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1. (WO2018166024) METHOD FOR MANUFACTURING TFT AND METHOD FOR MANUFACTURING ARRAY SUBSTRATE
국제사무국에 기록된 최신 서지정보    정보 제출

공개번호: WO/2018/166024 국제출원번호: PCT/CN2017/080406
공개일: 20.09.2018 국제출원일: 13.04.2017
IPC:
H01L 21/336 (2006.01) ,H01L 21/28 (2006.01) ,H01L 29/786 (2006.01) ,H01L 21/77 (2017.01) ,H01L 27/12 (2006.01)
H SECTION H — 전기
01
기본적 전기소자
L
반도체 장치; 다른 곳에 속하지 않는 전기적 고체 장치
21
반도체 장치 또는 고체 장치 또는 그러한 부품의 제조 또는 처리에 특별히 적용되는 방법 또는 장비
02
반도체장치 또는 그 부품의 제조나 처리
04
적어도 하나의 전위장벽 또는 표면장벽(예. PN접합, 공핍층, 캐리어 밀집층)을 갖는 장치
18
불순물(예, 도우핑 물질)을 포함하고 있거나 포함하지 않는 주기율표 제4족의 원소 또는 Ⅲ-Ⅴ족 화합물로 구성된 반도체본체를 갖는 장치
334
유니폴라(unipolar)형 장치를 제조하기 위한 다단계공정
335
전계효과 트랜지스터(FET)
336
절연게이트를 갖는 것
H SECTION H — 전기
01
기본적 전기소자
L
반도체 장치; 다른 곳에 속하지 않는 전기적 고체 장치
21
반도체 장치 또는 고체 장치 또는 그러한 부품의 제조 또는 처리에 특별히 적용되는 방법 또는 장비
02
반도체장치 또는 그 부품의 제조나 처리
04
적어도 하나의 전위장벽 또는 표면장벽(예. PN접합, 공핍층, 캐리어 밀집층)을 갖는 장치
18
불순물(예, 도우핑 물질)을 포함하고 있거나 포함하지 않는 주기율표 제4족의 원소 또는 Ⅲ-Ⅴ족 화합물로 구성된 반도체본체를 갖는 장치
28
21/20~ 21/268에 분류되지 않은 방법이나 장비를 이용한 반도체본체상의 전극 제조
H SECTION H — 전기
01
기본적 전기소자
L
반도체 장치; 다른 곳에 속하지 않는 전기적 고체 장치
29
정류, 증폭, 발진 또는 스위칭에 특별히 적용되는 반도체 장치이며, 적어도 1개의 전위 장벽 또는 표면 장벽을 가지는 것; 적어도 1개의 전위 장벽 또는 표면 장벽(예. PN접합 공핍층 또는 캐리어 집중층)을 가지는 캐패시터 또는 저항; 반도체 본체 또는 전극의 세부
66
반도체장치의 형(types)
68
정류, 증폭 또는 스위칭 되는 전류가 흐르지 않는 하나의 전극에 단지 전위를 부여하거나, 단지 전류을 제공하는 것만으로 제어되는 것
76
유니폴라(unipolar) 장치
772
전계 효과 트랜지스터
78
절연된 게이트에 의해 발생되는 전계효과를 갖는 것
786
박막트랜지스터(thin-film transistors)
H SECTION H — 전기
01
기본적 전기소자
L
반도체 장치; 다른 곳에 속하지 않는 전기적 고체 장치
21
반도체 장치 또는 고체 장치 또는 그러한 부품의 제조 또는 처리에 특별히 적용되는 방법 또는 장비
70
하나의 공통기판상 또는 기판내에 형성된 복수의 고체구성부품 또는 집적회로로 이루어진 장치 그에 대한 특정부품의 제조 또는 처리; 집적회로장치 또는 그에 대한 특정부품의 제조.
77
하나의 공통기판상 혹은 기판내에 형성된 복수의 고체구성부품 또는 집적회로로 이루어진 장치의 제조 또는 처리
H SECTION H — 전기
01
기본적 전기소자
L
반도체 장치; 다른 곳에 속하지 않는 전기적 고체 장치
27
하나의 공통기판내 또는 기판상에 형성된 복수의 반도체구성부품 또는 기타 고체구성부품으로 구성된 장치
02
정류, 발진, 증폭 또는 스위칭에 특별히 적용되는 반도체 구성부품을 포함하고 적어도 하나의 전위 장벽 또는 표면 장벽을 가지는 것; 적어도 하나의 전위 장벽 또는 표면 장벽을 가지는 집적화 된 수동 회로 소자를 포함하는 것
12
기판이 반도체 이외의 것, 예. 절연체
출원인:
深圳市华星光电技术有限公司 SHENZHEN CHINA STAR OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; 中国广东省深圳市 光明新区塘明大道9-2号 No. 9-2, Tangming Rd, Guangming New District Shenzhen, Guangdong 518132, CN
발명자:
蔡小龙 CAI, Xiaolong; CN
대리인:
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) CHINA WISPRO INTELLECTUAL PROPERTY LLP.; 中国广东省深圳市 南山区高新区粤兴三道8号中国地质大学产学研基地中地大楼A806 Room A806 Zhongdi Building, China University of Geosciences Base, No. 8 Yuexing 3rd Road, High-Tech Industrial Estate, Nanshan District Shenzhen, Guangdong 518057, CN
우선권 정보:
201710153568.015.03.2017CN
발명의 명칭: (EN) METHOD FOR MANUFACTURING TFT AND METHOD FOR MANUFACTURING ARRAY SUBSTRATE
(FR) PROCÉDÉ DE FABRICATION DE TRANSISTOR À COUCHES MINCES ET PROCÉDÉ DE FABRICATION DE SUBSTRAT DE MATRICE
(ZH) TFT的制造方法及阵列基板的制造方法
요약서:
(EN) A method for manufacturing a TFT and a method for manufacturing an array substrate. The method comprises: forming, on a base substrate (20), transfer layers (212) that are provided alternately at intervals; forming, on the transfer layers, a metal layer (22) covering the base substrate; and carrying out a DIW demoulding process on the transfer layers, so as to strip the transfer layers and the metal layer above same from the base substrate, and keeping the metal layer, not provided above the transfer layers, on the base substrate, so as to form a metal electrode (23) of the TFT.
(FR) L’invention concerne un procédé de fabrication d’un transistor à couches minces et un procédé de fabrication d’un substrat de matrice. Le procédé consiste à : former, sur un substrat de base (20), des couches de transfert (212) qui sont disposées en alternance à intervalles ; former, sur les couches de transfert, d'une couche métallique (22) recouvrant le substrat de base ; et réaliser un processus de démoulage DIW sur les couches de transfert, de manière à dénuder les couches de transfert et la couche métallique au-dessus de celles-ci à partir du substrat de base, et conserver la couche métallique, non disposée au-dessus des couches de transfert, sur le substrat de base, de manière à former une électrode métallique (23) du transistor à couches minces.
(ZH) 一种TFT的制造方法及阵列基板的制造方法。在衬底基材(20)上形成交错间隔设置的中转层(212);在中转层上形成覆盖衬底基材的金属层(22);对中转层进行DIW脱膜制程,以将中转层及其上方的金属层从衬底基材上剥离,而未设置在中转层上方的金属层保留在衬底基材上而形成TFT的金属电极(23)。
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공개언어: 중국어 (ZH)
출원언어: 중국어 (ZH)