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1. (WO2019045943) OPTIMIZED SCAN INTERVAL
국제사무국에 기록된 최신 서지정보    정보 제출

공개번호: WO/2019/045943 국제출원번호: PCT/US2018/044794
공개일: 07.03.2019 국제출원일: 01.08.2018
IPC:
G11C 16/26 (2006.01) ,G11C 16/34 (2006.01) ,G06F 11/07 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
11
정보저장
C
정적기억
16
소거가능한 프로그램할 수 있는 읽기 전용메모리
02
전기적으로 프로그램할 수 있는 것
06
보조회로들, 예, 메모리에 쓰는 회로
26
센싱 읽기 회로; 데이터 출력회로
G SECTION G — 물리학
11
정보저장
C
정적기억
16
소거가능한 프로그램할 수 있는 읽기 전용메모리
02
전기적으로 프로그램할 수 있는 것
06
보조회로들, 예, 메모리에 쓰는 회로
34
프로그래밍 상태의 결정, 예. 문턱치 전압, 오버 프로그래밍 또는 언더프로그래밍, 보존
G SECTION G — 물리학
06
산술논리연산; 계산; 계수
F
전기에 의한 디지털 데이터처리
11
에러 검출; 에러 정정; 감시
07
결함의 발생에 응답하는 것에 관한 것, 예 결함 허용(fault tolerance)
출원인:
MICRON TECHNOLOGY, INC. [US/US]; 8000 So. Federal Way Boise, Idaho 83716-9632, US
발명자:
MUCHHERLA, Kishore Kumar; US
MALSHE, Ashutosh; US
SINGIDI, Harish Reddy; US
ALSASUA, Gianni Stephen; US
BESINGA, Gary F.; US
RATNAM, Sampath; US
FEELEY, Peter Sean; US
대리인:
PERDOK, Monique M.; US
ARORA, Suneel; US
BEEKMAN, Marvin L.; US
BLACK, David W.; US
SCHEER, Bradley W.; US
우선권 정보:
15/692,40731.08.2017US
발명의 명칭: (EN) OPTIMIZED SCAN INTERVAL
(FR) INTERVALLE DE BALAYAGE OPTIMISÉ
요약서:
(EN) A variety of applications can include apparatus and/or methods of operating the apparatus that include a memory device having read levels that can be calibrated. A calibration controller implemented with the memory device can trigger a read level calibration based on inputs from one or more trackers monitoring parameters associated with the memory device and a determination of an occurrence of at least one event from a set of events related to the monitored parameters. The monitored parameters can include parameters related to a selected time interval and measurements of read, erase, or write operations of the memory device. Additional apparatus, systems, and methods are disclosed.
(FR) L'invention concerne diverses applications qui peuvent comprendre un appareil et/ou des procédés de fonctionnement de l'appareil qui comprennent un dispositif de mémoire présentant des niveaux de lecture qui peuvent être étalonnés. Un dispositif de commande d'étalonnage mis en oeuvre avec le dispositif de mémoire peut déclencher un étalonnage de niveau de lecture sur la base d'entrées provenant d'un ou plusieurs dispositifs de suivi surveillant des paramètres associés au dispositif de mémoire et une détermination d'une occurrence d'au moins un événement à partir d'un ensemble d'événements liés aux paramètres surveillés. Les paramètres surveillés peuvent comprendre des paramètres associés à un intervalle de temps sélectionné et des mesures d'opérations de lecture, d'effacement ou d'écriture du dispositif de mémoire. L'invention concerne en outre un appareil, des systèmes et des procédés supplémentaires.
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아프리카지역 지식재산권기구(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
유라시아 특허청 (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
유럽 특허청(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
공개언어: 영어 (EN)
출원언어: 영어 (EN)