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1. (WO2019045027) NONDESTRUCTIVE TEST METHOD AND NONDESTRUCTIVE TEST INSTRUMENT
국제사무국에 기록된 최신 서지정보    정보 제출

공개번호: WO/2019/045027 국제출원번호: PCT/JP2018/032282
공개일: 07.03.2019 국제출원일: 31.08.2018
IPC:
G01N 27/82 (2006.01) ,G01R 33/02 (2006.01) ,G01R 33/10 (2006.01) ,H01M 10/42 (2006.01) ,H01M 10/48 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
N
재료의 화학적 또는 물리적 성질의 검출에 의한 재료의 조사 또는 분석
27
전기적, 전기화학적 또는 자기적 수단의 이용에 의한 재료의 조사 또는 분석
72
자기변화량의 조사에 의한 것
82
결함의 조사용
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
R
전기변량의 측정; 자기변량의 측정
33
자기량을 측정하는 계기 또는 장치
02
자계 또는 자속의 방향 또는 크기의 측정
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
R
전기변량의 측정; 자기변량의 측정
33
자기량을 측정하는 계기 또는 장치
02
자계 또는 자속의 방향 또는 크기의 측정
10
자계분포를 도시하는 것
H SECTION H — 전기
01
기본적 전기소자
M
화학적 에너지 전기적 에너지 직접 변환하기 위한 방법 또는 수단, 예. 전지
10
2차전지; 그의 제조
42
2차전지 또는 2차전지의 수리 또는 보수를 위한 방법 또는 장치
H SECTION H — 전기
01
기본적 전기소자
M
화학적 에너지 전기적 에너지 직접 변환하기 위한 방법 또는 수단, 예. 전지
10
2차전지; 그의 제조
42
2차전지 또는 2차전지의 수리 또는 보수를 위한 방법 또는 장치
48
측정, 시험, 상태의 표시를 위한 장치와 결합한 축전지, 예. 전해질의 수위 또는 밀도
출원인:
コニカミノルタ株式会社 KONICA MINOLTA, INC. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内二丁目7番2号 2-7-2, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo 1007015, JP
발명자:
関根 孝二郎 SEKINE, Koujirou; JP
今田 昌宏 IMADA, Masahiro; JP
八木 司 YAGI, Tsukasa; JP
土田 匡章 TSUCHIDA, Masaaki; JP
波多野 卓史 HATANO, Takuji; JP
대리인:
特許業務法人光陽国際特許事務所 KOYO INTERNATIONAL PATENT FIRM; 東京都千代田区有楽町一丁目1番3号 東京宝塚ビル17階 17F., Tokyo Takarazuka Bldg., 1-1-3, Yurakucho, Chiyoda-ku, Tokyo 1000006, JP
우선권 정보:
2017-16816801.09.2017JP
발명의 명칭: (EN) NONDESTRUCTIVE TEST METHOD AND NONDESTRUCTIVE TEST INSTRUMENT
(FR) PROCÉDÉ DE TEST NON DESTRUCTIF ET INSTRUMENT DE TEST NON DESTRUCTIF
(JA) 非破壊検査方法及び非破壊検査装置
요약서:
(EN) According to the present invention, when the site of an abnormality in a sample is detected by measuring a magnetic field distribution generated by the flow of a current through the sample, even when there is movement of the same sample between one measurement of the sample and another measurement performed after time has passed, the positions of the magnetic field distribution respectively obtained through the two measurements are adjusted. In this nondestructive test method: magnetic marks 15a, 15b, 15c are formed on one sample 1; one measurement, and another measurement performed after time has passed, are subsequently performed on the one sample; a magnetic field distribution for the one sample that includes a magnetic field generated by the magnetic marks in the one measurement is measured; a magnetic field distribution for the one sample that includes a magnetic field generated by the magnetic marks in the other measurement is measured; and the coordinates of the magnetic field distribution for the one sample acquired in the one measurement and the coordinates of the magnetic field distribution for the one sample acquired in the other measurement are caused to conform to magnetic field detection coordinates of the magnetic marks.
(FR) Selon la présente invention, lorsque le site d'une anomalie dans un échantillon est détecté par mesure d'une distribution de champ magnétique générée par la circulation d'un courant à travers l'échantillon, même lorsqu'il y a un mouvement de cet échantillon entre une mesure de l'échantillon et une autre mesure effectuée après écoulement d'un laps de temps, les positions de la distribution de champ magnétique obtenues respectivement par les deux mesures sont ajustées. L'invention concerne un procédé de test non destructif dans lequel des marques magnétiques 15a, 15b, 15c sont formées sur un échantillon 1 ; une mesure, et une autre mesure effectuée après écoulement d'un laps de temps, sont ensuite effectuées sur l'échantillon ; une distribution de champ magnétique pour l'échantillon qui comprend un champ magnétique généré par les marques magnétiques dans la première mesure est mesurée ; une distribution de champ magnétique pour l'échantillon qui comprend un champ magnétique généré par les marques magnétiques dans l'autre mesure est mesurée ; et les coordonnées de la distribution de champ magnétique pour l'échantillon acquises dans la première mesure et les coordonnées de la distribution de champ magnétique pour l'échantillon acquises dans l'autre mesure sont amenées à se conformer aux coordonnées de détection de champ magnétique des marques magnétiques.
(JA) 試料に電流を流して発生する磁場分布を測定して試料の異常箇所を検出するにあたり、同一試料についての一の測定と時間経過した後の他の測定との間に同試料の移動があっても、両測定によりそれぞれ得られた磁場分布の位置を整合させる。一の試料1に磁性マーク15a,15b,15cを形成した後、前記一の試料について一の測定と時間経過した後の他の測定とを行い、前記一の測定において前記磁性マークから発生する磁場を含む前記一の試料の磁場分布を測定し、前記他の測定において前記磁性マークから発生する磁場を含む前記一の試料の磁場分布を測定し、前記一の測定により取得した前記一の試料の磁場分布の座標と、前記他の測定により取得した前記一の試料の磁場分布の座標とを、前記磁性マークの磁場検出座標を一致させることにより対応させる。
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공개언어: 일본어 (JA)
출원언어: 일본어 (JA)