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1. (WO2018161144) AIRCRAFT STATIC TEST FOR PITOT STATIC SYSTEM
국제사무국에 기록된 최신 서지정보

공개번호: WO/2018/161144 국제출원번호: PCT/CA2017/050325
공개일: 13.09.2018 국제출원일: 10.03.2017
IPC:
G01P 21/00 (2006.01) ,B64F 5/60 (2017.01) ,G01C 25/00 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
P
직선속도, 각속도, 가속도, 감속도 또는 충격의 측정; 운동의 유무; 운동의 방향 지시
21
이 서브클래스의 다른 그룹에 포함되는 장치 또는 기구의 시험 혹는 교정
[IPC code unknown for B64F 5/60]
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
C
자이로스코프; 진동질량을 가지는 회전-감응 장치 ; 운동질량이 없는 회전-감응 장치; 자이로스코프 효과를 이용한 각속도의 측정
25
이 서브클래스의 다른 그룹에 관련된 계기 및 장치의 제조, 교정, 청소, 수리
출원인:
NAV-AIDS LTD [CA/CA]; 2955 rue Diab Montréal, Québec H4S 1M1, CA
발명자:
GILDAY, Brent Duncan; CA
SINNOTT, Van Jean; CA
대리인:
ANGLEHART ET AL.; 1939 de Maisonneuve Ouest Montreal, Québec H3H 1K3, CA
ANGLEHART, James; CA
우선권 정보:
발명의 명칭: (EN) AIRCRAFT STATIC TEST FOR PITOT STATIC SYSTEM
(FR) TEST STATIQUE D’AÉRONEF POUR SYSTÈME STATIQUE DE PITOT
요약서:
(EN) An aircraft static test adapter assembly comprising a static test head for performing testing at an aircraft static port on an aircraft body. The static test head is biased, and optionally supported by a biasing member extending in use from the static test head to the ground. A biasing mechanism provides a biasing force to the biasing member which is transferred by the biasing member to the static test head such that it is held in place. Abstract not intended to be limiting.
(FR) L’invention concerne un ensemble adaptateur de test statique d’aéronef comprenant une tête de test statique servant à effectuer des tests au niveau d’un port statique d’aéronef d’un corps d’aéronef. La tête de test statique est sollicitée, et éventuellement supportée par un élément de sollicitation s’étendant lors de l’utilisation entre la tête de test statique et le sol. Un mécanisme de sollicitation fournit une force de sollicitation à l’élément de sollicitation, qui est transférée par l’élément de sollicitation sur la tête de test statique de façon à la maintenir en place. Cet abrégé n’est pas destiné à être limitatif.
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지정국: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
아프리카지역 지식재산권기구(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
유라시아 특허청(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
유럽 특허청(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
아프리카 지식재산권기구(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
공개언어: 영어 (EN)
출원언어: 영어 (EN)