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1. (WO2019063254) METHOD FOR DETERMINING PROPERTIES OF AN EUV SOURCE
국제사무국에 기록된 최신 서지정보정보 제출

공개번호: WO/2019/063254 국제출원번호: PCT/EP2018/073903
공개일: 04.04.2019 국제출원일: 05.09.2018
IPC:
G03F 7/20 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
03
전자사진; 광파 이외의 파를 사용하는 유사기술; 영화; 사진; 홀로그래피(Holography)
F
사진제판법에 의한 요철화 또는 패턴화 표면의 제조, 예. 인쇄용, 반도체장치의 제조법용; 그것을 위한 재료; 그것을 위한 원료; 그것을 위한 특별히 적합한 장치
7
사진제판법, 예 사진석판법에 의한 요철화 또는 패턴화된 표면의 제조, 예. 인쇄표면의 제조 그것을 위한 재료, 예. 포토레지스트로 된 것 그것을 위하여 특히 적합한 장치
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노광; 그것을 위한 장치
출원인:
CARL ZEISS SMT GMBH [DE/DE]; Rudolf-Eber-Strasse 2 73447 Oberkochen, DE
발명자:
LAUFER, Timo; DE
HAUF, Markus; DE
MÜLLER, Ulrich; DE
대리인:
RAUNECKER, Klaus, Peter; DE
우선권 정보:
10 2017 217 266.528.09.2017DE
발명의 명칭: (DE) VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG VON EIGENSCHAFTEN EINER EUV-QUELLE
(EN) METHOD FOR DETERMINING PROPERTIES OF AN EUV SOURCE
(FR) PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION DE PROPRIÉTÉS D'UNE SOURCE UVE
요약서:
(DE) Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung mindestens einer Eigenschaft einer EUV-Quelle (3) in einer Projektionsbelichtungsanlage (1) für die Halbleiterlithographie, wobei die Eigenschaft anhand der von der EUV-Quelle (3) ausgehenden elektromagnetischen Strahlung (14) ermittelt wird und wobei eine Thermallast für eine Komponente (2) der Projektionsbelichtungsanlage (1) ermittelt wird und anhand der ermittelten Thermallast auf die Eigenschaft geschlossen wird.
(EN) The invention relates to a method for determining at least one property of an EUV source (3) in a projection printing facility (1) for semiconductor lithography, according to which the property is determined on the basis of the electromagmetic radiation (14) emitted from the EUV source (3), a thermal load for a component (2) of the projection printing facility (1) being determined and the property being deduced on the basis of the determined thermal load.
(FR) L'invention concerne un procédé de détermination d'au moins une propriété d'une source UVE (3) dans une installation d'éclairage par projection (1) pour la lithographie de semi-conducteurs, la propriété étant déterminée au moyen du rayonnement électromagnétique (14) émis par la source UVE (3). Selon l'invention, une charge thermique est déterminée pour un composant (2) de l'installation d'éclairage par projection (1) et la propriété est déduite d'après la charge thermique déterminée.
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아프리카 지식재산권기구(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
공개언어: 독일어 (DE)
출원언어: 독일어 (DE)