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1. (WO2019048727) ELECTRICAL TOMOGRAPHY FOR VERTICAL PROFILING
국제사무국에 기록된 최신 서지정보정보 제출

공개번호: WO/2019/048727 국제출원번호: PCT/FI2017/050628
공개일: 14.03.2019 국제출원일: 06.09.2017
국제예비심사 청구일: 08.07.2019
IPC:
G01N 27/07 (2006.01) ,G01N 27/22 (2006.01) ,G01N 33/28 (2006.01) ,G01R 27/26 (2006.01) ,G01R 27/22 (2006.01) ,G01N 33/02 (2006.01) ,G01N 33/34 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
N
재료의 화학적 또는 물리적 성질의 검출에 의한 재료의 조사 또는 분석
27
전기적, 전기화학적 또는 자기적 수단의 이용에 의한 재료의 조사 또는 분석
02
임피던스의 조사에 의한 것
04
저항의 조사에 의한 것
06
액체의 결함 존재 조사
07
측정용 용기의 구조 그것을 위한 전극
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
N
재료의 화학적 또는 물리적 성질의 검출에 의한 재료의 조사 또는 분석
27
전기적, 전기화학적 또는 자기적 수단의 이용에 의한 재료의 조사 또는 분석
02
임피던스의 조사에 의한 것
22
정전용량의 조사에 의한 것
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
N
재료의 화학적 또는 물리적 성질의 검출에 의한 재료의 조사 또는 분석
33
그룹 1/00 ~ 31/00에 포함 되지 않는 특유의 방법에 의한 재료의 조사 또는 분석
26
유류; 점성액체; 도료; 잉크
28
유류
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
R
전기변량의 측정; 자기변량의 측정
27
저항, 리액턴스, 임피던스 또는 그것으로부터 파생되는 전기적 특성을 측정하는 장치
02
실수 또는 복소저항, 리액턴스, 임피던스 또는 그것으로부터 유도되는 이단자 특성, 예. 시정수,을 측정하는 것
26
유도용량 또는 정전용량의 측정; 품질계수(Quality factor)의 측정, 예. 공진법에 의한 것; 손실계수의 측정; 유전율의 측정
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
R
전기변량의 측정; 자기변량의 측정
27
저항, 리액턴스, 임피던스 또는 그것으로부터 파생되는 전기적 특성을 측정하는 장치
02
실수 또는 복소저항, 리액턴스, 임피던스 또는 그것으로부터 유도되는 이단자 특성, 예. 시정수,을 측정하는 것
22
유체의 저항측정
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
N
재료의 화학적 또는 물리적 성질의 검출에 의한 재료의 조사 또는 분석
33
그룹 1/00 ~ 31/00에 포함 되지 않는 특유의 방법에 의한 재료의 조사 또는 분석
02
식품
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
N
재료의 화학적 또는 물리적 성질의 검출에 의한 재료의 조사 또는 분석
33
그룹 1/00 ~ 31/00에 포함 되지 않는 특유의 방법에 의한 재료의 조사 또는 분석
34
종이류
출원인:
ROCSOLE LTD [FI/FI]; Kauppakatu 20 70100 Kuopio, FI
발명자:
LAAKKONEN, Pasi; FI
LEHIKOINEN, Anssi; FI
MONONEN, Mika; FI
VOUTILAINEN, Arto; FI
대리인:
PAPULA OY; P.O. Box 981 00101 Helsinki, FI
우선권 정보:
발명의 명칭: (EN) ELECTRICAL TOMOGRAPHY FOR VERTICAL PROFILING
(FR) TOMOGRAPHIE ÉLECTRIQUE DE PROFILAGE VERTICAL
요약서:
(EN) An apparatus (600) for determining, by electrical tomography, vertical profile of an electrical property of interest of material(s) in a target volume (618) comprises a measurement probe (610) to be positioned at a plurality of different measurement levels (650) in a target volume and comprising a plurality of measurement elements (111) each having an interface surface (112). Each interface surface has a size, shape, and rotational position. A measurement path (114) is formed between two interface surfaces as dependent on the sizes, shapes, and rotational positions of the two interface surfaces, and the distance between the two interface surfaces. The locations, rotational positions, shapes, and sizes of the interface surfaces are selected to provide at least two different measurement paths differing from each other in one or more of said sizes of, shapes of, rotational positions of, and distances between the associated interface surfaces.
(FR) L'invention concerne un appareil (600) permettant de déterminer, par tomographie électrique, un profil vertical d'une propriété électrique d'intérêt d'un ou plusieurs matériaux dans un volume cible (618) comprenant une sonde de mesure (610) à positionner à une pluralité de niveaux de mesure différents (650) dans un volume cible et comprenant une pluralité d'éléments de mesure (111) possédant chacun une surface d'interface (112). Chaque surface d'interface présente une dimension, une forme et une position de rotation. Un trajet de mesure (114) est formé entre deux surfaces d'interface en fonction des dimensions, des formes et des positions de rotation des deux surfaces d'interface et de la distance entre les deux surfaces d'interface. Les emplacements, les positions de rotation, les formes et les dimensions des surfaces d'interface sont sélectionnés afin de fournir au moins deux trajets de mesure différents différant l'un de l'autre par rapport auxdites tailles, formes, positions de rotation et/ou distances entre les surfaces d'interface associées.
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아프리카지역 지식재산권기구(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
유라시아 특허청(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
유럽 특허청(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
아프리카 지식재산권기구(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
공개언어: 영어 (EN)
출원언어: 영어 (EN)