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1. (WO2019054346) INSPECTION DEVICE
국제사무국에 기록된 최신 서지정보정보 제출

공개번호: WO/2019/054346 국제출원번호: PCT/JP2018/033537
공개일: 21.03.2019 국제출원일: 11.09.2018
IPC:
G02F 1/13 (2006.01) ,G01M 11/00 (2006.01) ,G09F 9/00 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
02
광학
F
광의 강도, 색, 위상, 편광 또는 방향의 제어를 위한 장치 또는 배치, 예. 스위칭, 게이팅, 변조 또는 복조, 의 매체의 광학적성질이 변화에 의하여 광학적 작용이 변화하는 장치 또는 배치; 그와 같은 동작을 위한 기술 또는 처리; 주파수변환; 비선형 광학; 광학적 논리소자; 광학적 아날로그/디지털 변환기
1
독립된 광원으로부터 도달한 광의 강도, 색, 위상, 편광 또는 방향의 제어를 위한 장치 또는 배치, 예. 스위칭, 게이팅 또는 변조 비선형 광학
01
강도, 위상, 편광 또는 색의 제어를 위한 것
13
액정에 기초한 것, 예. 하나의 액정 표시 셀
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
M
기계 또는 구조물의 정적 또는 동적 평형시험; 달리 분류되지 않는 구조물 또는 장치의 시험
11
광학장치의 시험; 달리 분류되지 않는 광학적 방법에 의한 구조의 시험
G SECTION G — 물리학
09
교육; 암호방법; 전시; 광고; 봉인
F
표시; 광고; 사인; 라벨 또는 명찰; 시일
9
정보가 개별소자의 선택 또는 조합에 의하여 지지체상에 형성되는 가변정보용의 표시장치
출원인:
日本電産サンキョー株式会社 NIDEC SANKYO CORPORATION [JP/JP]; 長野県諏訪郡下諏訪町5329番地 5329, Shimosuwa-machi, Suwa-gun, Nagano 3938511, JP
발명자:
赤羽 賢俊 AKAHANE, Masatoshi; JP
吉田 昇悟 YOSHIDA, Shogo; JP
우선권 정보:
2017-17671814.09.2017JP
발명의 명칭: (EN) INSPECTION DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION
(JA) 検査装置
요약서:
(EN) In this inspection device, a power supply part that supplies power to an object of inspection comprises: a plurality of contact probes 28 that contact a terminal of the object of inspection; a probe holding part 29 that holds the plurality of contact probes 28; a rotation mechanism that makes the probe holding part 29 rotate, the axial direction of the rotation being the vertical direction; and a movement mechanism that makes the probe holding part 29 move in the vertical direction, the front-rear direction, and the right-left direction. The probe holding part 29 is fixed to an output shaft of a speed reducer 38 that constitutes a portion of the rotation mechanism. The probe holding part 29 has formed therein a plurality of calibration holes 29b, 29c that position the probe holding part 29 in a rotational direction that is centered on the output shaft of the speed reducer 38 and are for calibrating the movement mechanism. As a result of this configuration, the plurality of contact probes can be moved with precision over the object of inspection as mounted on a mounting part.
(FR) La présente invention concerne un dispositif d'inspection, selon lequel une partie d'alimentation électrique qui fournit de l'énergie à un objet d'inspection comprend : une pluralité de sondes de contact (28) qui entrent en contact avec une borne de l'objet d'inspection ; une partie de maintien de sonde (29) qui maintient la pluralité de sondes de contact (28) ; un mécanisme de rotation qui amène la partie de maintien de sonde (29) à tourner, la direction axiale de la rotation étant la direction verticale ; et un mécanisme de déplacement qui amène la partie de maintien de sonde (29) à se déplacer dans la direction verticale, la direction avant-arrière, et la direction droite-gauche. La partie de maintien de sonde (29) est fixée à un arbre de sortie d'un réducteur de vitesse (38) qui constitue une partie du mécanisme de rotation. La partie de maintien de sonde a une pluralité de trous d'étalonnage (29b, 29c) qui positionnent la partie de maintien de sonde (29) dans une direction de rotation qui est centrée sur l'arbre de sortie du réducteur de vitesse (38) et sont destinés à étalonner le mécanisme de déplacement. Grâce à cette configuration, la pluralité de sondes de contact peut être déplacée avec précision sur l'objet d'inspection tel qu'il est monté sur une partie de montage.
(JA) この検査装置では、検査対象物に電力を供給する電力供給部は、検査対象物の端子に接触する複数のコンタクトプローブ28と、複数のコンタクトプローブ28を保持するプローブ保持部29と、上下方向を回動の軸方向としてプローブ保持部29を回動させる回動機構と、上下方向、前後方向および左右方向にプローブ保持部29を移動させる移動機構とを備えている。プローブ保持部29は、回動機構の一部を構成する減速機38の出力軸に固定されている。プローブ保持部29には、減速機38の出力軸を回動中心とする回動方向でプローブ保持部29を位置合わせするとともに、移動機構を校正するための複数の校正用穴29b、29cが形成されている。これにより、載置部に載置される検査対象物に対して、複数のコンタクトプローブを精度良く移動させることが可能になる。
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아프리카 지식재산권기구(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
공개언어: 일본어 (JA)
출원언어: 일본어 (JA)