이 애플리케이션의 일부 콘텐츠는 현재 사용할 수 없습니다.
이 상황이 계속되면 다음 주소로 문의하십시오피드백 및 연락
1. (WO2019066572) METHOD AND DEVICE FOR ANALYZING TARGET ANALYTE IN SAMPLE
국제사무국에 기록된 최신 서지정보    정보 제출

공개번호: WO/2019/066572 국제출원번호: PCT/KR2018/011559
공개일: 04.04.2019 국제출원일: 28.09.2018
IPC:
G16B 5/00 (2019.01) ,G06F 17/10 (2006.01) ,C12Q 1/686 (2018.01) ,G16B 40/00 (2019.01) ,G16B 50/00 (2019.01) ,G06F 17/18 (2006.01) ,G16B 45/00 (2019.01)
[IPC code unknown for G16B 5]
G SECTION G — 물리학
06
산술논리연산; 계산; 계수
F
전기에 의한 디지털 데이터처리
17
디지털 컴퓨팅 또는 데이터 프로세싱 장비, 방법으로서 특정 기능을 위해 특히 적합한 형태의 것
10
복잡한 수학적 연산
[IPC code unknown for C12Q 1/686][IPC code unknown for G16B 40][IPC code unknown for G16B 50]
G SECTION G — 물리학
06
산술논리연산; 계산; 계수
F
전기에 의한 디지털 데이터처리
17
디지털 컴퓨팅 또는 데이터 프로세싱 장비, 방법으로서 특정 기능을 위해 특히 적합한 형태의 것
10
복잡한 수학적 연산
18
통계적 데이터의 평가를 위한 것
[IPC code unknown for G16B 45]
출원인:
SEEGENE, INC. . [KR/KR]; 8FL., 9FL., 91, Ogeum-ro, Songpa-gu Seoul 05548, KR
발명자:
KIM, Young Wook; KR
PARK, Young Yong; KR
KO, Sung Moon; KR
LEE, Young Jo; KR
LEE, Han Bit; KR
대리인:
YOON, Dae Woong; Suite 301, Chungdong Bldg. 1922, Nambusunhwan-ro Gwanak-gu Seoul 08793, KR
우선권 정보:
10-2017-012590828.09.2017KR
10-2017-013677220.10.2017KR
10-2017-014379231.10.2017KR
10-2017-018451029.12.2017KR
발명의 명칭: (EN) METHOD AND DEVICE FOR ANALYZING TARGET ANALYTE IN SAMPLE
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF D'ANALYSE D'ANALYTE CIBLE DANS UN ÉCHANTILLON
요약서:
(EN) The present invention relates to a method and device for determining the presence or absence of a target analyte in a sample. The present invention may analyze the target analyte without false results, especially false positive results by using a fitting accuracy of a nonlinear function to a data set as a direct indicator for target analyte analysis.
(FR) L'invention concerne un procédé et un dispositif permettant de déterminer la présence ou l'absence d'un analyte cible dans un échantillon. La présente invention peut analyser l'analyte cible sans faux résultats, en particulier des faux résultats positifs, au moyen d'une précision d'ajustement d'une fonction non linéaire à un ensemble de données en tant qu'indicateur direct pour une analyse d'analyte cible.
front page image
지정국: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
아프리카지역 지식재산권기구(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
유라시아 특허청 (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
유럽 특허청(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
공개언어: 영어 (EN)
출원언어: 영어 (EN)