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1. (WO2018220714) STORAGE SYSTEM AND METHOD OF CONTROLLING MEMORY DEVICE
국제사무국에 기록된 최신 서지정보    정보 제출

공개번호: WO/2018/220714 국제출원번호: PCT/JP2017/020099
공개일: 06.12.2018 국제출원일: 30.05.2017
IPC:
G06F 12/16 (2006.01) ,G06F 11/00 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
06
산술논리연산; 계산; 계수
F
전기에 의한 디지털 데이터처리
12
메모리 시스템 또는 아키텍쳐 내에서 액세스, 어드레스 지정 또는 할당(정보기억 일반 G11)
16
메모리 컨텐츠의 유실에 대한 보호
G SECTION G — 물리학
06
산술논리연산; 계산; 계수
F
전기에 의한 디지털 데이터처리
11
에러 검출; 에러 정정; 감시
출원인:
株式会社日立製作所 HITACHI, LTD. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内一丁目6番6号 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280, JP
발명자:
水島 永雅 MIZUSHIMA, Nagamasa; JP
鈴木 彬史 SUZUKI, Akifumi; JP
小関 英通 KOSEKI, Hideyuki; JP
대리인:
特許業務法人ウィルフォート国際特許事務所 WILLFORT INTERNATIONAL PATENT FIRM; 東京都中央区日本橋小網町19-7 日本橋TCビル 1階 Nihonbashi TC Bldg. 1F, 19-7, Nihonbashi Koamicho, Chuo-ku, Tokyo 1030016, JP
우선권 정보:
발명의 명칭: (EN) STORAGE SYSTEM AND METHOD OF CONTROLLING MEMORY DEVICE
(FR) SYSTÈME DE MÉMOIRE ET PROCÉDÉ DE COMMANDE DE DISPOSITIF DE MÉMOIRE
(JA) ストレージ装置およびメモリデバイス制御方法
요약서:
(EN) At least one of a plurality of nonvolatile semiconductor memory devices is assumed to be a nonvolatile semiconductor memory device (hereafter, a first memory device) that is in a low power consumption state in which an error inspection process and a refresh process cannot be performed. A storage system deactivates the low power consumption state of the first memory device with timing that conforms to an elapsed time since the first memory device was placed into the low power consumption state and the estimated ambient temperature of the first memory device at the elapsed time. When the low power consumption state is deactivated, the first memory device executes an error inspection process and a refresh process.
(FR) Selon la présente invention, au moins un d'une pluralité de dispositifs de mémoire à semi-conducteurs non volatiles est supposé être un dispositif de mémoire à semi-conducteurs non volatile (ci-après, un premier dispositif de mémoire) qui est dans un état de faible consommation d'énergie dans lequel un processus d'inspection d'erreur et un processus de rafraîchissement ne peuvent pas être effectués. Un système de mémoire désactive l'état de faible consommation d'énergie du premier dispositif de mémoire à l'aide d'une temporisation qui répond à une durée écoulée depuis que le premier dispositif de mémoire a été placé dans l'état de faible consommation d'énergie et à la température ambiante estimée du premier dispositif de mémoire une fois la durée écoulée. Lorsque l'état de faible consommation d'énergie est désactivé, le premier dispositif de mémoire exécute un processus d'inspection d'erreur et un processus de rafraîchissement.
(JA) 複数の不揮発性半導体メモリデバイスの少なくとも1つが、誤り検査処理およびリフレッシュ処理を行うことができない低消費電力状態の不揮発性半導体メモリデバイス(以下、第1のメモリデバイス)であるとする。ストレージ装置は、第1のメモリデバイスが低消費電力状態にされてからの経過時間と、その経過時間における第1のメモリデバイスの推定周辺温度とに従うタイミングで、第1のメモリデバイスの低消費電力状態を解除する。第1のメモリデバイスは、低消費電力状態が解除された場合、誤り検査処理およびリフレッシュ処理を実行する。
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공개언어: 일본어 (JA)
출원언어: 일본어 (JA)