이 애플리케이션의 일부 콘텐츠는 현재 사용할 수 없습니다.
이 상황이 계속되면 다음 주소로 문의하십시오피드백 및 연락
1. (WO2019008964) INTERFEROMETER, FOURIER TRANSFORM SPECTROSCOPIC DEVICE, AND COMPONENT ANALYZING DEVICE
국제사무국에 기록된 최신 서지정보    정보 제출

공개번호: WO/2019/008964 국제출원번호: PCT/JP2018/021192
공개일: 10.01.2019 국제출원일: 01.06.2018
IPC:
G01J 3/45 (2006.01) ,G01N 21/35 (2014.01) ,G01B 9/02 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
J
적외선, 가시광선 또는 자외선의 강도, 속도, 스펙트럼, 편광 또는 위상 또는 펄스의 측정; 색의 측정; 방사온도측정
3
분광측정; 분광광도측정; 모노크로미터 색의 측정
28
스펙트럼의 조사
45
간섭 분광장치
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
N
재료의 화학적 또는 물리적 성질의 검출에 의한 재료의 조사 또는 분석
21
광학적 수단, 즉 적외선, 가시광선, 또는 자외선을 사용하는 것에 의한 재료의 조사 또는 분석
17
조사될 재료의 특성에 따라 입사광이 변조되는 시스템
25
색; 스펙트럼특성, 즉 둘 또는 그이상의 파장 혹은 파장대에 있어서 재료가 빛에 주는 효과의 비교
31
특정한 원소 또는 분자에 대한 파장특성에 있어서의 재료의 상대적 효과 조사, 예. 원자흡광분광
35
적외선을 이용하는 것
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
B
길이, 두께 또는 유사한 직선치의 측정; 각도의 측정; 면적의 측정; 표면 또는 윤곽의 불규칙성 측정
9
이 서브그룹에 기술되고 또한 광학적 측정수단의 사용에 의하여 특정 지워진 계기
02
간섭계
출원인:
国立研究開発法人産業技術総合研究所 NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY [JP/JP]; 東京都千代田区霞が関1丁目3番1号 3-1, Kasumigaseki 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008921, JP
발명자:
古川 祐光 FURUKAWA, Hiromitsu; JP
대리인:
稲葉 良幸 INABA, Yoshiyuki; JP
大貫 敏史 ONUKI, Toshifumi; JP
우선권 정보:
2017-13041003.07.2017JP
발명의 명칭: (EN) INTERFEROMETER, FOURIER TRANSFORM SPECTROSCOPIC DEVICE, AND COMPONENT ANALYZING DEVICE
(FR) INTERFÉROMÈTRE, DISPOSITIF SPECTROSCOPIQUE À TRANSFORMÉE DE FOURIER ET DISPOSITIF D'ANALYSE DE COMPOSANT
(JA) 干渉計、フーリエ変換分光装置及び成分分析装置
요약서:
(EN) Provided are an interferometer, a Fourier transform spectroscopic device and a component analyzing device which are highly resistant to vibration, are inexpensive and compact, and have a high resolution. An interferometer 10 is provided with: a first polarizing element 13 which allows certain polarized light among incident light to pass; a birefringent crystal 14 which is arranged downstream of the first polarizing element 13 and is arranged rotatably about an axis of rotation in the incident direction of light emitted from the first polarizing element 13; a second polarizing element 15 which is arranged downstream of the birefringent crystal 14 and which allows certain polarized light among the light emitted from the birefringent crystal 14 to pass; and a light receiving element 17 which is arranged downstream of the second polarizing element 15 and which converts the light emitted from the second polarizing element 15 into an electrical signal; wherein the first polarizing element 13, the birefringent crystal 14, the second polarizing element 15 and the light receiving element 17 are arranged in a straight line.
(FR) L'invention concerne un interféromètre, un dispositif spectroscopique à transformée de Fourier et un dispositif d'analyse de composant qui sont hautement résistants aux vibrations, qui sont peu coûteux et compacts, et qui ont une résolution élevée. Un interféromètre (10) est pourvu : d'un premier élément de polarisation (13), qui permet à une certaine lumière polarisée au sein d'une lumière incidente de passer ; un cristal biréfringent (14), qui est disposé en aval du premier élément de polarisation (13) et qui est agencé de façon à pouvoir tourner autour d'un axe de rotation dans le sens d'incidence de la lumière émise par le premier élément de polarisation (13) ; un second élément polarisant (15), qui est disposé en aval du cristal biréfringent (14) et qui permet à une certaine lumière polarisée au sein de la lumière émise par le cristal biréfringent (14) de passer ; et un élément de réception de lumière (17), qui est disposé en aval du second élément de polarisation (15) et qui convertit la lumière émise par le second élément de polarisation (15) en un signal électrique ; le premier élément de polarisation (13), le cristal biréfringent (14), le second élément de polarisation (15) et l'élément de réception de lumière (17) étant disposés en ligne droite.
(JA) 耐振性が高く、安価で小型であり、分解能が高い干渉計、フーリエ変換分光装置及び成分分析装置を提供する。干渉計10は、入射された光のうち所定の偏光を通過させる第1偏光素子13と、第1偏光素子13の後段に配置され、第1偏光素子13から出射された光の入射方向を回転軸として回転可能に配置された複屈折結晶14と、複屈折結晶14の後段に配置され、複屈折結晶14から出射された光のうち所定の偏光を通過させる第2偏光素子15と、第2偏光素子15の後段に配置され、第2偏光素子15から出射された光を電気信号に変換する受光素子17と、を備え、第1偏光素子13、複屈折結晶14、第2偏光素子15及び受光素子17は、直線的に配置される。
front page image
지정국: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
아프리카지역 지식재산권기구(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
유라시아 특허청 (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
유럽 특허청(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
공개언어: 일본어 (JA)
출원언어: 일본어 (JA)