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1. (WO2019047863) APPARATUSES AND METHODS FOR OPTICAL CALIBRATION
국제사무국에 기록된 최신 서지정보    정보 제출

공개번호: WO/2019/047863 국제출원번호: PCT/CN2018/104213
공개일: 14.03.2019 국제출원일: 05.09.2018
IPC:
G06T 15/00 (2011.01) ,G01M 15/05 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
06
산술논리연산; 계산; 계수
T
이미지 데이터 처리 또는 발생 일반
15
삼차원(3D) 화상 렌더링
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
M
기계 또는 구조물의 정적 또는 동적 평형시험; 달리 분류되지 않는 구조물 또는 장치의 시험
15
엔진의 시험
04
내연기관의 시험, 예. 피스톤 기관의 진단적 시험
05
2 또는 그 이상이 다른 엔진 파라미터를 조합해 감시하는 것
출원인:
LI, Xuesong [CN/CN]; CN
DAI, Siyi [CN/CN]; CN
발명자:
LI, Xuesong; CN
DAI, Siyi; CN
대리인:
SUNRAY INTELLECTUAL PROPERTY ATTORNEYS; LI, Zheng Suite 1806, Tomson Commercial Building 710 Dong Fang Road, Pudong District Shanghai 200122, CN
우선권 정보:
15/696,79106.09.2017US
발명의 명칭: (EN) APPARATUSES AND METHODS FOR OPTICAL CALIBRATION
(FR) APPAREILS ET PROCÉDÉS D'ÉTALONNAGE OPTIQUE
요약서:
(EN) An apparatus for optical calibration includes a calibration target (210, 415, 520, 610) simulating a combustion (115). The calibration target (210, 415, 520, 610) further includes a first light-emitting pattern (215, 521) and a first light-emitting mechanism effecting the first light-emitting pattern (215, 521). The apparatus includes two optical cameras (105-108, 205-208, 305-308, 405-408) aiming at the calibration target (210, 415, 520, 610), wherein each optical camera has an observation axis and there is an angle between the two observation axes.
(FR) L'invention concerne un appareil d'étalonnage optique qui comprend une cible d'étalonnage (210, 415, 520, 610) simulant une combustion (115). La cible d'étalonnage (210, 415, 520, 610) comprend en outre un premier motif d'émission de lumière (215, 521) et un premier mécanisme d'émission de lumière effectuant le premier motif d'émission de lumière (215, 521). L'appareil comprend deux caméras optiques (105-108, 205-208, 305-308, 405-408) visant la cible d'étalonnage (210, 415, 520, 610). Chaque caméra optique a un axe d'observation et il y a un angle entre les deux axes d'observation.
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아프리카지역 지식재산권기구(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
유라시아 특허청 (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
유럽 특허청(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
공개언어: 영어 (EN)
출원언어: 영어 (EN)