 측정; 표면 또는 윤곽의 불규칙성 측정
5
기계적 수단의 사용에 의하여 특징 지워진 측정장치
08
직경 측정용
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
N
재료의 화학적 또는 물리적 성질의 검출에 의한 재료의 조사 또는 분석
29
초음파, 음파 또는 초저주파를 사용한 물체의 조사 또는 분석; 초음파, 음파 또는 초저주파의 사용에 의한 재료의 조사 음파를 물체에 투과에 의해 물체 내부의 가시화
22
세부
26
방향측정 또는 스캐닝(Scanning)을 위한 장치
265
정지한 재료에 대해서 검지기를 이동시키는 것에 의한 것
출원인:
HEXAGON METROLOGY, INC. [US/US]; 250 Circuit Drive North Kingstown, Rhode Island 02852, US
발명자:
DEMITER, David; US
대리인:
DELANEY, Karoline, A.; US
우선권 정보:
62/564,44128.09.2017US
발명의 명칭: (EN) SYSTEMS AND METHODS FOR MEASURING VARIOUS PROPERTIES OF AN OBJECT
(FR) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS DE MESURE DE DIVERSES PROPRIÉTÉS D'UN OBJET
요약서:
(EN) Apparatus adapted to perform a method for measuring various properties of an object, the method comprising: - mounting a first measuring device to an end of an articulated arm coordinate measuring machine, - measuring three dimensional coordinates of a surface of an object using the first device, - mounting a second measuring device to the end of the articulated arm coordinate measuring machine, and - measuring a second property of the object using the second measuring device after the three dimensional coordinates have been measured.
(FR) L'invention concerne un appareil conçu pour effectuer un procédé de mesure de diverses propriétés d'un objet, le procédé consistant à : - monter un premier dispositif de mesure sur une extrémité d'une machine de mesure de coordonnées à bras articulé, - mesurer des coordonnées tridimensionnelles d'une surface d'un objet à l'aide du premier dispositif, - monter un deuxième dispositif de mesure sur l'extrémité de la machine de mesure de coordonnées à bras articulé, et - mesurer une deuxième propriété de l'objet à l'aide du deuxième dispositif de mesure après que les coordonnées tridimensionnelles ont été mesurées.
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아프리카지역 지식재산기구(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
유라시아 특허청(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
유럽 특허청(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
아프리카 지식재산권기구(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
공개언어: 영어 (EN)
출원언어: 영어 (EN)