이 애플리케이션의 일부 콘텐츠는 현재 사용할 수 없습니다.
이 상황이 계속되면 다음 주소로 문의하십시오피드백 및 연락
1. (WO2018180900) DETECTOR, SURFACE PROPERTY MEASUREMENT INSTRUMENT, AND ROUNDNESS MEASUREMENT INSTRUMENT
국제사무국에 기록된 최신 서지정보정보 제출

공개번호: WO/2018/180900 국제출원번호: PCT/JP2018/011450
공개일: 04.10.2018 국제출원일: 22.03.2018
국제예비심사 청구일: 05.07.2018
IPC:
G01B 5/012 (2006.01) ,G01B 5/016 (2006.01) ,G01B 5/20 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
B
길이, 두께 또는 유사한 직선치의 측정; 각도의 측정; 면적의 측정; 표면 또는 윤곽의 불규칙성 측정
5
기계적 수단의 사용에 의하여 특징 지워진 측정장치
004
점의 좌표 측정을 위한 것
008
좌표 측정기를 이용하는 것
012
접촉하는 필러 헤드(feeler head)에 의한 것
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
B
길이, 두께 또는 유사한 직선치의 측정; 각도의 측정; 면적의 측정; 표면 또는 윤곽의 불규칙성 측정
5
기계적 수단의 사용에 의하여 특징 지워진 측정장치
004
점의 좌표 측정을 위한 것
008
좌표 측정기를 이용하는 것
012
접촉하는 필러 헤드(feeler head)에 의한 것
016
접점의 구조적인 세부
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
B
길이, 두께 또는 유사한 직선치의 측정; 각도의 측정; 면적의 측정; 표면 또는 윤곽의 불규칙성 측정
5
기계적 수단의 사용에 의하여 특징 지워진 측정장치
20
윤곽 또는 곡률 측정용
출원인:
株式会社東京精密 TOKYO SEIMITSU CO., LTD. [JP/JP]; 東京都八王子市石川町2968-2 2968-2, Ishikawa-machi, Hachioji-shi, Tokyo 1928515, JP
발명자:
森井 秀樹 MORII, Hideki; JP
대리인:
松浦 憲三 MATSUURA, Kenzo; JP
우선권 정보:
2017-06138727.03.2017JP
발명의 명칭: (EN) DETECTOR, SURFACE PROPERTY MEASUREMENT INSTRUMENT, AND ROUNDNESS MEASUREMENT INSTRUMENT
(FR) DÉTECTEUR, INSTRUMENT DE MESURE DE PROPRIÉTÉ DE SURFACE ET INSTRUMENT DE MESURE DE RONDEUR
(JA) 検出器、表面性状測定機、及び真円度測定機
요약서:
(EN) Provided are a detector, surface property measurement instrument, and roundness measurement instrument for addressing the problem of automatically measuring a plurality of surfaces and reducing the time required for the measurement. This problem is addressed by a detector provided with a stylus for supporting a contact for touching the surface of an object of measurement, a holding part for holding the stylus, a measurement part for holding the holding part such that the same can freely pivot around a rotation axis and for detecting the displacement of the holding part, and a body part for accommodating the measurement part, wherein the holding part holds the stylus such that a stylus axis, which is the axis of the stylus, and a body axis, which is the axis of the body, are parallel and the stylus axis and body axis are offset in a first direction orthogonal to the body axis and rotation axis.
(FR) La présente invention concerne un détecteur, un instrument de mesure de propriété de surface et un instrument de mesure de rondeur permettant d'aborder le problème de la mesure automatique d'une pluralité de surfaces et de réduire le temps requis pour la mesure. Ledit problème est résolu par un détecteur pourvu d'un stylet destiné à supporter un contact pour toucher la surface d'un objet de mesure, d'une partie de maintien pour maintenir le stylet, d'une partie de mesure pour maintenir la partie de maintien de telle sorte qu'elle puisse pivoter librement autour d'un axe de rotation et pour détecter le déplacement de la partie de maintien, et d'un corps pour recevoir la partie de mesure, la partie de maintien maintenant le stylet de telle sorte qu'un axe de stylet, qui est l'axe du stylet, et un axe de corps, qui est l'axe du corps, soient parallèles et de telle sorte que l'axe du stylet et l'axe du corps soient décalés dans une première direction orthogonale à l'axe du corps et à l'axe de rotation.
(JA) 複数の面を自動的に測定し、測定に要する時間を短縮する検出器、表面性状測定機、及び真円度測定機を提供する。測定対象物の表面に接触する接触子を支持するスタイラスと、スタイラスを保持する保持部と、保持部を回転軸によって揺動自在に保持し、保持部の変位を検出する測定部と、測定部を収納する本体部と、を備え、保持部は、スタイラスの軸であるスタイラス軸と本体部の軸である本体軸とを平行に、かつスタイラス軸と本体軸とを本体軸及び回転軸に直交する第1方向にオフセットしてスタイラスを保持する検出器によって上記課題を解決する。
front page image
지정국: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
아프리카지역 지식재산권기구(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
유라시아 특허청(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
유럽 특허청(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
아프리카 지식재산권기구(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
공개언어: 일본어 (JA)
출원언어: 일본어 (JA)