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1. (WO2018220328) CALIBRATION OF OPTICAL DEVICES FOR ANALYSIS OF GLAZING QUALITY AND RELATED METHODS
국제사무국에 기록된 최신 서지정보    정보 제출

공개번호: WO/2018/220328 국제출원번호: PCT/FR2018/051250
공개일: 06.12.2018 국제출원일: 31.05.2018
IPC:
G01N 21/27 (2006.01) ,G01N 21/896 (2006.01) ,G01N 21/23 (2006.01) ,G01N 21/958 (2006.01) ,C03B 35/16 (2006.01) ,G01B 11/16 (2006.01) ,G01L 1/24 (2006.01) ,G01N 21/21 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
N
재료의 화학적 또는 물리적 성질의 검출에 의한 재료의 조사 또는 분석
21
광학적 수단, 즉 적외선, 가시광선, 또는 자외선을 사용하는 것에 의한 재료의 조사 또는 분석
17
조사될 재료의 특성에 따라 입사광이 변조되는 시스템
25
색; 스펙트럼특성, 즉 둘 또는 그이상의 파장 혹은 파장대에 있어서 재료가 빛에 주는 효과의 비교
27
광전검출기의 이용
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
N
재료의 화학적 또는 물리적 성질의 검출에 의한 재료의 조사 또는 분석
21
광학적 수단, 즉 적외선, 가시광선, 또는 자외선을 사용하는 것에 의한 재료의 조사 또는 분석
84
특수한 적용에 특히 적합한 시스템
88
결함, 상처 또는 오염의 존재조사
89
움직이고 있는 재료 중에서, 예. 종이, 직물
892
조사되는 결함, 흠, 물체에 특징이 있는 것
896
투과성 물질 내 또는 상에서의 광학적 결함, 예 왜곡, 표면결함
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
N
재료의 화학적 또는 물리적 성질의 검출에 의한 재료의 조사 또는 분석
21
광학적 수단, 즉 적외선, 가시광선, 또는 자외선을 사용하는 것에 의한 재료의 조사 또는 분석
17
조사될 재료의 특성에 따라 입사광이 변조되는 시스템
21
편광에 영향을 미치는 특성
23
복굴절
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
N
재료의 화학적 또는 물리적 성질의 검출에 의한 재료의 조사 또는 분석
21
광학적 수단, 즉 적외선, 가시광선, 또는 자외선을 사용하는 것에 의한 재료의 조사 또는 분석
84
특수한 적용에 특히 적합한 시스템
88
결함, 상처 또는 오염의 존재조사
95
조사되는 물체의 재질 또는 형상에 특징이 있는 것
958
투과성 물질의 검사
C SECTION C — 화학; 야금
03
유리; 광물 또는 슬래그울(Slag Wool)
B
제조, 성형 또는 보조공정
35
유리제품의 그 제조 중 이송
14
고온판유리의 이송
16
롤러컨베이어에 의한 것
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
B
길이, 두께 또는 유사한 직선치의 측정; 각도의 측정; 면적의 측정; 표면 또는 윤곽의 불규칙성 측정
11
광학적 수단의 사용에 의해서 특징 지워진 측정장치
16
고체의 변형측정용, 예. 광학적 변형 게이지(strain gauge)
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
L
힘, 토오크, 일, 기계적 동력, 기계적 효율 또는 유체압력의 측정
1
힘 또는 응력의 측정일반
24
압력이 가해질 때의 물질의 광학적 특성의 변화를 측정하는 것, 예. 광탄성(photoelastic) 응력 분석에 의한 것
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
N
재료의 화학적 또는 물리적 성질의 검출에 의한 재료의 조사 또는 분석
21
광학적 수단, 즉 적외선, 가시광선, 또는 자외선을 사용하는 것에 의한 재료의 조사 또는 분석
17
조사될 재료의 특성에 따라 입사광이 변조되는 시스템
21
편광에 영향을 미치는 특성
출원인:
SAINT-GOBAIN GLASS FRANCE [FR/FR]; 18 Avenue d'Alsace 92400 COURBEVOIE, FR
발명자:
DECOURCELLE, Romain; FR
DUMOULIN, Olivier; FR
RYBARCZYK, Théo; FR
대리인:
SAINT-GOBAIN RECHERCHE; Département Propriété Industrielle - 39 Quai Lucien Lefranc 93300 AUBERVILLIERS, FR
우선권 정보:
175479931.05.2017FR
발명의 명칭: (EN) CALIBRATION OF OPTICAL DEVICES FOR ANALYSIS OF GLAZING QUALITY AND RELATED METHODS
(FR) CALIBRATION DES DISPOSITIFS OPTIQUES POUR L'ANALYSE DE QUALITE D'UN VITRAGE ET PROCEDES ASSOCIES
요약서:
(EN) The present application discloses an optical device (1000, 1001, 1002) comprising a first polariscope, a set of first photodetectors (6. 6') and an optical delay generator (3). The present application also discloses a device (2001,2002, 2003) for analysing the quality of glazing, a heating and tempering line, and production, calibration and quality analysis methods.
(FR) La présente demande divulgue un dispositif optique (1000, 1001, 1002) comprenant un premier polariscope, un ensemble de premiers photodétecteurs (6, 6') et un générateur de retards optiques (3). La présente demande divulgue également un dispositif d'analyse de la qualité (2001, 2002, 2003) d'un vitrage, une ligne de chauffage et de trempe, et des procédés de fabrication, de calibration et d'analyse de qualité.
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아프리카지역 지식재산권기구(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
유라시아 특허청 (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
유럽 특허청(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
공개언어: 프랑스어 (FR)
출원언어: 프랑스어 (FR)