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1. (WO2019002478) DEVICE AND METHOD FOR DETECTING PARTICLES
국제사무국에 기록된 최신 서지정보    정보 제출

공개번호: WO/2019/002478 국제출원번호: PCT/EP2018/067437
공개일: 03.01.2019 국제출원일: 28.06.2018
IPC:
G01N 21/47 (2006.01) ,G01N 15/06 (2006.01) ,G01N 21/27 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
N
재료의 화학적 또는 물리적 성질의 검출에 의한 재료의 조사 또는 분석
21
광학적 수단, 즉 적외선, 가시광선, 또는 자외선을 사용하는 것에 의한 재료의 조사 또는 분석
17
조사될 재료의 특성에 따라 입사광이 변조되는 시스템
47
산란, 즉 확산 반사
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
N
재료의 화학적 또는 물리적 성질의 검출에 의한 재료의 조사 또는 분석
15
입자의 특징의 조사; 다공성 재료의 투과율, 기공량 또는 표면적의 조사
06
현탁질의 농도조사
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
N
재료의 화학적 또는 물리적 성질의 검출에 의한 재료의 조사 또는 분석
21
광학적 수단, 즉 적외선, 가시광선, 또는 자외선을 사용하는 것에 의한 재료의 조사 또는 분석
17
조사될 재료의 특성에 따라 입사광이 변조되는 시스템
25
색; 스펙트럼특성, 즉 둘 또는 그이상의 파장 혹은 파장대에 있어서 재료가 빛에 주는 효과의 비교
27
광전검출기의 이용
출원인:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Werner-von-Siemens-Straße 1 80333 München, DE
발명자:
WILLSCH, Michael; DE
RICHTER, Markus; DE
우선권 정보:
17178655.129.06.2017EP
발명의 명칭: (EN) DEVICE AND METHOD FOR DETECTING PARTICLES
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE PARTICULES
(DE) VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR DETEKTION VON PARTIKELN
요약서:
(EN) The invention relates to a device (10) and a method for detecting particles (20), comprising at least one light source (12) and at least one detector (14) for detecting light. At least one medium (16) can be transilluminated by light provided by the light source (12) and has a deposition surface (18) for the particles (20). The detector (14) is designed to detect light penetrating the medium (16) and reflected by the particles (20) deposited on the deposition surface (18).
(FR) L'invention concerne un dispositif (10) ainsi qu'un procédé de détection de particules (20), le dispositif comprenant au moins une source de lumière (12) et au moins un détecteur (14) servant à détecter la lumière, au moins un milieu (16) pouvant être traversé par la lumière émise par la source de lumière (12) et présentant une surface de dépôt (18) pour les particules (20), le détecteur (14) étant conçu pour détecter la lumière qui est réfléchie par les particules (20) déposées sur la surface de dépôt (18) et qui traverse le milieu (16).
(DE) Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung (10) sowie ein Ver- fahren zur Detektion von Partikeln (20), mit wenigstens einer Lichtquelle (12), und mit wenigstens einem Detektor (14) zum Erfassen von Licht, wobei wenigstens ein Medium (16) von von der Lichtquelle (12) bereitgestelltem Licht durchleuchtbar ist, welches eine Ablagerungsoberfläche (18) für die Partikel (20) aufweist, wobei der Detektor (14) dazu ausgebildet ist, von den auf der Ablagerungsoberfläche (18) abgelagerten Par- tikeln (20) reflektiertes und das Medium (16) durchdringendes Licht zu erfassen.
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아프리카지역 지식재산권기구(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
유라시아 특허청 (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
공개언어: 독일어 (DE)
출원언어: 독일어 (DE)