이 애플리케이션의 일부 콘텐츠는 현재 사용할 수 없습니다.
이 상황이 계속되면 다음 주소로 문의하십시오피드백 및 연락
1. (WO2018141917) METHOD FOR DIMENSIONAL X-RAY MEASUREMENT, IN PARTICULAR BY COMPUTED TOMOGRAPHY, AND X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY SCANNER
국제사무국에 기록된 최신 서지정보    정보 제출

공개번호: WO/2018/141917 국제출원번호: PCT/EP2018/052686
공개일: 09.08.2018 국제출원일: 02.02.2018
IPC:
G06T 5/00 (2006.01) ,G06T 11/00 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
06
산술논리연산; 계산; 계수
T
이미지 데이터 처리 또는 발생 일반
5
화상 증진 또는 복원, 예. 비트맵으로부터 비슷한 화상을 생성하는 비트맵으로
G SECTION G — 물리학
06
산술논리연산; 계산; 계수
T
이미지 데이터 처리 또는 발생 일반
11
이차원 (2D) 화상 생성
출원인:
BUNDESREPUBLIK DEUTSCHLAND, vertreten durch das BUNDESMINISTERIUM FÜR WIRTSCHAFT UND ENERGIE, dieses vertreten durch den PRÄSIDENTEN DER PHYSIKALISCH-TECHNISCHEN BUNDESANSTALT [DE/DE]; Bundesallee 100 38116 Braunschweig, DE
발명자:
ILLEMANN, Jens; DE
BARTSCHER, Markus; DE
대리인:
GRAMM, LINS & PARTNER PATENT- UND RECHTSANWÄLTE PARTGMBB; Theodor-Heuss-Straße 1 38122 Braunschweig, DE
우선권 정보:
10 2017 102 254.606.02.2017DE
발명의 명칭: (EN) METHOD FOR DIMENSIONAL X-RAY MEASUREMENT, IN PARTICULAR BY COMPUTED TOMOGRAPHY, AND X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY SCANNER
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE DIMENSIONNELLE PAR RAYONS X, EN PARTICULIER PAR TOMODENSITOMÉTRIE ET TOMODENSITOMÈTRE À RAYONS X
(DE) VERFAHREN ZUM DIMENSIONELLEN RÖNTGENOGRAPHISCHEN MESSEN, INSBESONDERE MITTELS COMPUTERTOMOGRAPHIE, UND RÖNTGEN-COMPUTERTOMOGRAPH
요약서:
(EN) The invention relates to a method for dimensional x-ray measurement, in particular by computed tomography, having the steps (a) irradiating a test object (26) with non-monochromatic x-ray radiation from a virtually punctiform x-ray source (12), (b) measuring the intensity (I) of the x-ray radiation (22) in the radiation path behind the test object (26) by means of a detector (14) which has a plurality of pixels (P) to obtain pixel-dependent intensity data (I(P)), and (c) calculating at least one dimension (H) of the test object (26) using the pixel-dependent intensity data (I(P)). According to the invention, the pixel-dependent intensity data (I(P)) are corrected by the influence of an effective penetration depth (τ) on the detector (14) and/or of a displacement of the effective source location (Q) on a target (20) of the x-ray source (12).
(FR) La présente invention concerne un procédé de mesure dimensionnelle par rayons X, en particulier par tomodensitométrie, comprenant les étapes consistant à : (a) irradier un objet d'essai (26) par des rayons X non-monochromatiques d'une source de rayons X (12) en forme de quasi-point ; (b) mesurer l'intensité (I) des rayons X (22) dans le trajet du rayonnement derrière l'objet d'essai (26) au moyen d'un détecteur (14), lequel comporte une pluralité de pixels (P), de telle sorte que les données d'intensité dépendant du pixel (l (P)) sont obtenus ; et (c) calculer au moins une dimension (H) de l'objet d'essai (26) à l'aide des données d'intensité dépendant du pixel (I(P)). Selon l'invention, les données d'intensité dépendant du pixel (l(p)) sont corrigées en fonction de l'influence d'une profondeur de pénétration (τ) effective sur le détecteur (14) et/ou d'un déplacement de l'emplacement de la source (Q) effectif par rapport à une cible (20) de la source de rayons X (12).
(DE) Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum dimensioneilen röntgenographischen Messen, insbesondere mittels Computertomographie, mit den Schritten (a) Bestrahlen eines Prüflings (26) mit nicht-monochromatischer Röntgenstrahlung einer quasi-punktförmigen Röntgenquelle (12), (b) Messen von Intensität (I) der Röntgenstrahlung (22) im Strahlungspfad hinter dem Prüfling (26) mittels eines Detektors (14), der eine Vielzahl an Pixeln (P) aufweist, sodass pixelabhängige Intensitätsdaten (l(P)) erhalten werden, und (c) Berechnen zumindest einer Abmessung (H) des Prüflings (26) anhand der pixelabhängigen Intensitätsdaten (l(P)). Erfindungsgemäß ist vorgesehen, dass die pixelabhängigen Intensitätsdaten (l(P)) um den Einfluss einer effektiven Eindringtiefe (τ) auf dem Detektor (14) und/oder einer Verschiebung des effektiven Quellorts (Q) auf einem Target (20) der Röntgenquelle (12) korrigiert werden.
front page image
지정국: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
아프리카지역 지식재산권기구(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
유라시아 특허청 (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
유럽 특허청(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
공개언어: 독일어 (DE)
출원언어: 독일어 (DE)