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1. (WO2019048537) METHOD AND APPARATUS FOR CURRENT MEASUREMENT IN POLYPHASE ELECTRICITY SUPPLY
국제사무국에 기록된 최신 서지정보    정보 제출

공개번호: WO/2019/048537 국제출원번호: PCT/EP2018/073984
공개일: 14.03.2019 국제출원일: 06.09.2018
IPC:
G01R 35/04 (2006.01) ,G01R 21/133 (2006.01) ,G01R 35/02 (2006.01) ,G01R 19/25 (2006.01) ,G01R 15/20 (2006.01) ,G01R 19/00 (2006.01) ,G01R 21/14 (2006.01) ,G01R 19/32 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
R
전기변량의 측정; 자기변량의 측정
35
이 서브클래스의 다른 그룹에 포함되는 장치의 시험 또는 교정
04
전력 또는 전류의 시간적분을 측정하는 계기에 관한 것
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
R
전기변량의 측정; 자기변량의 측정
21
전력 또는 역률의 측정장치
133
디지탈 기술을 사용하는 것
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
R
전기변량의 측정; 자기변량의 측정
35
이 서브클래스의 다른 그룹에 포함되는 장치의 시험 또는 교정
02
보조장치, 예. 규정된 변성비. 위상각, 정격전력에 따른 계기용 변성기에 관한 것
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
R
전기변량의 측정; 자기변량의 측정
19
전류 또는 전압을 측정하고 또는 그것들의 부호 또는 존재를 지시하기 위한 장치
25
디지탈 측정기술을 사용하는 것
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
R
전기변량의 측정; 자기변량의 측정
15
그룹 17/00에서 29/00, 33/00에서 33/26 또는 35/00에 정한 형식의 측정 장치의 세부
14
전압이나 전류절연에의 적용, 예. 고전압이나 고전류 회로망용
20
전류자기 검출장치(galvano-magnetic device)를 사용하는 것, 예. 홀 효과(Hall-effect)장치
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
R
전기변량의 측정; 자기변량의 측정
19
전류 또는 전압을 측정하고 또는 그것들의 부호 또는 존재를 지시하기 위한 장치
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
R
전기변량의 측정; 자기변량의 측정
21
전력 또는 역률의 측정장치
14
온도변화에 대한 보상
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
R
전기변량의 측정; 자기변량의 측정
19
전류 또는 전압을 측정하고 또는 그것들의 부호 또는 존재를 지시하기 위한 장치
32
온도변화에 대한 보상
출원인:
ANALOG DEVICES GLOBAL UNLIMITED COMPANY; 3rd Floor Par La Ville Place 14 Par La Ville Road Hamilton, BM
발명자:
HURWITZ, Jonathan; GB
HOLLAND, William; GB
DANESH, Seyed; GB
대리인:
WITHERS & ROGERS LLP; 4 More London Riverside London Greater London SE1 2AU, GB
HORLER, Philip; GB
우선권 정보:
15/700,86711.09.2017US
발명의 명칭: (EN) METHOD AND APPARATUS FOR CURRENT MEASUREMENT IN POLYPHASE ELECTRICITY SUPPLY
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL DE MESURE DE COURANT DANS UNE ALIMENTATION ÉLECTRIQUE POLYPHASÉE
요약서:
(EN) A measurement circuit is arranged to make several measurements, either at different times or in respect of different frequency components of currents measured by current sensors in respective phases of a multiphase supply system. The measurments are then used to correct for discrepencies in the transfer function of the sensors.
(FR) Un circuit de mesure est conçu pour effectuer plusieurs mesures, soit à des instants différents, soit par rapport à différentes composantes de fréquence de courants mesurés par des capteurs de courant dans des phases respectives d'un système d'alimentation polyphasé. Les mesures sont ensuite utilisées pour corriger des écarts dans la fonction de transfert des capteurs.
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지정국: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
아프리카지역 지식재산권기구(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
유라시아 특허청 (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
유럽 특허청(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
공개언어: 영어 (EN)
출원언어: 영어 (EN)