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1. (WO2019009603) 터치 센서 검사 장치 및 방법
국제사무국에 기록된 최신 서지정보    정보 제출

공개번호: WO/2019/009603 국제출원번호: PCT/KR2018/007553
공개일: 10.01.2019 국제출원일: 04.07.2018
IPC:
G01R 31/28 (2006.01) ,G06F 3/041 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
R
전기변량의 측정; 자기변량의 측정
31
전기적 특성을 시험하기 위한 장치; 전기적 고장의 위치를 나타내기 위한 장치; 달리 분류가 되지 않고 시험하는 것에 특징이 있는 전기적 시험을 위한 장치
28
전자회로의 시험, 예. 신호추적기(signal tracer)에 의한 것
G SECTION G — 물리학
06
산술논리연산; 계산; 계수
F
전기에 의한 디지털 데이터처리
3
컴퓨터로 처리할 수 있는 형식으로 전송된 데이터를 변환하는 입력기구; 처리장치로부터 출력장치로 데이터를 전송하기 위한 출력기구, 예. 인터페이스 기구
01
사용자와 컴퓨터의 상호작용을 위한 입력장치 또는 입력과 출력이 결합한 장치
03
암호화된 형태로 위치의 변위 또는 구성부재의 대체를 위한 배열.
041
변환 수단에 의해 특징지워진 디지타이저, 예. 터치 스크린 또는 터치 패드용의 것
출원인:
동우 화인켐 주식회사 DONGWOO FINE-CHEM CO., LTD. [KR/KR]; 전라북도 익산시 약촌로 132 132, Yakchon-ro Iksan-si, Jeollabuk-do 54631, KR
발명자:
김종우 KIM, Jong Woo; KR
이태규 LEE, Tae Kyu; KR
전주병 JEON, Joo Byung; KR
이한배 LEE, Han Bae; KR
대리인:
특허법인 다래 DARAE IP FIRM; 서울시 강남구 테헤란로 132, 10층 (역삼동, 한독타워) (Handok Tower, Yeoksam-dong) 10th Floor, 132, Teheran-ro Gangnam-gu, Seoul 06235, KR
우선권 정보:
10-2017-008600406.07.2017KR
발명의 명칭: (EN) DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING TOUCH SENSOR
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'INSPECTION D'UN CAPTEUR TACTILE
(KO) 터치 센서 검사 장치 및 방법
요약서:
(EN) The present invention relates to a device and a method for inspecting a touch sensor. The present invention comprises: a stage on which a touch sensor, which includes a bonding pad part bonded to a first contact part of an FPCB and a sensing part electrically connected to the bonding pad part, is arranged; a lower inspection block provided at a position lower than that of the stage and bonded to a second contact part of the FPCB; an upper press block for pressing the lower inspection block bonded to the second contact part of the FPCB; and a rail guide part for providing a path along which the lower inspection block pressed by the upper press block moves toward the stage. According to the present invention, whether fine cracks that can cause a product defect are present in the bonding pad part of the touch sensor can be checked through simple and quick electrical inspection without performing an optical inspection.
(FR) La présente invention concerne un dispositif et un procédé d'inspection d'un capteur tactile. La présente invention comprend : un étage sur lequel est placé un capteur tactile, qui comprend une partie plot de connexion fixée à une première partie de contact d'une FPCB et une partie de détection connectée électriquement à la partie plot de connexion ; un bloc d'inspection inférieur prévu à une position inférieure à celle de l'étage et fixé à une seconde partie de contact de la FPCB ; un bloc de presse supérieur permettant de presser le bloc d'inspection inférieur fixé à la seconde partie de contact de la FPCB ; et une partie de guidage de rail permettant de fournir un trajet le long duquel le bloc d'inspection inférieur pressé par le bloc de presse supérieur se déplace vers l'étage. La présente invention permet de vérifier si des fissures fines qui peuvent provoquer un défaut de produit sont présentes dans la partie plot de connexion du capteur tactile par une inspection électrique simple et rapide sans réaliser d'inspection optique.
(KO) 본 발명은 터치 센서 검사 장치 및 방법에 관한 것이다. 본 발명은 FPCB의 제1 접촉부에 접착된 본딩 패드부 및 상기 본딩 패드부에 전기적으로 연결된 센싱부를 포함하는 터치 센서가 배치되는 스테이지, 상기 스테이지보다 낮은 위치에 구비되며 상기 FPCB의 제2 접촉부에 접착된 하부 검사 블록, 상기 FPCB의 제2 접촉부에 접착된 하부 검사 블록을 누르는 상부 누름 블록 및 상기 상부 누름 블록에 의해 눌러진 하부 검사 블록이 상기 스테이지를 향하여 이동하는 경로를 제공하는 레일 가이드부를 포함한다. 본 발명에 따르면, 터치 센서의 본딩 패드부에 제품 불량으로 이어질 수 있는 미세 크랙이 존재하는지 여부를 광학 검사를 수행하지 않고도 단순하고 신속한 전기적 검사를 통해 확인할 수 있다.
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지정국: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
공개언어: 한국어 (KO)
출원언어: 한국어 (KO)