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1. (WO2018223331) SYSTEMS AND METHODS FOR TEXT ATTRIBUTE DETERMINATION USING CONDITIONAL RANDOM FIELD MODEL
국제사무국에 기록된 최신 서지정보    정보 제출

공개번호: WO/2018/223331 국제출원번호: PCT/CN2017/087572
공개일: 13.12.2018 국제출원일: 08.06.2017
IPC:
G06F 17/30 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
06
산술논리연산; 계산; 계수
F
전기에 의한 디지털 데이터처리
17
디지털 컴퓨팅 또는 데이터 프로세싱 장비, 방법으로서 특정 기능을 위해 특히 적합한 형태의 것
30
정보검색; 이를 위한 데이터베이스 구조
출원인:
BEIJING DIDI INFINITY TECHNOLOGY AND DEVELOPMENT CO., LTD. [CN/CN]; Building 34, No. 8 Dongbeiwang West Road Haidian District Beijing 100193, CN
발명자:
DAI, Dapan; CN
SONG, Qi; CN
대리인:
METIS IP (CHENGDU) LLC; (No. 846 South Tianfu Road) Tianfu Innovation Center Chengdu, Sichuan 610213, CN
우선권 정보:
발명의 명칭: (EN) SYSTEMS AND METHODS FOR TEXT ATTRIBUTE DETERMINATION USING CONDITIONAL RANDOM FIELD MODEL
(FR) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS DE DÉTERMINATION D'ATTRIBUT DE TEXTE À L'AIDE D'UN MODÈLE DE CHAMP ALÉATOIRE CONDITIONNEL
요약서:
(EN) A system and method for determining an attribute for each of the one or more subsets of a text, the method comprising: receiving a query from a terminal device (505); extracting a text from the query (510); determining one or more subsets of the text (520); obtaining a trained conditional random field (CRF) model (530); and determining an attribute for each of the one or more subsets of the text based on the CRF model and the each of the one or more subsets of the text (540).
(FR) L'invention concerne un système et un procédé pour déterminer un attribut pour chacun du ou des sous-ensemble d'un texte, le procédé comprenant : recevoir une requête provenant d'un dispositif de terminal (505) ; extraire un texte à partir de la requête (510) ; déterminer un ou plusieurs sous-ensembles du texte (520) ; obtenir un modèle de champ aléatoire conditionnel (CRF) entraîné (530) ; et déterminer un attribut pour chacun du ou des sous-ensembles du texte sur la base du modèle CRF et de chacun du ou des sous-ensembles du texte (540).
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아프리카지역 지식재산권기구(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
유라시아 특허청 (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
유럽 특허청(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
공개언어: 영어 (EN)
출원언어: 영어 (EN)