이 애플리케이션의 일부 콘텐츠는 현재 사용할 수 없습니다.
이 상황이 계속되면 다음 주소로 문의하십시오피드백 및 연락
1. (WO2019063539) METHOD AND DEVICE FOR OPTICALLY EXAMINING A PLURALITY OF MICROSCOPIC SAMPLES
국제사무국에 기록된 최신 서지정보    정보 제출

공개번호: WO/2019/063539 국제출원번호: PCT/EP2018/075949
공개일: 04.04.2019 국제출원일: 25.09.2018
IPC:
G02B 21/00 (2006.01) ,G02B 21/36 (2006.01) ,G01N 15/14 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
02
광학
B
광학요소, 광학계 또는 광학장치; H01J; X선 광학 H01J; 29/89
21
현미경
G SECTION G — 물리학
02
광학
B
광학요소, 광학계 또는 광학장치; H01J; X선 광학 H01J; 29/89
21
현미경
36
사진촬영용 또는 투영용으로 구성된 것
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
N
재료의 화학적 또는 물리적 성질의 검출에 의한 재료의 조사 또는 분석
15
입자의 특징의 조사; 다공성 재료의 투과율, 기공량 또는 표면적의 조사
10
개별의 입자조사
14
전기광학적 조사
출원인:
CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH [DE/DE]; Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena, DE
발명자:
KALKBRENNER, Thomas; DE
SIEBENMORGEN, Joerg; DE
OHRT, Thomas; DE
대리인:
PATENTANWÄLTE GEYER, FEHNERS & PARTNER MBB; Sellierstrae 1 07745 Jena, DE
우선권 정보:
10 2017 122 718.029.09.2017DE
발명의 명칭: (EN) METHOD AND DEVICE FOR OPTICALLY EXAMINING A PLURALITY OF MICROSCOPIC SAMPLES
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF POUR L’EXAMEN OPTIQUE D’UNE PLURALITÉ D’ÉCHANTILLONS MICROSCOPIQUES
(DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR OPTISCHEN UNTERSUCHUNG EINER VIELZAHL MIKROSKOPISCHER PROBEN
요약서:
(EN) The invention relates to a method for optically examining a plurality of microscopic samples (1). The samples (1) of the plurality are channeled and guided one after the other by means of a flow into at least one flow channel (3) in which the samples are advanced along a flow direction (23). The samples (1) are illuminated, and the light emitted from the samples (1) is detected and analyzed. The invention also relates to a device for carrying out the method. According to the invention, the samples (1) are illuminated in that at least one light sheet (19) with a light sheet plane (22) is directed onto the at least one flow channel (3), wherein the light sheet (19) is oriented so as to intersect the at least one flow channel (3) in an intersection region (20), and the normal (21) of the light sheet plane (22) forms an angle differing from null together with the flow direction (23) in the intersection region (20). The light emitted from the sample (1) is registered by an imaging optical detection unit (10), and the focal plane of said optical detection unit (10) lies in the intersection region (20).
(FR) L’invention concerne un procédé pour l’examen optique d’une pluralité d’échantillons microscopiques (1), dans lequel les échantillons (1) sont canalisés à partir de la pluralité et guidés les uns après les autres au moyen d’un courant dans au moins un canal d’écoulement (3), dans lequel ils se déplacent le long d’une direction du courant (23). Les échantillons (1) sont illuminés, la lumière émise par les échantillons (1) est détectée et analysée. L'invention concerne en outre un dispositif pour la mise en œuvre du procédé. Selon l’invention, les échantillons (1) sont illuminés, en dirigeant une lame de lumière (19) comprenant un plan de lame de lumière (22) vers l’au moins un canal d’écoulement (3), la lame de lumière (19) étant dirigée de telle façon qu’elle coupe l’au moins un canal d’écoulement (3) dans une zone d’intersection (20) et que la normale (21) au plan de lame de lumière (22) forme un angle non nul avec la direction du courant (23) dans la zone d’intersection (20). La lumière émise par l’échantillon (1) est enregistrée par l’optique de détection (10) de formation d’images, le plan focal de cette optique de détection (10) se situe dans la zone d’intersection (20).
(DE) Die Erfindung betrifft Verfahren zur optischen Untersuchung einer Vielzahl mikroskopischer Proben (1), bei dem die Proben (1) aus der Vielzahl kanalisiert und nacheinander mittels einer Strömung in mindestens einen Durchflusskanal (3) geleitet werden, in dem sie sich entlang einer Strömungsrichtung (23) fortbewegen. Die Proben (1) werden beleuchtet, von den Proben (1) abgestrahltes Licht wird detektiert und analysiert. Die Erfindung betrifft auch eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens. Erfindungsgemäß werden die Proben (1) beleuchtet, indem mindestens ein Lichtblatt (19) mit einer Lichtblattebene (22) auf den mindestens einen Durchflusskanal (3) gerichtet wird, wobei das Lichtblatt (19) so ausgerichtet wird, dass es den mindestens einen Durchflusskanal (3) in einem Schnittbereich (20) schneidet und die Normale (21) der Lichtblattebene (22) mit der Strömungsrichtung (23) im Schnittbereich (20) einen von Null verschiedenen Winkel einschließt. Das von der Probe (1) abgestrahlte Licht wird von einer abbildenden Detektionsoptik (10) registriert, die Fokusebene dieser Detektionsoptik (10) liegt im Schnittbereich (20).
front page image
지정국: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
아프리카지역 지식재산권기구(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
유라시아 특허청 (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
유럽 특허청(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
공개언어: 독일어 (DE)
출원언어: 독일어 (DE)