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1. (WO2019046741) FINISHED PALLET INSPECTION APPARATUS
국제사무국에 기록된 최신 서지정보    정보 제출

공개번호: WO/2019/046741 국제출원번호: PCT/US2018/049127
공개일: 07.03.2019 국제출원일: 31.08.2018
IPC:
G01N 21/88 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
N
재료의 화학적 또는 물리적 성질의 검출에 의한 재료의 조사 또는 분석
21
광학적 수단, 즉 적외선, 가시광선, 또는 자외선을 사용하는 것에 의한 재료의 조사 또는 분석
84
특수한 적용에 특히 적합한 시스템
88
결함, 상처 또는 오염의 존재조사
출원인:
BALL CORPORATION [US/US]; 10 Longs Peak Drive Broomfield, CO 80021-2510, US
발명자:
ROBINSON, David C.; US
대리인:
KLOBUCHAR, Peter M.; US
우선권 정보:
62/553,34201.09.2017US
발명의 명칭: (EN) FINISHED PALLET INSPECTION APPARATUS
(FR) APPAREIL D'INSPECTION DE PALETTE TERMINÉE
요약서:
(EN) An image recorder (18) supported above a conveyor (22) captures images of a top surface of the loaded pallet (30) supported on the conveyor (22). The image is transmitted to a computer (26). A software routine stored on a memory on the computer (26) compares the image to a manufacturing specification. The software routine determines whether the image is within a manufacturing tolerance of the manufacturing specification.
(FR) L'invention concerne un enregistreur d'images (18) supporté au-dessus d'un transporteur (22) qui capture des images d'une surface supérieure de la palette chargée (30) supportée sur le transporteur (22). L'image est transmise à un ordinateur (26). Un programme logiciel stocké sur une mémoire de l'ordinateur (26) compare l'image à une spécification de fabrication. Le programme logiciel détermine si l'image se situe dans une tolérance de fabrication de la spécification de fabrication.
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지정국: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
아프리카지역 지식재산권기구(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
유라시아 특허청 (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
유럽 특허청(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
공개언어: 영어 (EN)
출원언어: 영어 (EN)