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1. (WO2019064503) ELECTRON BEAM DEVICE, ILLUMINATION OPTICAL SYSTEM, AND METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE
국제사무국에 기록된 최신 서지정보    정보 제출

공개번호: WO/2019/064503 국제출원번호: PCT/JP2017/035522
공개일: 04.04.2019 국제출원일: 29.09.2017
IPC:
G03F 7/20 (2006.01) ,H01L 21/027 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
03
전자사진; 광파 이외의 파를 사용하는 유사기술; 영화; 사진; 홀로그래피(Holography)
F
사진제판법에 의한 요철화 또는 패턴화 표면의 제조, 예. 인쇄용, 반도체장치의 제조법용; 그것을 위한 재료; 그것을 위한 원료; 그것을 위한 특별히 적합한 장치
7
사진제판법, 예 사진석판법에 의한 요철화 또는 패턴화된 표면의 제조, 예. 인쇄표면의 제조 그것을 위한 재료, 예. 포토레지스트로 된 것 그것을 위하여 특히 적합한 장치
20
노광; 그것을 위한 장치
H SECTION H — 전기
01
기본적 전기소자
L
반도체 장치; 다른 곳에 속하지 않는 전기적 고체 장치
21
반도체 장치 또는 고체 장치 또는 그러한 부품의 제조 또는 처리에 특별히 적용되는 방법 또는 장비
02
반도체장치 또는 그 부품의 제조나 처리
027
후속 포토리소그래픽(photolithographic) 공정을 위한 반도체본체상의 마스크 제조, 그룹 21/18 또는 21/34에 분류된 것은 제외
출원인:
株式会社ニコン NIKON CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区港南二丁目15番3号 15-3, Konan 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1086290, JP
발명자:
西根 達郎 NISHINE Tatsuro; JP
대리인:
山口 孝雄 YAMAGUCHI Takao; JP
우선권 정보:
발명의 명칭: (EN) ELECTRON BEAM DEVICE, ILLUMINATION OPTICAL SYSTEM, AND METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE
(FR) DISPOSITIF À FAISCEAU D'ÉLECTRONS, SYSTÈME OPTIQUE D'ÉCLAIRAGE, ET PROCÉDÉ DE FABRICATION DE DISPOSITIF
(JA) 電子ビーム装置、照明光学系、及びデバイス製造方法
요약서:
(EN) The present invention provides an electron beam device capable of minimizing wasted electrons that do not contribute to the processing of a target. The electron beam device, which irradiates a photoelectric element with light and irradiates the target with an electron beam generated by the photoelectric element, comprises: an illumination optical system that illuminates a first surface; a pattern generator that has a plurality of reflective elements arranged on the first surface and generates a plurality of light beams with the light from the illumination optical system; and a projection optical system for projecting the plurality of light beams from the pattern generator onto the photoelectric conversion surface of the photoelectric element. The illumination optical system includes a focusing optical system for converging a first beam emitted from an illumination pupil in a first direction and a second beam emitted from the illumination pupil in a second direction different from the fist direction, the illumination optical system obliquely illuminating the first surface that is arranged with the normal line tilted relative to the optical axis of the illumination optical system. The focusing optical system includes a focal point tuning member that establishes a focal position in the optical axis direction for the first beam different from a focal position in the optical axis direction for the second beam.
(FR) La présente invention concerne un dispositif à faisceau d'électrons permettant de réduire au minimum le nombre d'électrons perdus qui ne contribuent pas au traitement d'une cible. Le dispositif à faisceau d'électrons, qui expose un élément photoélectrique à la lumière et expose la cible à un faisceau d'électrons produit par l'élément photoélectrique, comprend : un système optique d'éclairage qui éclaire une première surface ; un générateur de motifs qui comprend une pluralité d'éléments réfléchissants placés sur la première surface et qui produit une pluralité de faisceaux lumineux à l'aide de la lumière provenant du système optique d'éclairage ; et un système optique de projection permettant de projeter la pluralité de faisceaux lumineux depuis le générateur de motifs sur la surface de conversion photoélectrique de l'élément photoélectrique. Le système optique d'éclairage comprend un système optique de focalisation permettant de faire converger un premier faisceau émis depuis une pupille d'éclairage dans une première direction et un second faisceau émis depuis la pupille d'éclairage dans une seconde direction différente de la première direction, le système optique d'éclairage éclairant obliquement la première surface qui est agencée de sorte que la ligne normale est inclinée par rapport à l'axe optique du système optique d'éclairage. Le système optique de focalisation comprend un élément de réglage de point focal qui établit une position focale dans la direction d'axe optique du premier faisceau différente d'une position focale dans la direction d'axe optique du second faisceau.
(JA) ターゲットの処理に寄与しない無駄電子の発生を極力抑制することが可能な電子ビーム装置を提供する。光電素子に光を照射し、光電素子から発生する電子ビームをターゲットに照射する電子ビーム装置であって、第1面を照明する照明光学系と、第1面に配置された複数の反射素子を有し、照明光学系からの光で複数の光ビームを発生するパターンジェネレータと、パターンジェネレータからの複数の光ビームを光電素子の光電変換面に投影する投影光学系と、を備えている。照明光学系は、照明瞳から第1方向に沿って射出される第1光束と、照明瞳から第1方向と異なる第2方向に沿って射出される第2光束とを集光する集光光学系を含み、照明光学系の光軸に対して法線が傾くように配置された第1面を斜入射照明し、集光光学系は、第1光束の光軸方向の集光位置と、第2光束の光軸方向の集光位置とを異ならせる集光点調整部材を有する。
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공개언어: 일본어 (JA)
출원언어: 일본어 (JA)