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1. (WO2019064632) X-RAY IMAGING DEVICE AND IMAGE PROCESSING METHOD FOR X-RAY IMAGING ELEMENT
국제사무국에 기록된 최신 서지정보정보 제출

공개번호: WO/2019/064632 국제출원번호: PCT/JP2018/008420
공개일: 04.04.2019 국제출원일: 05.03.2018
IPC:
G01T 1/24 (2006.01) ,G01N 23/223 (2006.01) ,G01T 1/36 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
T
원자핵 방사선 또는 X선의 측정
1
X선 , 감마선, 미립자선 또는 우주선의 특징
16
방사선 강도의 측정
24
반도체 검출기를 가진 것
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
N
재료의 화학적 또는 물리적 성질의 검출에 의한 재료의 조사 또는 분석
23
그룹 G01N 21/00 또는 G01N 22/00에 포함되지 않는 파동 또는 입자성 방사선에 의한 재료조사 또는 분석, 예. X-레이 중성자선
22
이차방사의 측정에 의한 것
223
시료를 X선 조사하여 형광 X선을 측정하는 것
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
T
원자핵 방사선 또는 X선의 측정
1
X선 , 감마선, 미립자선 또는 우주선의 특징
36
X선 또는 핵방사선의 스펙트럼 분포의 측정
출원인:
国立研究開発法人物質・材料研究機構 NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE [JP/JP]; 茨城県つくば市千現一丁目2番地1 2-1, Sengen 1-chome, Tsukuba-shi, Ibaraki 3050047, JP
발명자:
桜井 健次 SAKURAI, Kenji; JP
趙 文洋 ZHAO, Wenyang; JP
대리인:
相川 俊彦 AIKAWA, Toshihiko; JP
우선권 정보:
2017-18736128.09.2017JP
발명의 명칭: (EN) X-RAY IMAGING DEVICE AND IMAGE PROCESSING METHOD FOR X-RAY IMAGING ELEMENT
(FR) DISPOSITIF D'IMAGERIE PAR RAYONS X ET PROCÉDÉ DE TRAITEMENT D'IMAGE POUR ÉLÉMENT D'IMAGERIE PAR RAYONS X
(JA) X線撮像装置およびX線撮像素子の画像処理方法
요약서:
(EN) Provided is an X-ray imaging device in which a CCD imaging element, CMOS imaging element, or semiconductor pixel radiation detector designed for visible light wavelength use is suitable for use as an imaging element of a large-area X-ray spectrometer. The X-ray imaging element for receiving energy rays including X-ray photons from an object to be analyzed has unit light-receiving elements in a two-dimensional layout. The unit light-receiving elements have a two-dimensional region for causing charge sharing by receiving the X-ray photons. An X-ray image generation circuit, with which light reception signals from the X-ray imaging element are read for each of the unit light-receiving elements, compares the light reception signals read from each of the unit light-receiving elements with a first threshold value serving as a criterion for recognition as an effective photon event and a second threshold value serving as a criterion for recognition as noise, and uses the signals that clear the first and second threshold values as effective X-ray photon events to generate an X-ray image.
(FR) L'invention concerne un dispositif d'imagerie par rayons X dans lequel un élément d'imagerie à dispositif de couplage de charge (CCD), un élément d'imagerie à semi-conducteur complémentaire à l'oxyde de métal (CMOS), ou un détecteur de rayonnement à pixels semi-conducteurs conçu pour une utilisation dans la longueur d'onde de la lumière visible est approprié pour être utilisé en tant qu'élément d'imagerie d'un spectromètre à rayons X de grande surface. L'élément d'imagerie par rayons X pour recevoir des rayons énergétiques comprenant des photons de rayons X provenant d'un objet à analyser comprend des éléments de réception de lumière unitaires dans une configuration bidimensionnelle. Les éléments de réception de lumière unitaires ont une région bidimensionnelle permettant un partage de charge par réception des photons de rayons X. Un circuit de génération d'image en rayons X, avec lequel des signaux de réception de lumière provenant de l'élément d'imagerie par rayons X sont lus pour chacun des éléments de réception de lumière unitaires, compare les signaux de réception de lumière lus provenant de chacun des éléments de réception de lumière unitaires avec une première valeur seuil servant de critère de reconnaissance comme un événement de photon effectif et une seconde valeur seuil servant de critère de reconnaissance comme un bruit, et utilise les signaux qui effacent les première et seconde valeurs seuil comme événements de photons de rayons X efficaces pour générer une image de rayons X.
(JA) 可視光波長用に設計されたCCD撮像素子、CMOS撮像素子または半導体ピクセル放射線検出器を大面積X線分光器の撮像素子として利用するのに適したX線撮像装置を提供する。分析対象物からのX線光子を含むエネルギー線を受光するX線撮像素子であって、当該X線撮像素子は二次元配置の単位受光素子を有すると共に、当該単位受光素子は当該X線光子の受光による電荷共有を生ずる二次元的領域を有する前記X線撮像素子と、このX線撮像素子からの受光信号を各単位受光素子毎に読み込むX線画像生成回路であって、前記各単位受光素子毎に読み込まれた受光信号と、有効な光子事象と認識する基準となる第1のしきい値及びノイズと認識する基準となる第2のしきい値とを比較して、第1及び第2のしきい値を通過したものを有効なX線光子事象として、X線画像を生成する。
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아프리카 지식재산권기구(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
공개언어: 일본어 (JA)
출원언어: 일본어 (JA)