이 애플리케이션의 일부 콘텐츠는 현재 사용할 수 없습니다.
이 상황이 계속되면 다음 주소로 문의하십시오피드백 및 연락
1. (WO2018180442) INSPECTION SUPPORT DEVICE, INSPECTION SUPPORT METHOD, AND PROGRAM
국제사무국에 기록된 최신 서지정보정보 제출

공개번호: WO/2018/180442 국제출원번호: PCT/JP2018/009622
공개일: 04.10.2018 국제출원일: 13.03.2018
IPC:
G06T 7/00 (2017.01) ,E04G 21/00 (2006.01) ,E04G 21/12 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
06
산술논리연산; 계산; 계수
T
이미지 데이터 처리 또는 발생 일반
7
화상 분석, 예를 들면 비트맵으로부터 비비트맵 (non bit-mapped)으로
E SECTION E — 고정구조물
04
건축물
G
비계(飛階); 거푸집; 거푸집 널; 건축용 기구 또는 기타 건축용 보조구 또는 그것들의 사용; 현장에 있어서의 건축 재료의 취급; 현존하는 건축물의 보수, 해체 또는 기타 작업
21
현장에 있어서 건축 재료 또는 건축 요소의 준비, 반송(搬送) 또는 축조(築造); 건설 작업을 위한 기타 장치 또는 수단
E SECTION E — 고정구조물
04
건축물
G
비계(飛階); 거푸집; 거푸집 널; 건축용 기구 또는 기타 건축용 보조구 또는 그것들의 사용; 현장에 있어서의 건축 재료의 취급; 현존하는 건축물의 보수, 해체 또는 기타 작업
21
현장에 있어서 건축 재료 또는 건축 요소의 준비, 반송(搬送) 또는 축조(築造); 건설 작업을 위한 기타 장치 또는 수단
12
보강용 삽입물의 부착; 프리스트레스 작업
출원인:
オリンパス株式会社 OLYMPUS CORPORATION [JP/JP]; 東京都八王子市石川町2951番地 2951 Ishikawa-machi, Hachioji-shi, Tokyo 1928507, JP
鹿島建設株式会社 KAJIMA CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区元赤坂一丁目3番1号 3-1, Motoakasaka 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1078388, JP
발명자:
猪瀬 健二 INOSE, Kenji; JP
穐山 直之 AKIYAMA, Naoyuki; JP
森本 直樹 MORIMOTO, Naoki; JP
早川 博久 HAYAKAWA, Hirohisa; JP
平 陽兵 TAIRA, Yohei; JP
谷口 稔和 TANIGUCHI, Toshikazu; JP
대리인:
大菅 義之 OSUGA, Yoshiyuki; JP
우선권 정보:
2017-06943431.03.2017JP
발명의 명칭: (EN) INSPECTION SUPPORT DEVICE, INSPECTION SUPPORT METHOD, AND PROGRAM
(FR) DISPOSITIF DE PRISE EN CHARGE D’INSPECTION, PROCÉDÉ DE PRISE EN CHARGE D’INSPECTION ET PROGRAMME
(JA) 検査支援装置、検査支援方法及びプログラム
요약서:
(EN) An inspection support device that supports inspections pertaining to the framework of construction and civil engineering structures comprises: a three-dimensional-information acquisition unit 32 that acquires three-dimensional data about a structure that includes a plurality of planar surfaces formed in a framework; a plurality of planar surface detection units 34 that detect a plurality of first planar surfaces that include at least three points of three-dimensional data from the acquired three-dimensional data, and calculate the number of three-dimensional points at or below a prescribed distance from the first planar surface from among the three-dimensional data, for each detected first planar surface; and a front surface specification unit 36 that specifies, from among the plurality of detected first planar surfaces, a second planar surface positioned on the farthest-forward surface in the framework of the structure, on the basis of the calculated number of three-dimensional points.
(FR) Selon l’invention, un dispositif de prise en charge d’inspection, qui prend en charge des inspections se rapportant à une infrastructure de construction et à des structures d’ingénierie civile, comprend : une unité d’acquisition d’informations tridimensionnelles 32 qui acquiert des données tridimensionnelles liées à une structure qui inclut une pluralité de surfaces planes formées dans une infrastructure ; une pluralité d’unités de détection de surfaces planes 34 qui détectent une pluralité de premières surfaces planes qui incluent au moins trois points de données tridimensionnelles parmi les données tridimensionnelles acquises, et calculent le nombre de points tridimensionnels au niveau ou en dessous d’une distance prescrite de la première surface plane parmi les données tridimensionnelles, pour chaque première surface plane détectée ; et une unité de spécification de surface frontale 36 qui spécifie, parmi la pluralité de premières surfaces planes détectées, une seconde surface plane positionnée sur la surface la plus vers l’avant dans l’infrastructure de la structure, sur la base du nombre calculé de points tridimensionnels.
(JA) 建築及び土木の構造体の骨格に関する検査を支援する検査支援装置において、骨格で形成される複数の平面を含む前記構造体の3次元データを取得する三次元情報取得部32と、取得された三次元データから、三次元データを少なくとも3点含む第1の平面を複数検出し、検出された第1の平面毎に、前記三次元データの中から第1の平面との距離が所定以下となる3次元点の個数を算出する複数平面検出部34と、算出された前記三次元点の個数に基づいて、検出された複数の第1の平面の中から、構造体の骨格で最前面に位置する第2の平面を特定する前面特定部36を備える。
front page image
지정국: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
아프리카지역 지식재산권기구(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
유라시아 특허청(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
유럽 특허청(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
아프리카 지식재산권기구(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
공개언어: 일본어 (JA)
출원언어: 일본어 (JA)