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1. (WO2019001098) METHODS AND SYSTEMS FOR IMPROVED QUALITY INSPECTION
국제사무국에 기록된 최신 서지정보    정보 제출

공개번호: WO/2019/001098 국제출원번호: PCT/CN2018/083352
공개일: 03.01.2019 국제출원일: 17.04.2018
IPC:
G01N 21/892 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
N
재료의 화학적 또는 물리적 성질의 검출에 의한 재료의 조사 또는 분석
21
광학적 수단, 즉 적외선, 가시광선, 또는 자외선을 사용하는 것에 의한 재료의 조사 또는 분석
84
특수한 적용에 특히 적합한 시스템
88
결함, 상처 또는 오염의 존재조사
89
움직이고 있는 재료 중에서, 예. 종이, 직물
892
조사되는 결함, 흠, 물체에 특징이 있는 것
출원인:
MIDEA GROUP CO., LTD. [CN/CN]; B26-28F, Midea Headquarter Building, No. 6 Midea Avenue, Beijiao, Shunde Foshan, Guangdong 528311, CN
발명자:
WANG, Dongyan; US
GU, Haisong; US
대리인:
CHINA PAT INTELLECTUAL PROPERTY OFFICE; 2nd Floor, Zhongguancun Intellectual Property Building, Block B, No. 21 Haidian South Road Haidian District Beijing 100080, CN
우선권 정보:
15/633,44326.06.2017US
발명의 명칭: (EN) METHODS AND SYSTEMS FOR IMPROVED QUALITY INSPECTION
(FR) PROCÉDÉS ET SYSTÈMES D'INSPECTION DE QUALITÉ AMÉLIORÉE
요약서:
(EN) A method of identifying product defects on a production line includes receiving data from a plurality of edge devices monitoring a product on a production line for product defects. The data includes unique perspectives of the product captured by the edge devices. The method further includes generating an overall view of the product by merging each unique perspective of the product captured by respective edge devices of the plurality, and comparing the overall view with characteristic (s) of the product. Based on the comparing, the method further includes determining whether a degree of difference between the overall view and the characteristic (s) satisfies one or more criteria, and upon determining that the degree of difference between the overall view and the characteristic (s) satisfies at least one criterion of the one or more criteria, recording and reporting a defect associated with the product according to the difference between the view and the characteristic (s).
(FR) La présente invention concerne un procédé d'identification des défauts d'un produit sur une ligne de production, le procédé comprenant la réception de données provenant d'une pluralité de dispositifs périphériques surveillant un produit sur une ligne de production pour des défauts de produit. Les données comprennent des perspectives uniques du produit capturées par les dispositifs périphériques. Le procédé comprend en outre la génération d'une vue globale du produit par la fusion de chaque perspective unique du produit capturées par des dispositifs périphériques respectifs de la pluralité, et la comparaison de la vue globale avec une ou plusieurs caractéristiques du produit. Sur la base de la comparaison, le procédé consiste en outre à déterminer si un degré de différence entre la vue globale et la ou les caractéristiques satisfait un ou plusieurs critères et, quand il est déterminé que le degré de différence entre la vue globale et la ou les caractéristiques satisfait au moins un critère parmi le ou les critères, à enregistrer et à signaler un défaut associé au produit en fonction de la différence entre la vue et la ou les caractéristiques.
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지정국: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
아프리카지역 지식재산권기구(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
유라시아 특허청 (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
유럽 특허청(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
공개언어: 영어 (EN)
출원언어: 영어 (EN)